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B 7520-1981
表7 性能の測定方法
番号 性能 測定項目 測定方法 図 測定用具 記事
JIS B 7430(オ
プチカルフラッ
ト)に規定する
測定面にオプチカルパラレ 1級又は2級の
測定面 ル又はオプチカルフラット オプチカルフラ
赤色干渉
1 の平面 を密着させ,白色光による ット
しまの数
度 赤色干渉しまの数を読み取 JIS B 7431(オ
る。 プチカルパラレ
ル)に規定する
1級のオプチカ
ルパラレル
スピンドルの整
オプチカルパラレル又はオ JIS B 7431に規 数回転の位置だ
プチカルパラレルとブロッ 定する1級のオ けでなく,回転
クゲージとを組み合わせた プチカルパラレ 数の端数が41回
(a) ものをスピンドルの測定面 ル 転の倍数となる
赤色干渉 に密着させ,測定力(番号 JIS B 7506(ブ ような箇所4箇
しまの数 7参照)をかけた状態で白 ロックゲージ) 所について順次
色光によるアンビルの測定 に規定する0級 測定を行って得
面の赤色干渉しまの数を読 又は1級のブロ られた値の最大
み取る。 ックゲージ 値を求め平行度
とする。
数字は測定順序を示す。 最大測定長
測定面 50mm以上のも
2 の平行 のについては,
度 スピンドル測定
面に最小測定長
ブロックゲージを両測定面 相当のブロック
の中央及び周辺4箇所に順 JIS B 7506に規 ゲージを密着さ
(b)
次はさみ,測定力(番号7 定する0級又は せた状態で,そ
指針の読み
参照)をかけた状態でそれ 1級のブロック のブロックゲー
の最大差
ぞれの値を指針で読み取 ゲージ ジとアンビル測
り,その最大差を求める。 定面の間にはさ
んだ別のブロッ
クゲージの位置
を順次差し替え
ることが望まし
い。
目盛基点の調整を行い,次
にブロックゲージを測定面
マイクロメ 間にはさみ,押しボタンを
ータの読み 操作しながらマイクロメー
3 器差 とブロック タにより指針を零目盛に合
ゲージとの わせ,測定力(番号7参照)
寸法の差 をかけた状態でマイクロメ
ータの読みとブロックゲー
ジの寸法との差を求める。
――――― [JIS B 7520 pdf 6] ―――――
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B 7520-1981
番号 性能 測定項目 測定方法 図 測定用具 記事
アンビル面に球面測定子を
球面アンビルの
密着させてマイクロメータ
半径は20mm以
マイクロメ の基点の調整を行い,次に 球面アンビル,
スピン 上が望ましい。
ータの読み ブロックゲージの測定面間 JIS B 7506に規
ドルの 最小測定長が零
4 とブロック にはさみ,インジケータの 定する0級又は
送り誤 であるマイクロ
ゲージの寸 指針を零目盛に合わせたと 1級のブロック
差 メータの場合は
法との差 きのマイクロメータの読み ゲージ
器差の測定値か
とブロックゲージの寸法と
ら算出する。
の差を求める。
両測定面間にブロックゲー
ジをはさみ,マイクロメー
インジ
タにより,指針を負側より JIS B 7506に規
ケータ
指針の読み 正の方向に動かし,任意の 定する0級又は
5 の指示
の最大差 目盛位置に止めた場合の読 1級のブロック
のばら
みと,押しボタンを5回作 ゲージ
つき
動させた場合のそれぞれの
読みとの最大差を求める。
両測定面間にブロックゲー
ジをはさみ,マイクロメー
タにより,指針を零目盛に
インジ 指針の指示 合わせ,これを基準として,
JIS B 7506に規
ケータ 値とブロッ 押しボタンだけを操作しな
6 定する0級のブ
の指示 クゲージの がらブロックゲージを取り
ロックゲージ
誤差 寸法との差替えて,任意目盛点におけ
るインジケータの指示とブ
ロックゲージとの差を求め
る。
はかり又は力計の荷重点と
アンビルの測定面中心との
間に鋼球をはさみ,アンビ
ルの軸が鉛直にあり,かつ,
はかり又は力計の読みが零
