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ISO 16243:2011の概要
ISO16243:2011の規格概要
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Surface chemical analysis — Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
ISO 16243:2011は、X線光電子分光法 (XPS) を使用して試験片を分析した後、分析者が報告する情報の最小レベルを指定しています。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO16243:2011 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 16243:2011
- ISO 国際規格名称
- Surface chemical analysis — Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
- ISO 規格名称 日本語訳
- 表面化学分析— X線光電子分光法（XPS）でのデータの記録と報告
- 発行日 (Publication date)
- 2011-11-25
- 更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
- 2022-07-15
- 状態 (Status)
- 公開中,公開済み (Published)
- 改訂 (Edition)
- 1
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 9
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 201/SC 2：一般的手順 (General procedures)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
- ISO 対応 JIS 規格
- ICS 対応 JIS 規格
- ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40
ISO 16243:2011 関連規格 履歴一覧
ISO16243:2011 対応 JIS 規格一覧
ISO16243:2011 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71：化学技術 > 71.040：分析化学 > 71.040.40：化学分析
正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)
改訂 一覧 (Revised)
SDGs 情報
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 目標 9 産業、イノベーション、インフラストラクチャ (Industry, Innovation and Infrastructure)
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。
17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。