この規格ページの目次
4
B 0601 : 2013 (ISO 4287 : 1997,Amd.1 : 2009)
図2−実表面の断面曲線
3.1.7
うねり曲線(waviness profile)
断面曲線にカットオフ値 び 溏 郭曲線フィルタを順次適用することによって得られる輪郭曲線。
郭曲線フィルタによって長波長成分を遮断し, 掏 郭曲線フィルタによって短波長成分を遮断する。
この輪郭曲線は,意図的に修正された曲線である。
注記1 うねり曲線を分離するための 郭曲線フィルタを適用する前に,測定断面曲線から呼び形
状を最小二乗法によって除去しておかなければならない。呼び形状が円の場合には,半径は,
最小二乗法における最適化条件に含め,呼び値に固定しないことが望ましい。うねり曲線を
分離する手順は,理想的なオペレータによる。
オペレータとは,不確かさの概念を導入するために,形体を求めるのに必要な測定原理,
測定方法,測定条件,データ処理など一連のものを順序に従って並べてまとめたものである。
理想的なオペレータとは,測定機器及び量子化されたデータなどに誤差がなく,離散化され
たデータの数も無限に大きいなど,理論的に正確なオペレータをいう。
“半径は,最小二乗法における最適化条件に含め”の意味は,最小二乗法によって,デー
タに最も当てはまる円の半径を求めることである。
注記2 うねり曲線用の帯域通過フィルタは,カットオフ値 び 溏 郭曲線フィルタによって定
義される(JIS B 0632の2.6及び3.2参照)。
注記3 うねり曲線は,うねりパラメータの評価の基礎となるものである。
3.1.8
平均線に関する用語
3.1.8.1
粗さ曲線を求めるための平均線(mean line for the roughness profile)
高域(ハイパス)用 掏 郭曲線フィルタによって遮断される長波長成分を表す曲線(JIS B 0632の3.2
――――― [JIS B 0601 pdf 6] ―――――
5
B 0601 : 2013 (ISO 4287 : 1997,Amd.1 : 2009)
参照)。
3.1.8.2
うねり曲線を求めるための平均線(mean line for the waviness profile)
低域(ローパス)用 郭曲線フィルタによって遮断される長波長成分を表す曲線(JIS B 0632の3.2
参照)。
3.1.8.3
断面曲線を求めるための平均線(mean line for the primary profile)
最小二乗法によって断面曲線に当てはめた呼び形状を表す直線。
3.1.9
基準長さ,lp,lr,lw(sampling length)
輪郭曲線の特性を求めるために用いる輪郭曲線のX軸方向長さ。
注記 粗さ曲線用の基準長さlr及びうねり曲線用の基準長さlwは,それぞれ輪郭曲線フィルタのカ
ットオフ値 び 死 地 面曲線用の基準長さlpは,評価長さlnに等しい。
3.1.10
評価長さ,ln(evaluation length)
輪郭曲線のX軸方向長さ。
注記1 評価長さは,一つ以上の基準長さを含む。
注記2 評価長さの標準値については,JIS B 0633の4.4(評価長さの標準値)参照。JIS B 0633は,
うねりパラメータのための標準的な評価長さは規定していない。
3.2 パラメータに関する用語
3.2.1
断面曲線パラメータ(P-parameter)
断面曲線から求められたパラメータ。
3.2.2
粗さパラメータ(R-parameter)
粗さ曲線から求められたパラメータ。
3.2.3
うねりパラメータ(W-parameter)
うねり曲線から求められたパラメータ。
注記 箇条4で定義されるパラメータは,該当する輪郭曲線から求められる。パラメータの記号の最
初の大文字は,輪郭曲線の種類を表す。例えば,Raは粗さ曲線から求められ,Ptは断面曲線か
ら求められる。
3.2.4
山(profile peak)
輪郭曲線をX軸(平均線)によって切断したときの隣り合う二つの交点に挟まれた曲線部分のうち,平
均線より上側(物体から空間側への方向)の部分。
3.2.5
谷(profile valley)
輪郭曲線をX軸(平均線)によって切断したときの隣り合う二つの交点に挟まれた曲線部分のうち,平
均線より下側(周囲の空間から物体側に向かう方向)の部分。
――――― [JIS B 0601 pdf 7] ―――――
6
B 0601 : 2013 (ISO 4287 : 1997,Amd.1 : 2009)
3.2.6
高さ及び/又は横方向長さの最小識別値(height and/or spacing discrimination)
輪郭曲線の山及び谷と判断するための最小高さ及び最小長さ。
注記 一般に,山及び谷と判断する高さは,Pz,Rz,Wzのパーセント値によって規制し,横方向の最
小長さは,基準長さのパーセント値によって規制する。
3.2.7
輪郭曲線要素(profile element)
山とそれに隣り合う谷からなる曲線部分(図3参照)。
注記 基準長さの輪郭曲線の始点又は終点において,正又は負の部分(平均線より上側又は下側にあ
る部分)は,山又は谷とみなす。連続する幾つかの基準長さにわたって輪郭曲線要素の数を求
