JIS C5 電子機器及び電気機械などの日本産業規格の一覧表。JIS検索 JISコード・規格情報・ISO関連規格・測定・試験用機器用具,材料,電線・ケーブル・電路用品,電気機械器具,通信機器・電子機器・部品,電球・照明器具・配線器具・電池,家電製品等。
JIS C 5402-3-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第３－１部：絶縁試験―試験３ａ：絶縁抵抗
JIS C 5402-4-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－１部：電圧ストレス試験―試験４ａ：耐電圧
JIS C 5402-4-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－２部：電圧ストレス試験―試験４ｂ：部分放電
JIS C 5402-4-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－３部：電圧ストレス試験―試験４ｃ：耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル）
JIS C 5402-5-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第５－１部：電流容量試験―試験５ａ：温度上昇
JIS C 5402-5-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第５－２部：電流容量試験―試験５ｂ：電流・温度の軽減
JIS C 5402-6-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－１部：動的ストレス試験―試験６ａ：加速度（定常）
JIS C 5402-6-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－２部：動的ストレス試験―試験６ｂ：バンプ
JIS C 5402-6-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－３部：動的ストレス試験―試験６ｃ：衝撃
JIS C 5402-6-4:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－４部：動的ストレス試験―試験６ｄ：正弦波振動
JIS C 5402-7-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第７－１部：衝撃試験（可動形コネクタ）―試験７ａ：自由落下（繰返し）
JIS C 5402-7-2:2019
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第７－２部：衝撃試験（可動形コネクタ）―試験７ｂ：機械的衝撃強さ
JIS C 5402-8-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第８－１部：静的な力試験（固定形コネクタ）―試験８ａ：静的な力，横方向
JIS C 5402-8-2:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第８－２部：静的な力試験（固定形コネクタ）―試験８ｂ：静的な力，軸方向
JIS C 5402-8-3:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第８－３部：静的な力試験（固定形コネクタ）―試験８ｃ：操作レバーの強度
JIS C 5402-9-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第９－１部：耐久試験―試験９ａ：機械的動作
JIS C 5402-9-2:2019
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第９－２部：耐久試験―試験９ｂ：電気的負荷及び温度
JIS C 5630-12:2014
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１２部：ＭＥＭＳ構造体の共振振動を用いた薄膜材料の曲げ荷重疲労試験方法
JIS C 5630-13:2014
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１３部：ＭＥＭＳ構造体のための曲げ及びせん断試験による接合強度試験方法
JIS C 5630-18:2014
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１８部：薄膜曲げ試験方法
JIS C 5630-19:2014
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１９部：電子コンパス
JIS C 5630-20:2015
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第２０部：小型ジャイロ
JIS C 5630-26:2017
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第２６部：マイクロトレンチ構造及びマイクロニードル構造の寸法，形状表示及び計測法
JIS C 5630-28:2020
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第２８部：ＭＥＭＳエレクトレット振動発電デバイスの性能試験方法
JIS C 5630-30:2020
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第３０部：ＭＥＭＳ圧電薄膜の電気機械的変換特性の測定方法
JIS C 5750-3-1:2006
ディペンダビリティ管理―第３－１部：適用の指針―ディペンダビリティ解析手法の指針
JIS C 5750-3-2:2008
ディペンダビリティ管理―第３－２部：適用の指針―フィールドからのディペンダビリティデータの収集
JIS C 5750-3-3:2008
ディペンダビリティ管理―第３－３部：適用の指針―ライフサイクル コスティング
JIS C 5750-3-4:2011
ディペンダビリティ マネジメント―第３－４部：適用の指針―ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針
JIS C 5750-3-5:2006
ディペンダビリティ管理―第３－５部：適用の指針―信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則