JIS C5 電子機器及び電気機械などの日本産業規格の一覧表。JIS検索 JISコード・規格情報・ISO関連規格・測定・試験用機器用具,材料,電線・ケーブル・電路用品,電気機械器具,通信機器・電子機器・部品,電球・照明器具・配線器具・電池,家電製品等。
JIS C 5101-9-1:2008
電子機器用固定コンデンサ―第９－１部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類２ 評価水準ＥＺ
JIS C 5160-2-1:2009
電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第２－１部：ブランク個別規格―パワー用電気二重層コンデンサ―評価水準ＥＺ
JIS C 5201-2-1:1998
電子機器用固定抵抗器―第２部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5201-4-1:1998
電子機器用固定抵抗器―第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5201-5-1:1998
電子機器用固定抵抗器―第５部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5201-6-1:1999
電子機器用固定抵抗器―第６部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準Ｅ
JIS C 5201-8-1:2014
電子機器用固定抵抗器―第８－１部：ブランク個別規格：一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器，製品性能水準Ｇ
JIS C 5201-9-1:2006
電子機器用固定抵抗器―第９－１部：ブランク個別規格：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器―評価水準ＥＺ
JIS C 5260-2-1:2000
電子機器用可変抵抗器―第２部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5260-2-2:2000
電子機器用可変抵抗器―第２部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準Ｆ
JIS C 5260-3-1:2000
電子機器用可変抵抗器―第３部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5260-4-1:2000
電子機器用可変抵抗器―第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5260-4-2:2000
電子機器用可変抵抗器―第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準Ｆ
JIS C 5260-5-1:2000
電子機器用可変抵抗器―第５部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Ｅ
JIS C 5260-5-2:2000
電子機器用可変抵抗器―第５部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Ｆ
JIS C 5381-11:2014
低圧サージ防護デバイス―第１１部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
JIS C 5381-12:2014
低圧サージ防護デバイス―第１２部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準
JIS C 5381-21:2014
低圧サージ防護デバイス―第２１部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（ＳＰＤ）の要求性能及び試験方法
JIS C 5381-22:2018
低圧サージ防護デバイス―第２２部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（ＳＰＤ）の選定及び適用基準
JIS C 5381-31:2020
低圧サージ防護デバイス―第３１部：太陽電池設備の直流側に接続するサージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
JIS C 5381-32:2020
低圧サージ防護デバイス―第３２部：太陽電池設備の直流側に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準
JIS C 5402-1-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１部：一般試験―試験１ａ：外観
JIS C 5402-1-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－２部：一般試験―試験１ｂ：寸法及び質量
JIS C 5402-1-3:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－３部：一般検査―試験１ｃ：電気的接触長
JIS C 5402-1-4:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－４部：一般検査―試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）
JIS C 5402-2-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－１部：導通及び接触抵抗試験―試験２ａ：接触抵抗―ミリボルトレベル法
JIS C 5402-2-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－２部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｂ：接触抵抗―規定電流法
JIS C 5402-2-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－３部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｃ：接触抵抗の変動
JIS C 5402-2-5:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－５部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｅ：コンタクトディスターバンス
JIS C 5402-2-6:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－６部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｆ：ハウジング（シェル）の導通性