この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語、定義、記号および略語
3.1 用語と定義
この文書の目的上、ISO/IEC 14443-1, ISO/IEC 14443-2, ISO/IEC 14443-3, ISO/IEC 14443-4 および以下に示される用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1.1
基本標準
適合性を検証するために テスト方法 (3.1.8) が使用される規格
3.1.2
カスケードレベル
PICC のカスケード レベルの数
3.1.3
コマンドセット
初期化および衝突防止時の PICC コマンドを説明するセット
注記 1: PICC Type A については ISO/IEC 14443-3:2018, 6.4 を、PICC Type B については ISO/IEC 14443-3:2018, 7.5 を参照。
3.1.4
ローディング効果
PCD アンテナの共振と品質係数を変更する相互結合によるフィールド内の PICC の存在によって引き起こされる PCD アンテナ電流の変化
3.1.5
ミュート
指定されたタイムアウト内に応答がありません
例：
FWTの有効期限が切れます。
3.1.6
シナリオ
この文書で定義されている テスト方法 (3.1.8) で使用される、定義された典型的なプロトコルとアプリケーション固有の通信
3.1.7
初期状態をテストする
TIS
コマンド セット（3.1.3） からの特定の PICC コマンドを実行する前の PICC 状態である PICC 状態の要素
3.1.8
試験方法
国際規格への適合性を検証する目的で、範囲内のデバイスの特性をテストする方法
3.1.9
テストターゲットの状態
TTS
コマンド セット (3.1.3) の特定の PICC コマンドを実行した後の PICC 状態である PICC 状態の要素
3.2 記号と略語
この文書の目的上、ISO/IEC 14443-1, ISO/IEC 14443-2, ISO/IEC 14443-3, ISO/IEC 14443-4 および以下に示されている記号および略語が適用されます。
注:太字の大括弧 [ ] 内の要素はオプションです。
| ATTRIB(cid) への応答 | CID = cid による ATTRIB への応答 | ||
| 属性(cid, fsdi) | CID = cid, 最大フレーム サイズ コード値 = fsdi を指定した ATTRIB コマンド | ||
| ~CRC | 通信信号インターフェイスType A (CRC_A) またはType B (CRC_B) に関して無効な CRコマンドまたは応答定義に存在する場合、指定された CRC の代わりに送信されます。 | ||
| 試験対象 | テスト対象のデバイス。この文書の範囲内では、DUT はテスト対象の PICC を表します | ||
| I(c) n ( [ INF = inf ] [ ,CID = cid ] [ ,NAD = nad ] ) | ISO/IEC 14443-4 連鎖ビット c∈{1,0}、ブロック番号 n∈{1,0}、および情報フィールド INF を含む I ブロック。デフォルトでは、CID も NAD も送信されません。 CID = cid∈{0...15} を指定した場合、第 2 パラメータとして送信されます。 NAD = nad∈{0...'FF'} が指定された場合、それは 3 番目のパラメーター (CID が送信されない場合は 2 番目のパラメーター) として送信されます。 | ||
| IUT | テスト中の実装 (ISO/IEC 9646);この文書の範囲内では、IUT はテスト対象の PCD を表します | ||
| lt | Lower Teste, PCD テスト装置の PICC エミュレーション部分 | ||
| 該当なし | 適用できない | ||
| PPS(cid, dri, dsi) | CID = cid, DRI = dri, DSI = dsi の PPS リクエスト | ||
| ~プピ | 一致しない PUPコマンドまたは応答定義に存在する場合、指定された PUPI の代わりに送信されます。 | ||
| R(ACK [ ,CID = cid ] ) n | ブロック番号 n の ISO/IEC 14443-4 R(ACK) ブロック。オプションの CID シンボルの定義は、上記の I(c) n ブロックで説明されているとおりです。 | ||
| R(NAK [ ,CID = cid ] ) n | ブロック番号 n の ISO/IEC 14443-4 R(NAK) ブロック。オプションの CID シンボルの定義は、上記の I(c) n ブロックで説明されているとおりです。 | ||
| RATS(cid, fsdi) | CID = cid および FSDI 値 = fsdi を使用した RATS コマンド | ||
| 準備完了(私) | カスケード レベル I, I ∈{1, 2, 3} の READY 状態。たとえば、READY(2) は PICC カスケード レベル 2 です。 | ||
| 準備完了*(私) | カスケード レベル I, I ∈{1, 2, 3} の READY* 状態。たとえば、READY*(2) は PICC カスケード レベル 2 です。 | ||
