JIS C 2820:2008 電気機械用ブラシ材料の物理特性試験方法 | ページ 3

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                                                                                                                                C 2820 : 2008
                                                                                                                                              C2
                                                                                                                                                  2
     (I)   ISの規定                     (II)   (III) 国際規格の規定                                          (V)   ISと国際規格との技術的差異の理由
                                                                              (IV)   ISと国際規格との技術的差異
                                       国際                                   の項目ごとの評価及びその内容  及び今後の対策
                                                                                                                                                 820
                                       規格                                    表示箇所 : 本体,附属書
                                                                                                                                                     : 2
                                       番号                                    表示方法 : 側線又は点線の下線
                                                                                                                                                       008
      項目番号           内容                  項目           内容            項目ごとの 技術的差異の内容
                                               番号                           評価
     5.2 硬さ                                 301                             MOD/削除
                                                     試験の種類(反発法及び押し          JISは,反発法だけを品質管理手法として実用的に優れ,一
                                                     込み法)を規定                      規定。             般的に使用されているショア硬さ試験
                                                                                                            機を用いた反発法だけを採用。
                 反発法の試験方法を規         302    反発法の試験方法を規定。    −              −                       −
                 定。
                 5.2.1試験装置                       302.1装置及び試験片      MOD/変更   C2形をC形に変更    C2形は,我が国で普及していないた
                 5.2.2試験片                                                  MOD/追加   し,D形を追加。    め,C形を基本とし,一般に使用され
                                                                                                            ているD形を追加。
                 5.2.3試験手順                       302.2装置の設定          IDT        −                 −
                                                     302.3試験手順            MOD/変更   測定点数を,少なく IEC規格は,表裏5点,各測定群の最
                                                                                         とも2面,各3点,   低値を除外した8点としているが,日
                                                                                         計6点以上とした。  米のブラシ業界では従来から6点が標
                                                                                                            準であり,資料が小さい場合測定が困
                                                                                                            難であり,また,8点とすると過去の
                                                                                                            データとの整合性がなくなり,実用上
                                                                                                            問題ないため,6点以上とした。
                          −                  303    押し込み法の試験方法を規 MOD/削除           −         研究的要素が強く,作業が繁雑であり
                                                     定。                                                   実用的でない。IEC規格からの削除を
                                                                                                            提案予定。
     5.3 抵抗率                               401                             MOD/削除
                                                     試験の種類(電圧降下法及び          JISは,電圧降下法だ品質管理手法として,一般的に使用さ
                                                     ケルビンブルッジ法)を規定          けを規定。         れている電圧降下法だけを採用。
                 電圧降下法の試験方法を       402    電圧降下法の試験方法を規    −              −                       −
                 規定。                              定。
                 5.3.1試験装置                       402.1装置及び試験片      MOD/変更   IEC規格の直流電源  近年の測定精度向上から,40 Aを通す
                 5.3.2試験片                                                             スペック40 Aを,3 A必要はない。IEC規格の修正を提案予
                                                                                                                                             C2
                                                                                         以上とした。       定。
                                                                                                                                                8
                 5.3.3試験手順                       402.2試験手順            IDT                −                       −
                                                                                                                                                 20 : 2
                 5.3.4計算                           402.3計算                IDT                −                       −
                                                                                                                                                      008
                                                                                                                                                2

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    C 2820 : 2008
                                                                                                                                             C2
                                                                                                                                                2
     (I)   ISの規定                     (II)   (III) 国際規格の規定                                          (V)   ISと国際規格との技術的差異の理由
                                                                              (IV)   ISと国際規格との技術的差異
                                                                                                                                                8
                                       国際                                   の項目ごとの評価及びその内容  及び今後の対策
                                                                                                                                                 20 : 2
                                       規格                                    表示箇所 : 本体,附属書
                                       番号                                    表示方法 : 側線又は点線の下線
                                                                                                                                                      008
      項目番号           内容                  項目           内容            項目ごとの 技術的差異の内容
                                               番号                           評価
     5.3 抵抗率           −                  403    ケルビンブルッジ法の試験 MOD/削除           −         類似の試験方法であり,実用的で優れ
     (続き)                                        方法を規定。                                           ている電圧降下法を採用。
     5.4 曲げ強さ5.4.1試験装置                501    501.1装置及び試験片      IDT                −                        −
                 5.4.2試験片
                 5.4.3支点間距離                                              MOD/変更   支点及び加圧くさび 実測値にほとんど影響を与えない範囲
                                                                                         の曲率半径及び支点 の差異であり,数値に幅をもたせ,IEC
                                                                                         間距離を我が国の実 規格による方法も含まれる内容とし
                                                                                         状を含む内容に広げ た。
                                                                                         た。
                 5.4.4試験手順                       501.2試験手順            IDT                −                        −
                 5.4.5計算                           501.3計算                IDT                −                        −
     5.5 灰分    灰分                         601    灰分                     IDT                −                        −
                                                     601.5金属ブラシ試験手順
                 5.5.1試験装置                       601.1試験装置            IDT                −                        −
                 5.5.2試料                           601.2試料                IDT                −                        −
                 5.5.3試験手順                       601.3試験手順            IDT                −                        −
                 5.5.4計算                           601.4計算                IDT                −                        −
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
     備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
          ― IDT  技術的差異がない。
          ― MOD/削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
          ― MOD/追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
                                                                                                                                              C2
          ― MOD/変更  国際規格の規定内容を変更している。
                                                                                                                                                 82
        2.   JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
                                                                                                                                                   0 : 2
          ― MOD  国際規格を修正している。
                                                                                                                                                       008
                                                                                                                                                  2