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C 2814-2-3 : 2009
却を用いてもよい。この温度で約10分間保ち,電圧降下を測定するために必要な場合は,更に温度を20
±2 ℃まで冷却する。
劣化試験の期間中,確実に安定した測定を行うため,周囲冷却状態において電圧降下を測定する。
IPCDの電圧降下は,24サイクル及び192サイクルが終わった後に測定し,記録する。
JIS C 2814-1の表2に規定する電流(定格電流だけを表示するものは,定格電流)を通電して,各締付
部で測定した最大許容電圧降下値は,次の二つのいずれか小さい方の値を超えてはならない。
・ 22.5 mV
・ 24回目のサイクル後の測定値の1.5倍
測定点は,可能な限りIPCDの締付部の近くとする。不可能な場合は,測定値から二つの測定点間の導
体における電圧降下の値を差し引く。
試験点の例を,図102に示す。
加熱槽内の温度は,サンプルから50 mm以上離れて測定しなければならない。
15.101.2 試験B : 試験装置は周囲温度環境内に置き,締付金具及びIPCD上の導体接続点のできるだけ
近くで40±5 ℃,又は関連製品の規格が要求するときは,それよりも高い温度を発生させる電流を流す。
試験電流は30分間通じ,30分間休止する。
電圧降下を,JIS C 2814-1の表2に規定する電流(定格電流だけを表示するものは,定格電流)を用い
て,24回目及び192回目の終了後に周囲冷却状態において測定する。電圧降下値は試験Aに示す値を超え
てはならない。
15.102 接続圧力を絶縁材料を介して伝えるIPCDの電気的特性は,15.102.1及び15.102.2の試験によっ
て判定する。
15.102.1 温度サイクル試験
試験手順は,次を除き,15.101に記載したものと同じである。
・ サイクル回数を192回から384回に増加する。
・ 各IPCDの電圧降下は,48回目及び384回目の後,各回とも20±2 ℃で測定する。電圧降下測定値は
次の二つのいずれか小さい方の値を超えてはならない。
・ 22.5 mV
・ 48回目の測定値の1.5倍
15.102.2 短時間耐電流試験
3個の新しいサンプルに非可とう導体(単線又はより線)又は可とう導体で最大断面積のものを接続す
る。IPCDが非可とう導体(単線又はより線)及び可とう導体で使用できるものは,可とう導体を使用す
る。
主線と分岐線とで断面積が異なるときは,IPCDは小さい方の導体に従った試験電流値で試験する。
ねじがあるときは,10.105のトルクで締め付ける。
IPCDは,接続導体の断面積当たり120 A/mm2に等しい電流に1秒間耐えなければならない。試験は1
回だけ行う。
IPCDが通常周囲温度に達した後,電圧降下試験を行う。電圧降下は,試験前に測定した値の1.5倍を超
えてはならない。
追加的な加熱を制限するために,試験前後の電圧降下を測定するための電流は,JIS C 2814-1の表2に
示す値(定格電流だけを表示するものは,定格電流)の10分の1とする。
この試験の後,通常又は矯正された視力の裸眼で付加的拡大をせずに目視検査を行い,その後の使用を
――――― [JIS C 2814-2-3 pdf 11] ―――――
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妨げるような明らかな変化,ひび,変形又はそれに類するようなものがあってはならない。
16 耐熱性
耐熱性は,JIS C 2814-1の箇条16による。
17 空間距離及び沿面距離
空間距離及び沿面距離は,JIS C 2814-1の箇条17による。
18 絶縁材料の耐過熱性及び耐火性
絶縁材料の耐過熱性及び耐火性は,JIS C 2814-1の箇条18による。
19 絶縁材料の耐トラッキング性
絶縁材料の耐トラッキング性は,JIS C 2814-1の箇条19による。
20 EMC要求事項
EMC要求事項は,JIS C 2814-1の箇条20による。
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単位 mm
端子
固定具
H
37.5
円板
ブッシング
おもり
IPCDを固定するとき,接続に影響するような余分な力がかからないよう,注意が必要である。
図101−試験装置
――――― [JIS C 2814-2-3 pdf 13] ―――――
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IPCD
主線を切断
I
主線
I
分岐線
電圧降下測定点
I =主線又は分岐線の内の細い方に従う試験電流
図102−試験点の例
――――― [JIS C 2814-2-3 pdf 14] ―――――
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接触圧力を金属板を通じ
伝達するIPCD
接触圧力を接続器具の絶縁材料を通じ
伝達するIPCD
分岐線
接触圧力を接続器具の絶縁材料と導体の
絶縁被覆の両方を通じて伝達するIPCD
主線
図103−IPCDの例
――――― [JIS C 2814-2-3 pdf 15] ―――――
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