| REQB(N) | ISO/IEC 14443-3:2018, 7.7 で定義されている N を含む REQB コマンド | ||
| S(WTX)(WTXM [ ,CID = cid ] ) | ISO/IEC 14443-4 S(WTX) ブロック (パラメータ WTXM)オプションの CID シンボルの定義は、上記の I(c) n ブロックで説明されているとおりです。 | ||
| S(DESELECT [ ,CID = cid ] ) | ISO/IEC 14443-4 S(DESELECT) ブロック。オプションの CID シンボルの定義は、上記の I(c) n ブロックで説明されているとおりです。 | ||
| SAK(カスケード) | カスケード ビット (ビット 3) が (1) に設定された SELECT(I) の応答 b | ||
| SAK(完全版) | カスケード ビット (ビット 3) が (0) に設定された SELECT(I) の応答 b | ||
| セレクト(I) | カスケード レベル I の SELECT コマンド、つまり SELECT(1) = ( '93 70' UIDTX 1 BCC CRC_A) SELECT(2) = ( '95 70' UIDTX 2 BCC CRC_A) SELECT(3) = ( '97 70' UIDTX 3 BCC CRC_A) | ||
| スロットマーカー | スロット番号 n のスロット MARKER コマンド、つまり (16 × (n − 1) + 5 CRC_B) | ||
| TB PDU | 送信ブロック プロトコル データ ユニット。I ブロック、R ブロック、または S ブロックのいずれかで構成されます。 | ||
| テスト_コマンド_シーケンス1 | いくつかの PICC テストに使用されるコマンドのシーケンス。 DUT Type A に送信される場合、シーケンスには (0)b で終わる少なくとも 1 つの I ブロックと、(1)b で終わる少なくとも 1 つの I ブロックが含まれている必要があります。 注その定義はアプリケーション層に依存し、DUT によってサポートされるアプリケーションの標準トランザクションを表します。出願人は、指定されたコマンドのセットを提供することもできます。 | ||
| テスト_コマンド1(1) | 1 つの非チェーン I ブロックで構成されるデフォルトのテスト コマンド 注このコマンドは、PICC のネゴシエートされた最大フレーム サイズ値に依存します。 | ||
| TEST_COMMAND1, (n)、n > 1 | n 個のチェーンされた I ブロックで構成されるデフォルトのテスト コマンド (PCD チェーン) 注このコマンドは、PICC のネゴシエートされた最大フレーム サイズ値に依存します。 | ||
| TEST_COMMAND1(n) k | TEST_COMMAND1(n) の k 番目の I ブロック チェーンの INF フィールド 注このコマンドは、PICC のネゴシエートされた最大フレーム サイズ値に依存します。 | ||
| TEST_COMMAND2, (n)、n > 1 | n 個のチェーンされた I ブロックからなる応答を期待するデフォルトのテスト コマンド 注このコマンドは、PCD のネゴシエートされた最大フレーム サイズ値に依存します。 | ||
| テストコマンド3 | 実行に FWT 時間を超える必要がある 1 つの I ブロックで構成されるデフォルトのテスト コマンド | ||
| テストコマンド4 | PICC送信テストに必要なPICC送信最小フレーム長に準拠した1つのIブロックからの応答を期待するデフォルトのテストコマンド | ||
| TEST_RESPONSE1(n) | TEST_COMMAND1(n) に対する応答の INF フィールド 注この応答は常に非連鎖であると想定されます。 | ||
| TEST_RESPONSE2(n) | TEST_COMMAND2(n) への応答 注:この応答は、PCD のネゴシエートされた最大フレーム サイズ値に依存します。 | ||
| TEST_RESPONSE2(n) k | TEST_RESPONSE2(n) の k 番目の I ブロック チェーンの INF フィールド 注:この応答は、PCD のネゴシエートされた最大フレーム サイズ値に依存します。 | ||
| TEST_RESPONSE3 | TEST_COMMAND3 に対する応答 I ブロック 注この応答は常に非連鎖であると想定されます。 | ||
| TEST_RESPONSE4 | TEST_COMMAND4 に対する応答 I ブロック | ||
| TM PDU | テスト管理プロトコル データ ユニット (ISO/IEC 9646-1, PDU) | ||
| t | PICC送信開始 | ||
| UIDTX I | カスケード レベル I ∈{1, 2, 3} の UID 32 ビット データ (表 1 を参照) | ||
| ~UIDTX I | 間違った UID 32 ビット データ カスケード レベル I ∈{1, 2, 3} (表 1 を参照) | ||
| ユタ州 | PCD 試験装置のマスター部分である Upper Tester (ISO/IEC 9646) | ||