上ざらばね
になるように両者を調整し 上ざらばね式指
式指示ばか
7 測定力 た後,マイクロメータを押 示はかり
り又は力計
してゆき,インジケータの (目量20g以下)
の読み
指針が零目盛を示すときの 又は力計
はかり又は力計の指示値を 〔感度0.2N
読み取る。この手順を5回 [{20.4gf}] 以下〕
繰り返して得た値の平均値
を求める。
測定力 測定力の最 番号7の手順で得られた測
8 のばら 大値と最小 定力の最大値と最小値との
つき 値との差 差を求める。
――――― [JIS B 7520 pdf 7] ―――――
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番号 性能 測定項目 測定方法 図 測定用具 記事
JIS B 7430に規
番号2の方法により,測定 定する1級のオ
測平 面の平行度を赤色干渉しま プチカルパラレ
ク定行 赤色干渉で読み取った後,クランプ ル
ラ面度
ンの しまの数を行い,この場合の赤色干 JIS B 7506に規
プ 渉しまの変化量を読み取 定する0級又は
9 に
よ る。 1級のブロック
る ゲージ
誤
差タ イ の インジケータ指針を目盛線
ン 指インジケー JIS B 7506に規
示 に合わせた後,クランプを
ジ タの指示の 定する0級ブロ
ケ 行い,指示の変化量を読み
読み ックゲージ
ー 取る。
備考1. 番号2の平行度の測定は,(a)又は(b)のうち,いずれか一方だけを実施すればよい。
2. 器差及びスピンドルの送り誤差の測定に使用するブロックゲージの寸法は,スピンドルの整数回転の位置だけでな
く,中間の位置の誤差も求められるようなものも選ぶことが望ましい。
例えば,2.5mm,5.1mm,7.7mm,10.3mm,12.9mm,15mm,17.6mm,20.2mm,22.8mm及び25mmのブロック
ゲージをセットにして使用すればよい。
11. 検査 マイクロメータの検査は,測定範囲,性能,目盛数字,形状・寸法,外観及び機能,並びに材
料及び硬さについて行い,4.,5.,6.,7.,8.及び9.の規定に適合しなければならない。ただし,アンビル
及びスピンドルの測定面に超硬合金を用いたものは,その硬さの測定を省略してもよい。
12. 製品の呼び方 マイクロメータの呼び方は,規格番号又は規格名称及び測定範囲による。
例 : JIS B 7520 025
指示マイクロメータ 75100
13. 表示 マイクロメータには,次の事項を表示しなければならない。
(1) インジケータ部の目量
(2) 測定範囲
(3) 製造番号
(4) 製造業者名又はその略号
――――― [JIS B 7520 pdf 8] ―――――
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精密機械部会 精密測定機器専門委員会 構成表
氏名 所属
(委員会長) 沢 辺 雅 二 工業技術院計量研究所
石 神 政 司 財団法人機械振興協会技術研究所
大 園 成 夫 東京大学工学部
高 津 義 典 通商産業省機械情報産業局
吉 沢 均 工業技術院標準部
朝 倉 利 雄 東京測範株式会社
市 川 忠 治 日本精密測定機器工業会
井 上 宏 日本測定工具株式会社
川 口 廣 株式会社科学計器研究所
羽 田 勝 彦 株式会社津上
広 瀬 藤 司 株式会社三豊製作所
矢 島 忠 夫 株式会社テクロック
矢 島 宣 明 株式会社東京精密
吉 木 汎 黒田精工株式会社
石 井 信 雄 三菱重工業株式会社
高 内 国 士 株式会社猪俣製作所
津 川 浩 造 日本精工株式会社製品技術研究所
堤 俊 忠 石川島汎用機械株式会社
内 藤 邦 夫 三井精機工業株式会社
永 松 厚 日産自動車株式会社
畑 明 株式会社日立製作所
松 永 輝 雄 日本光学工業株式会社
森 吉 雄 東京芝浦電気株式会社
(事務局) 村 里 利 明 工業技術院標準部機械規格課
JIS B 7520:1981の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器