める場合には,基準長さの始点又は終点における山及び谷は,各基準長さの始点で1回だけ考
慮する。
3.2.8
縦座標値,Z (x)(ordinate value)
任意の位置xにおける輪郭曲線の高さ。
注記 高さの符号は,X軸(平均線)の下側を負とし,上側を正とする。
3.2.9
dZ ( x)
局部傾斜, (local slope)
dx
xiの位置における輪郭曲線の傾斜(図4参照)。
注記1 パラメータP 燿 R びW 暈 譜 傾斜の値は,データ間隔 堰歙
依存する。
注記2 局部傾斜を求める式は,次による。
dZ (xi ) 1
Z (xi 3 )
9Z (xi 2 )
45Z (xi 1 )
45Z (xi 1 )
9Z (xi 2 ) 紀
Z (xi 3
d (x) 60 X
ここに, xi : i番目の点のX方向の位置
Z (xi) : i番目の点の高さ
隣接するデータ点の間隔
この式は,JIS B 0651に規定されているデータのサンプリング間隔に対して適用される。
注記3 局部傾斜を求める式は,数値微分の7点公式によっている。
3.2.10
輪郭曲線の山高さ,Zp(profile peak height)
X軸(平均線)から山頂までの高さ(図3参照)。
3.2.11
輪郭曲線の谷深さ,Zv(profile valley depth)
X軸(平均線)から谷底までの深さ(図3参照)。
3.2.12
輪郭曲線要素の高さ,Zt(profile element height)
一つの輪郭曲線要素における山高さと谷深さとの和(図3参照)。
――――― [JIS B 0601 pdf 8] ―――――
7
B 0601 : 2013 (ISO 4287 : 1997,Amd.1 : 2009)
3.2.13
輪郭曲線要素の長さ,Xs(profile element width)
輪郭曲線要素によって切り取られたX軸の線分の長さ(図3参照)。
3.2.14
レベルcにおける輪郭曲線の負荷長さ,Ml (c)(material length of profile at the level c)
X軸(平均線)に平行なレベル(以下,切断レベルという。)cの直線によって切断された輪郭曲線要素
の実体側の長さの和(図5参照)。
図3−輪郭曲線要素
図4−局部傾斜
――――― [JIS B 0601 pdf 9] ―――――
8
B 0601 : 2013 (ISO 4287 : 1997,Amd.1 : 2009)
図5−輪郭曲線の実体側の長さ
4 輪郭曲線(断面曲線,粗さ曲線,うねり曲線)パラメータ
4.1 山及び谷の高さパラメータ
4.1.1
輪郭曲線の最大山高さ(maximum profile peak height)
基準長さにおける輪郭曲線の山高さZpの最大値(図6参照)。
断面曲線の最大山高さPp,粗さ曲線の最大山高さRp及びうねり曲線の最大山高さWpがある。
4.1.2
輪郭曲線の最大谷深さ(maximum profile valley depth)
基準長さにおける輪郭曲線の谷深さZvの最大値(図7参照)。
断面曲線の最大谷深さPv,粗さ曲線の最大谷深さRv及びうねり曲線の最大谷深さWvがある。
4.1.3
輪郭曲線の最大高さ(maximum height of profile)
基準長さにおける輪郭曲線の山高さZpの最大値と谷深さZvの最大値との和(図8参照)。
断面曲線の最大高さPz,最大高さ粗さRz及び最大高さうねりWzがある。
注記 ISO 4287:1984では,記号Rzは“十点平均粗さ”を指示するために使われていた。我が国を含
む幾つかの国では,JIS B 0601:1994のRzを測定する表面粗さ測定機が使用されている。JIS B
0601:2013とJIS B 0601:1994による測定値の差が,無視できるほど小さいとは限らないので,
既に発行されている文書情報及び図面を用いる場合には,注意しなければならない(附属書JA
参照)。
――――― [JIS B 0601 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS B 0601:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 4287:1997(IDT)
- ISO 4287:1997/AMENDMENT 1:2009(IDT)
- ISO 4287:1997/TECHNICAL CORRIGENDUM 1:1998(IDT)
- ISO 4287:1997/TECHNICAL CORRIGENDUM 2:2005(IDT)
JIS B 0601:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.20 : 表面の特性
- 01 : 総論.用語.標準化.ドキュメンテーション > 01.040 : 用語集 > 01.040.17 : 度量衡及び測定.物理的現象(用語集)
JIS B 0601:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0651:2001
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の特性