| UT_APDU | 上位テスター アプリケーション プロトコル データ ユニット: PCD によって RF インターフェイスを介して LT に送信されるデータのパケット | ||
| V 負荷 | 基準PICCのコネクタCON3で測定されたDC電圧 | ||
| WUPB(N) | ISO/IEC 14443-3:2018, 7.7 で定義されている N を含む WUPB コマンド | ||
| ~X | ビット列 X の反転ビットからなるビット列、または X とは異なるその他のビット列 | ||
| X[[a...b]] | 位置 a と位置 b の間のビットからなるビット列 X の部分ビット列が含まれます。 a > b の場合、シーケンスは空です | ||
| X[[n]] | ビット シーケンス X の位置 n のビット。最初のビットは位置 1 にあります。 | ||
| X[n] | ビット シーケンス X の位置 n のバイト。最初のバイトは位置 1 にあります。 | ||
| カスケードレベル | 単一 UID PICC | ダブルUID PICC | トリプル UID PICC |
|---|---|---|---|
| UIDTX1 | UID0 UID1 UID2 UID3 | 「88」 UID0 UID1 UID2 | 「88」 UID0 UID1 UID2 |
| UIDTX2 | — | UID3 UID4 UID5 UID6 | 「88」 UID3 UID4 UID5 |
| UIDTX3 | — | — | UID6 UID7 UID8 UID9 |
参考文献
| 1 | ISO/IEC Guide 98-3, 測定の不確かさ — Part 3: 測定における不確かさの表現に関するガイド (GUM:1995) |
| 2 | ISO/IEC 9646-1, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性テストの方法論とフレームワーク — Part 1: 一般概念 |
| 3 | ISO/IEC 9646-2, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性テストの方法論とフレームワーク — Part 2: 抽象的なテスト スイート仕様 |
| 4 | ISO/IEC 9646-3, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性テストの方法論とフレームワーク — Part 3: ツリーと表の組み合わせ表記法 (TTCN) |
| 5 | ISO/IEC 9646-4, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性テストの方法論とフレームワーク — Part 4: テストの実現 |
| 6 | ISO/IEC 9646-5, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性試験の方法論とフレームワーク — Part 5: 適合性評価プロセスに関する試験機関および顧客の要件 |
| 7 | ISO/IEC 9646-6, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性テストの方法論とフレームワーク — Part 6: プロトコル プロファイル テスト仕様 |
| 8 | ISO/IEC 9646-7, 情報技術 — オープン システム相互接続 — 適合性テストの方法論とフレームワーク — Part 7: 実装適合性ステートメント |
3 Terms, definitions, symbols and abbreviated terms
3.1 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO/IEC 14443-1, ISO/IEC 14443-2, ISO/IEC 14443-3, ISO/IEC 14443-4 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
3.1.1
base standard
standard to which the test method (3.1.8) is used to verify conformance
3.1.2
CascadeLevels
number of cascade levels of the PICC
3.1.3
command set
set describing the PICC commands during initialization and anticollision
Note 1 to entry: See ISO/IEC 14443-3:2018, 6.4 for PICC Type A and ISO/IEC 14443-3:2018, 7.5 for PICC Type B.
3.1.4
loading effect
change in PCD antenna current caused by the presence of PICC(s) in the field due to the mutual coupling modifying the PCD antenna resonance and quality factor
3.1.5
mute
no response within a specified timeout
EXAMPLE:
Expiration of FWT.
