JIS B 7554:1997 電磁流量計 | ページ 7

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附属書1図8 検出器アースと変換器アースとの間のAC電流の影響試験
5.3.2.2.5 シリーズモード干渉の影響(附属書1図9参照)
次の試験は,方形波励磁電磁流量計又は電源周波数以外の周波数で動作する電磁流量計に対してだけ適
用できる。電磁流量計は,ある程度電源周波数でのシリーズモード干渉を防ぐことができるため,追加の
試験で電源周波数のシリーズモード妨害電圧の影響を測定することができる。これらの試験を行うために
種々の方法があるが,ほとんどの場合,変圧器を利用して電極間に電源周波数と同相のシリーズモード妨
害電圧を発生させることができる。誤差は,妨害電圧のミリボルト値に対する出力スパンのパーセントで
表す。

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附属書1図9 電源周波数シリーズモード干渉の影響試験
5.3.2.2.6 アース接続の影響 次の試験は,電気的入力及び出力がアースから絶縁されている変換器に対
してだけ適用できる。これらの試験は,各入力端子及び出力端子を交互にアース接続することによって引
き起こされる低レンジ値/スパンの定常状態の変化を測定する。
この際,トランジェント変化を記録しなければならない。試験信号源のアース接続による影響が発生し
ないように注意する。
5.3.3 周囲温度 検出器及び変換器が一体化された電磁流量計について,可能ならばトータルユニットと
して試験を行う。4時間の最小温度安定化時間が温度設定に適用される。この試験における温度レンジは,
電磁流量計に想定された動作条件によって決定される。分離形変換器の試験は,IEC 770に従い次のよう
に行うこと。出力信号値の変化は,製造業者によって指定された最大及び最小動作温度で測定する。この
動作レンジにある場合,次の各周囲温度で変化を測定する。
+20℃,+40℃,+55℃,0℃,−10℃,−25℃,+20℃
電磁流量計に,温度を上の順でステップごとに変化させる。最初の温度サイクルと同様に,電磁流量計
を再調整せずに,2回目の温度サイクルを行う。
各温度に対する許容差は±2℃とする。電磁流量計の各部での温度が安定するように十分な時間をとる。
影響の程度は,周囲温度変化に対する出力スパンのパーセント (%) で表す。
備考 上の温度は周囲の空間温度に関連し,また,流体は正常な基準温度とする。
5.3.4 湿度(変換器だけに限る。) この一連の試験は,IEC 68-2-3及びIEC 68-2-4に規定された手順に
よる。
周囲条件で24時間放置後,0%100%の間の約20%のスパンの間隔で,直ちに誤差を求める。周囲条件
での初期測定値からの誤差の変化を示す。
5.3.5 機械的振動 一般的手順は,IEC68-2-6に記載されている。ただし,これらの試験は,大口径電磁
流量計に対し費用がかかりすぎる場合,又は不可能な場合がある。試験の終わりに,校正値の変化を示す。
5.3.6 機械的衝撃(変換器だけに限る。) この試験は,IEC 68-2-27の手順による。

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6. 他の影響量に関する評価試験
6.1 磁界の影響 流量計の周囲に存在する強磁性の材料又は電磁界の発生源からの影響を受ける可能性
がある場合,製造業者は適切な試験を実施する。これらの試験結果は,提示しなければならない。
6.2 出力負荷インピーダンス この試験は,製造業者によって定められた最大流量における負荷インピ
ーダンスの最大値及び最小値の変動によって生じる変化を測定する。
この出力変化は,出力スパンに対するパーセント (%) で表す。
6.3 長時間ドリフト 電磁流量計の測定管は,周囲温度の状態において水で満たされていなければなら
ない。この測定を実施する前には,満たされた水をかくはんして液温の均一性を確保しておくことを推奨
する。
このような条件下において,まず電磁流量計の電源を入れないで24時間放置し,その後電源を投入し,
適当な時間ウォーミングアップした後,ゼロ点の変動を測定する。この変動値は出力スパンに対するパー
セント (%) で表し,記録しておく。さらに引き続いて4週間の間,毎週ゼロ点を測定し,何らかの変化が
あるかどうかを記録する。
6.4 液体中の迷走電流 電磁流量計の測定管内部の液体中を流れる迷走電流は,流量計の出力に影響を
及ぼす。液体中を流れる迷走電流を流すには,附属書1図10に示すようなシステムを用いる。この試験で
は,まず電源電圧に対して同位相の妨害電圧を両端のフランジ間に印加する場合と,さらに90度移相させ
た妨害電圧を印加する場合の二つの試験を実施する。
この誤差は,電流に対するスパンのパーセント (%) で表す。
附属書1図10 液体中の迷走電流の影響試験
6.5 電磁波障害 無線干渉の出力への影響試験は,製造業者と使用者との間の協定に基づき行う。

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附属書2(規定) 簡易な性能試験方法
この附属書は,電磁流量計の簡易な性能試験方法を規定する。使用者が取り扱う流体,電源及び出力にか
かわる主要な性能項目として,精度定格,耐水圧性,流体の導電率,電源変動,負荷変動及び応答性を取
り上げ,それぞれの試験方法を規定する。
1. 精度定格 流量計の精度定格の試験は,次の校正方法及び基準動作条件のもとで行う。
a) 校正方法 校正は,検出器に液体を流して行う。液体は通常,清水を使用し,その条件は附属書2表
1に示す。実流校正には,ひょう量法,体積法,及び比較法があり,次にその方法を示す。
1) ひょう量法 例えば,附属書2図1の例に示すように,校正する流量計の目盛に対応して選んだ適
当な大きさの容器をはかりに載せ,校正する流量計を通して水を流し込み,所定時間に流れ込んだ
水の質量を測定するか,又は容器内にたまる水の質量が所定の値に達するまでの時間を測定し,水
の温度に対応した水の密度を用いて体積流量を算出するか,又は流量計の積算値と容器内にたまる
水の質量から換算して求めた体積と比較する。
附属書2図1 ひょう量法の例
2) 体積法 例えば,附属書2図2に示すように,あらかじめ校正した基準となるタンクに,校正する
流量計を通して水を流し込み,所定時間に基準となるタンクに流した水の体積を測定するか,又は
タンク内にたまる水の体積が所定の値に達するまでの時間を測定し,これによって流量を算出する
か,又は流量計の積算値とタンク内にたまる水の体積とを比較する。

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附属書2図2 体積法の例
3) 比較法 例えば,附属書2図3の例に示すように,あらかじめ校正した基準となる流量計(電磁流
量計に限らない。)と校正する流量計の検出器とを直列に接続し,水を通して基準となる流量計の指
示値又は積算値と,校正する流量計の指示値又は積算値とを比較する。
附属書2図3 比較法の例
b) 変換器の倍率目盛による方法 変換器の倍率目盛を1.a)の実流校正方法によって流すことができる最
大流量付近に設定し,実流校正した後,変換器の倍率を変えて必要とする最大目盛に設定する。この
方法による校正誤差は,実流校正から得た誤差に,変換器の倍率変更に起因する誤差を加えたもので
ある。

――――― [JIS B 7554 pdf 35] ―――――

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JIS B 7554:1997の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 6817:1992(MOD)
  • ISO 9104:1991(MOD)

JIS B 7554:1997の国際規格 ICS 分類一覧

JIS B 7554:1997の関連規格と引用規格一覧