この規格ページの目次
14
B 6220 : 2021 (ISO 3875 : 2020)
7 位置決め精度試験
7.1 手動又は自動(数値制御によらない)による直進軸の位置決め
目的 P1
調整車頭の仕上げ送り停止位置の繰返し精度(EXP)
注記 この試験は,送込み研削作業のできる機械だけに適用する。
測定方法図
許容値 測定値
0.002
測定器
ダイヤルゲージ
測定手順
JIS B 6190-1:2016の3.4.5参照。
調整車頭の位置決めの繰返し精度は,早送り後,仕上げ送りで位置決めを繰り返し5回行って,測定する。
位置決めの測定は,といし軸(C1軸)及び調整車軸(C2軸)の回転中心線の高さで行う。
5回の読みの最大値と最小値との差を記録する。
――――― [JIS B 6220 pdf 16] ―――――
15
B 6220 : 2021 (ISO 3875 : 2020)
7.2 数値制御による直進軸の位置決め
目的 P2
数値制御による調整車頭のX軸運動の一方向位置決め精度の試験(EXX)
測定方法図
記号説明
1 レーザ光源 5 といし車
2 干渉計 6 調整車
3 反射鏡 7 調整車頭
4 といし軸頭
許容値 測定値
測定長さ L>200
軸の一方向位置決め誤差 EXX,A↑ 0.016
軸の一方向系統位置決め誤差 EXX,E↑ 0.008
軸の一方向位置決めの繰返し性 EXX,R↑ 0.004
測定器
リニアゲージ,レーザ測長器,又はリニアスケール
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.3及びJIS B 6190-2:2016参照。
といし軸頭に対する調整車頭の位置を測定する。
測定は,といし軸(C1軸)及び調整車軸(C2軸)の回転中心線の高さで行う。
――――― [JIS B 6220 pdf 17] ―――――
16
B 6220 : 2021 (ISO 3875 : 2020)
目的 P3
数値制御による次のa)及びb)の位置決め精度の試験
a) といし車修正装置のW軸運動(EZW)
b) 調整車修正装置のR軸運動(EZR)
測定方法図
4 3 5
+W +R
2
a) b)
1
記号説明
1 レーザ光源 3 反射鏡 5 調整車修正装置
2 干渉計 4 といし車修正装置
許容値 測定値
測定長さ
L
L≦500 500軸の両方向位置決め誤差 a) EZW,A 0.022 0.025
b) EZR,A
a) EZW,E
軸の両方向系統位置決め誤差 0.016 0.020
b) EZR,E
a) EZW,R
軸の一方向位置決めの繰返し 及び EZW,R 0.006 0.010
性 b) EZR,R 及び EZR,R
a) EZW,R
軸の両方向位置決めの繰返し 0.010 0.016
性 b) EZR,R
軸の平均反転誤差 a) EZW,Bmean 0.008 0.010
b) EZR,Bmean
測定器
リニアスケール又はレーザ測長器
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.3及びJIS B 6190-2:2016参照。
ドレッサの運動が据付け前後で同じ場合には,測定は,機械を据え付ける前に行ってもよい。
これら二つの測定は,通常は,a)といし車修正装置とといし車との間,及びb)調整車修正装置と調整車との間で行
うのが望ましいが,光学系の機械への取付けが難しいため,測定方法図には,折衷案としてレーザ測長器の配置例
を示す。
――――― [JIS B 6220 pdf 18] ―――――
17
B 6220 : 2021 (ISO 3875 : 2020)
目的 P4
数値制御による次のa)及びb)の修正装置の運動の一方向位置決め精度の試験
a) といし車のドレッサのU軸運動(EXU)
b) 調整車のドレッサのV軸運動(EVV)
測定方法図
3
4 5
-U +V
2
1
a) b)
記号説明
1 レーザ光源 3 反射鏡 5 調整車修正装置
2 干渉計 4 といし修正装置
許容値 測定値
測定長さ a) b)
L<200
軸の一方向位置決め誤差 a) EXU,A 0.016
b) EVV,A
軸の一方向系統位置決め誤差 a) EXU,E 0.008
b) EVV,E
軸の一方向位置決めの繰返し性 a) EXU,R 0.006
b) EVV,R
両方向位置決め試験を求められた場合,その許容値は,受渡当事者間の協定による。
測定器
デジタル式リニアゲージ,レーザ測長器,又は標準尺及び読取器
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.3及びJIS B 6190-2:2016参照。
これら二つの測定は,通常は,a)といし車のドレッサとといし車との間,及びb)調整車のドレッサと調整車との間
で行うのが望ましいが,光学系の機械への取付けが難しいため,測定方法図には,折衷案としてレーザ測長器の配
置例を示す。
――――― [JIS B 6220 pdf 19] ―――――
18
B 6220 : 2021 (ISO 3875 : 2020)
目的 P5
数値制御による,といし軸頭のZ軸運動の一方向位置決め精度の試験(EZZ)
測定方法図
4 5
+Z
3
2
1
記号説明
1 レーザ光源 4 といし軸頭のZ方向スライドベース
2 干渉計 5 といし軸頭
3 反射鏡
許容値 測定値
測定長さ
L<500
軸の一方向位置決め誤差 EZZ,A↑ 0.016
軸の一方向系統位置決め誤差 EZZ,E↑ 0.008
軸の一方向位置決めの繰返し性 EZZ,R↑ 0.004
測定器
レーザ測長器,又はリニアスケール
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.3及びJIS B 6190-2:2016参照。
位置決めの測定は,といし軸(C1軸)及び調整車軸(C2軸)の回転中心の高さで行う。
この測定は,通常は,といし軸頭と工作物との間で行うのが望ましいが,測定方法図には,折衷案としてレーザ測
長器の配置例を示す。
――――― [JIS B 6220 pdf 20] ―――――
次のページ PDF 21
JIS B 6220:2021の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 3875:2020(IDT)
JIS B 6220:2021の国際規格 ICS 分類一覧
JIS B 6220:2021の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称