3.1.6
scenario
defined typical protocol and application specific communication to be used with the test methods (3.1.8) defined in this document
3.1.7
test initial state
TIS
element from PICC states that is the PICC state before performing a specific PICC command from command set (3.1.3)
3.1.8
test method
method for testing characteristics of devices in scope for the purpose of verifying their conformance with International Standards
3.1.9
test target state
TTS
element from PICC states that is the PICC state after performing a specific PICC command from command set (3.1.3)
3.2 Symbols and abbreviated terms
For the purposes of this document, the symbols and abbreviated terms given in ISO/IEC 14443-1, ISO/IEC 14443-2, ISO/IEC 14443-3, ISO/IEC 14443-4 and the following apply.
NOTE Elements in bold square brackets [ ] are optional.
| Answer to ATTRIB(cid) | Answer to ATTRIB with CID = cid | ||
| ATTRIB(cid, fsdi) | ATTRIB command with CID = cid and Maximum Frame Size Code value = fsdi | ||
| ~CRC | Invalid CRC with respect to the communication signal interface Type A (CRC_A) or Type B (CRC_B), transmitted instead of the specified CRC if present in the command or response definition | ||
| DUT | Device under test; within the scope of this document, DUT represents the PICC under test | ||
| I(c)n( [ INF = inf ] [ ,CID = cid ] [ ,NAD = nad ] ) | ISO/IEC 14443-4 I-block with chaining bit c∈{1,0}, block number n∈{1,0} and information field INF. By default no CID and no NAD will be transmitted. If CID = cid∈{0...15} is specified, it will be transmitted as second parameter. If NAD = nad∈{0...'FF'} is specified, it will be transmitted as third parameter (or second parameter if no CID is transmitted). | ||
| IUT | Implementation Under Test (ISO/IEC 9646); within the scope of this document, IUT represents the PCD under test | ||
| lt | Lower Tester (ISO/IEC 9646), the PICC-emulation part of the PCD-test-apparatus | ||
| N/A | Not applicable | ||
| PPS(cid, dri, dsi) | PPS request with CID = cid, DRI = dri and DSI = dsi | ||
| ~PUPI | Unmatched PUPI, transmitted instead of the specified PUPI if present in the command or response definition | ||
| R(ACK [ ,CID = cid ] )n | ISO/IEC 14443-4 R(ACK) block with block number n. The definition of the optional CID symbol is as described in the I(c)n block above | ||
| R(NAK [ ,CID = cid ] )n | ISO/IEC 14443-4 R(NAK) block with block number n. The definition of the optional CID symbol is as described in the I(c)n block above | ||
| RATS(cid, fsdi) | RATS command with CID = cid and FSDI value = fsdi | ||
| READY(I) | READY state in cascade level I, I ∈{1, 2, 3}; e.g. READY(2) is a PICC cascade level 2 | ||
| READY*(I) | READY* state in cascade level I, I ∈{1, 2, 3}; e.g. READY*(2) is a PICC cascade level 2 | ||
| REQB(N) | REQB command with N as defined in ISO/IEC 14443-3:2018, 7.7 | ||
| S(WTX)(WTXM [ ,CID = cid ] ) | ISO/IEC 14443-4 S(WTX) block with parameter WTXM. The definition of the optional CID symbol is as described in the I(c)n block above | ||
| S(DESELECT [ ,CID = cid ] ) | ISO/IEC 14443-4 S(DESELECT) block. The definition of the optional CID symbol is as described in the I(c)n block above | ||
| SAK(cascade) | the SELECT(I) answer with the cascade bit (bit 3) set to (1)b | ||
| SAK(complete) | the SELECT(I) answer with the cascade bit (bit 3) set to (0)b | ||
| SELECT(I) | SELECT command of cascade level I, i.e. SELECT(1) = ( '93 70' UIDTX1 BCC CRC_A) SELECT(2) = ( '95 70' UIDTX2 BCC CRC_A) SELECT(3) = ( '97 70' UIDTX3 BCC CRC_A) | ||
| SLOTMARKER(n) | Slot-MARKER command with slot number n, i.e. (16 × (n − 1) + 5 CRC_B) | ||
| TB-PDU | Transmission Block Protocol Data Unit, which consists of either I-block, R-block or S-block | ||
| TEST_COMMAND_SEQUENCE1 | Sequence of commands used for several PICC tests. When transmitted to DUT Type A, the sequence should contain at least one I-block ending with (0)b and at least one I-block ending with (1)b. NOTE Its definition depends on applicative layer and represents a standard transaction of the application supported by the DUT. The applicant may also provide a specified set of commands. | ||
