JIS B 7741:2019 一軸試験に使用する伸び計システムの校正方法

                                                                    B 7741 : 2019 (ISO 9513 : 2012)

pdf 目 次

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  1A 引用規格・・・・[1]
•  2 用語及び定義・・・・[1]
•  3 記号及び意味・・・・[2]
•  4 原理・・・・[2]
•  5 校正器・・・・[2]
•  5.1 校正器・・・・[2]
•  5.2 校正のトレーサビリティ・・・・[3]
•  6 伸び計システムの校正前検査・・・・[3]
•  6.1 目的・・・・[3]
•  6.2 記録・・・・[3]
•  6.3 伸び計システムの識別・・・・[3]
•  7 伸び計の標点距離の計測・・・・[3]
•  7.1 標点距離固定式の伸び計・・・・[3]
•  7.2 標点距離可変式の伸び計・・・・[4]
•  7.3 非接触式伸び計・・・・[4]
•  7.4 設定ゲージによって定まる伸び計の標点距離・・・・[4]
•  8 校正方法・・・・[4]
•  8.1 周囲環境・・・・[4]
•  8.2 伸び計の位置・・・・[5]
•  8.3 校正範囲・・・・[5]
•  8.4 校正手順・・・・[6]
•  8.5 伸び計システムの特性の求め方・・・・[6]
•  9 伸び計システムの等級付け・・・・[6]
•  9.1 入力データ・・・・[6]
•  9.2 データの解析・・・・[7]
•  9.3 等級分類基準・・・・[7]
•  9.4 結果の評価・・・・[7]
•  10 不確かさの計算・・・・[7]
•  10.1 校正の不確かさ・・・・[7]
•  10.2 不確かさ見積りの決定・・・・[8]
•  11 伸び計システムの校正間隔・・・・[8]
•  12 校正証明書・・・・[8]
•  12.1 記載事項・・・・[8]

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――――― [JIS B 7741 pdf 1] ―――――

B 7741 : 2019 (ISO 9513 : 2012)

pdf 目次

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•  12.2 データの提示・・・・[8]
•  附属書A(参考)測定の不確かさ・・・・[9]
•  附属書B(参考)校正器の校正・・・・[13]
•  附属書C(参考)校正器の等級判定の例・・・・[15]
•  附属書D(参考)伸び計システムの構成例・・・・[21]
•  附属書E(参考)レーザ式伸び計・・・・[30]
•  附属書F(参考)ビデオ式伸び計・・・・[38]
•  附属書G(参考)全視野ひずみ計測ビデオ式伸び計・・・・[42]
•  附属書H(参考)クロスヘッド測定システムの校正・・・・[44]
•  参考文献・・・・[45]

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――――― [JIS B 7741 pdf 2] ―――――

                                                                    B 7741 : 2019 (ISO 9513 : 2012)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人
日本試験機工業会(JTM)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業
規格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本産業
規格である。これによって,JIS B 7741:2016は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 3)

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                              B 7741 : 2019
                                                                             (ISO 9513 : 2012)

一軸試験に使用する伸び計システムの校正方法

Calibration of extensometer systems used in uniaxial testing

序文

  この規格は,2012年に第3版として発行されたISO 9513を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本産業規格である。
  なお,対応国際規格にはないため追加した“引用規格欄”,及び規格の理解を深める目的で技術的内容を
変えずに追加した箇所には,点線の下線を施した。

1 適用範囲

  この規格は,一軸試験に使用する伸び計システムの静的な校正方法について規定する。この規格の伸び
計システムには,接触式及び非接触式の軸方向伸び計及び径方向伸び計を含む。
  なお,この規格は,直接ひずみを計測するものには適用しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 9513:2012,Metallic materials−Calibration of extensometer systems used in uniaxial testing(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1A 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 2271 金属材料のクリープ及びクリープ破断試験方法
      注記 対応国際規格 : ISO 204,Metallic materials−Uniaxial creep testing in tension−Method of test

2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
2.1
伸び計システム(extensometer system)
  試験片の表面の変位又はひずみを測定するために使用する装置。
    注記 この規格の目的として,“伸び計システム”には指示器を含む。伸び計の中には,例えば,レー
          ザ式伸び計,デジタル式画像相関装置など直接ひずみを表示するものもある。一方,試験片の
          標点距離の変化を示す伸び計もあり,この変位は対応する標点距離で除することによってひず
          みに変換できる(附属書D附属書H参照)。

――――― [JIS B 7741 pdf 4] ―――――

2
B 7741 : 2019 (ISO 9513 : 2012)
2.2
標点距離(gauge length)
  伸びを計測する試験片の部分。

3 記号及び意味

  この規格で用いる記号,意味及び単位記号は,表1による。
                                       表1−記号及び意味
                      記号                     意味                    単位
                      Le       伸び計標点距離の公称値                   mm
                      L'e      伸び計標点距離の計測値                   mm
                      lmax     校正範囲の最大変位                       mm
                      lmin     校正範囲の最小変位                       mm
                       li      伸び計によって表示された変位             μm
                       lt      校正器によって与えられた変位             μm
                      qLe      伸び計システムの相対標点距離誤差         %
                      qrb      伸び計システムの相対かたより誤差         %
                      qb       伸び計システムの絶対かたより誤差         μm
                       r       伸び計システムの分解能                   μm

4 原理

  伸び計システムの校正は,伸び計によって表示される読みと校正器によって与えられる既知の長さとの
比較による。
    注記1 伸び計の使用者は,校正を行う変位の範囲を規定してもよい。これによって,伸び計システ
            ムの性能を最適化することができる。例えば,ひずみ制御LCF(低サイクル疲労)に対して
            は,伸び計の作動範囲の小部分だけを通常使用する。この場合,作動範囲の中央部分に校正
            を集中するのが適切である。
  校正方法は,伸び計システムの出力と校正器からの既知変位とを比較する。この出力は,例えば,高精
度ダイヤルゲージの手動読みから,変換器,電子装置及びデータロギングシステムの変位表示まで広範囲
から選択できる。後者の場合,伸び計システムからの出力は,電子装置又はデータロギングシステムを用
いた任意のデータ曲線フィッティングを含む。
    注記2 伸び計システムの種類によっては,校正及び等級分類は,伸び計の標点距離を決める能力に
            よって左右される。

5 校正器

5.1 校正器

  伸び計システムの校正に用いる既知の変位ltを与える校正器は,適切な同軸スピンドルをもつ剛性フレ
ーム,又は伸び計を取り付けることのできる他の固定具で構成する。校正器は,軸スピンドルのうち少な
くとも一つを動かす機構と生じた長さの変化を正確に計測する装置とで構成しなければならない。これら
の長さ変化は,例えば,干渉計,リニアゲージ,ブロックゲージ,コンパレータ,マイクロメータなどに
よって計測できる。

――――― [JIS B 7741 pdf 5] ―――――

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