| TEST_COMMAND1(1) | Default test command consisting of one unchained I-block NOTE This command depends on the negotiated maximum frame size value of the PICC. | ||
| TEST_COMMAND1(n), n > 1 | Default test command consisting of n chained I-blocks (PCD chaining) NOTE This command depends on the negotiated maximum frame size value of the PICC. | ||
| TEST_COMMAND1(n)k | INF field of k'th I-block chain of TEST_COMMAND1(n) NOTE This command depends on the negotiated maximum frame size value of the PICC. | ||
| TEST_COMMAND2(n), n > 1 | Default test command which expects a response consisting of n chained I-blocks NOTE This command depends on the negotiated maximum frame size value of the PCD. | ||
| TEST_COMMAND3 | Default test command consisting of one I-block which needs more than FWT time for execution | ||
| TEST_COMMAND4 | Default test command which expects a response of one I-block in conformance with the PICC transmission minimum frame length required for the PICC transmission test | ||
| TEST_RESPONSE1(n) | INF field of the response to TEST_COMMAND1(n) NOTE This response is assumed to be always unchained. | ||
| TEST_RESPONSE2(n) | Response to TEST_COMMAND2(n) NOTE This response depends on the negotiated maximum frame size value of the PCD. | ||
| TEST_RESPONSE2(n)k | INF field of k'th I-block chain of TEST_RESPONSE2(n) NOTE This response depends on the negotiated maximum frame size value of the PCD. | ||
| TEST_RESPONSE3 | Response I-block to TEST_COMMAND3 NOTE This response is always assumed to be unchained. | ||
| TEST_RESPONSE4 | Response I-block to TEST_COMMAND4 | ||
| TM-PDU | Test Management Protocol Data Unit (ISO/IEC 9646-1, PDU) | ||
| tSTART | Start of PICC transmission | ||
| UIDTXI | UID 32-bit data at cascade level I ∈{1, 2, 3} (see Table 1) | ||
| ~UIDTXI | Wrong UID 32-bit data cascade level I ∈{1, 2, 3} (see Table 1) | ||
| UT | Upper Tester (ISO/IEC 9646), the master part of the PCD-test-apparatus | ||
| UT_APDU | Upper Tester Application Protocol Data Unit: a packet of data to be sent by the PCD to the LT through the RF interface | ||
| Vload | DC voltage measured at connector CON3 of the Reference PICC | ||
| WUPB(N) | WUPB command with N as defined in ISO/IEC 14443-3:2018, 7.7 | ||
| ~X | Bit sequence consisting of the inverted bits of bit sequence X or any other bit sequence different from X | ||
| X[[a...b]] | Bit subsequence of bit sequence X consisting of the bits between position a and b included. If a > b then the sequence is empty | ||
| X[[n]] | Bit at position n of bit sequence X. First bit is at position 1 | ||
| X[n] | Byte at position n of bit sequence X. First byte is at position 1 | ||
| Cascade level | Single UID PICC | Double UID PICC | Triple UID PICC |
|---|---|---|---|
| UIDTX1 | UID0 UID1 UID2 UID3 | '88' UID0 UID1 UID2 | '88' UID0 UID1 UID2 |
| UIDTX2 | — | UID3 UID4 UID5 UID6 | '88' UID3 UID4 UID5 |
| UIDTX3 | — | — | UID6 UID7 UID8 UID9 |
Bibliography
| 1 | ISO/IEC Guide 98-3, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) |
| 2 | ISO/IEC 9646-1, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 1: General concepts |
| 3 | ISO/IEC 9646-2, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 2: Abstract Test Suite specification |
| 4 | ISO/IEC 9646-3, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 3: The Tree and Tabular Combined Notation (TTCN) |
| 5 | ISO/IEC 9646-4, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 4: Test realization |
| 6 | ISO/IEC 9646-5, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 5: Requirements on test laboratories and clients for the conformance assessment process |
| 7 | ISO/IEC 9646-6, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 6: Protocol profile test specification |
| 8 | ISO/IEC 9646-7, Information technology — Open Systems Interconnection — Conformance testing methodology and framework — Part 7: Implementation Conformance Statements |