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C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
記号説明
UR 定格電圧
UC カテゴリ電圧
TR 定格温度
TC カテゴリ温度
図2−カテゴリ温度範囲と印加電圧との関係
2.4 表示
2.4.1 一般事項
品種別通則は,コンデンサ及び/又は包装上に表示する識別記号及びその他の事項を規定する(附属書
JA参照)。
小形のコンデンサには,表示の優先順位を規定する。
2.4.2 記号
静電容量値,静電容量許容差又は製造日を記号で表す場合には,JIS C 60062に規定する事項からその方
法を選定する(附属書JA参照)。
3 品質評価手順
品質評価手順は,附属書Qに示す。
注記 品質評価制度に関する付帯事項は,附属書A,附属書B,附属書C,附属書D及び附属書Fを
参照。
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C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
4 試験及び測定手順
注記 試験及び測定手順を次のようにカテゴリ別一覧にしている。
カテゴリ別分類及び試験項目 細分箇条番号
試験及び測定手順に関する一般情報
一般事項 4.1
標準大気条件 4.2
乾燥 4.3
保存 4.25
取付け(表面実装用コンデンサに適用) 4.33
電気的試験及び測定
絶縁抵抗 4.5
耐電圧 4.6
静電容量 4.7
誘電正接(損失角の正接)及び等価直列抵抗(ESR) 4.8
漏れ電流 4.9
インピーダンス 4.10
自己共振周波数及びインダクタンス 4.11
温度による静電容量変化 4.24
サージ 4.26
大電流サージ 4.39
充放電試験及び突入電流試験 4.27
誘電吸収 4.36
過渡過電圧(非固体電解コンデンサに適用) 4.40
機械的試験及び測定
外観検査及び寸法検査 4.4
外側はく端子 4.12
端子強度 4.13
振動 4.17
バンプ(繰返しのある衝撃) 4.18
衝撃 4.19
封止 4.20
固着性 4.34
耐プリント板曲げ性 4.35
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C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
カテゴリ別分類及び試験項目 細分箇条番号
環境及び耐候性試験
温度急変 4.16
一連耐候性 4.21
高温高湿(定常) 4.22
耐久性 4.23
高温及び低温特性 4.29
熱安定性 4.30
加速高温高湿(定常) 4.37
部品実装に関する試験
はんだ耐熱性 4.14
はんだ付け性 4.15
部品の耐溶剤性 4.31
表示の耐溶剤性 4.32
ウィスカ試験 4.41
安全に関する試験
圧力弁(アルミニウム電解コンデンサに適用) 4.28
耐炎性 4.38
4.1 一般事項
品種別通則及び/又はブランク個別規格には,試験項目,試験及び副群の前後に行う測定,並びにそれ
らの順序を規定する。各試験は,記載する順で行う。各試験における初期測定及び最終測定の測定条件は,
同じとする。
品質評価制度における国内仕様が,品種別通則及びブランク個別規格と異なる試験方法を含む場合には,
それらの事項を全て規定する。
品種別通則及びブランク個別規格での規定値は,絶対値である。測定の不確かさを考慮した原則を適用
する。
注記 下位規格(品種別通則,ブランク個別規格又は個別規格)に規定する最終測定を行うという記
述がある場合には,要求事項は,下位規格によることを示している。
4.2 標準大気条件
4.2.1 測定及び試験のための標準大気条件
この規格の下位となる品種別通則,ブランク個別規格又は個別規格(以下,下位規格という。)に規定が
ない場合には,全ての試験及び測定は,次に示すJIS C 60068-1:2016の4.3による標準大気条件で行う。
− 温度 : 15 ℃35 ℃
− 相対湿度 : 25 %75 %
− 気圧 : 86 kPa106 kPa
測定する前に,コンデンサ全体が測定温度に達するまで,コンデンサを測定温度中に十分な時間放置す
る。試験後の後処理において規定する時間は,通常,この目的を満足しなければならない。
規定する温度と異なる温度で測定する場合には,その結果を,必要に応じて,規定する温度に補正する。
測定中の周囲温度は,試験報告書に記録する。判定に疑義がある場合は,4.2.3に規定する判定状態及びこ
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C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
の規格で規定するその他の条件のうち,一つを用いて再測定する。
一連の試験を行う場合には,ある試験の最終測定値を,次に行う試験の初期値としてもよい。
測定中,誤差の原因となるような通風,直射日光又はその他の影響下にコンデンサをさら(曝)さない。
4.2.2 後処理
下位規格に規定がない場合には,後処理は,4.2.1の標準大気条件に放置する。
後処理が厳密な管理状態を必要とする場合は,JIS C 60068-1:2016の4.4.2による。
下位規格に規定がない場合は,後処理時間を1時間2時間とする。
JIS C 60068-1:2016の3.4に規定する後処理時間の定義として,次のようにコンデンサは制限される。
例えば,後処理時間を1時間2時間で規定する場合は,後処理の1時間後からコンデンサの測定(又
は,その後の処置)を開始してもよい。ただし,後処理の開始から2時間以内に終了する。
後処理時間の規定方法は,x時間y時間と規定することが望ましい。
4.2.3 判定のための標準大気条件(判定状態)
判定のための標準大気条件は,JIS C 60068-1:2016の4.2の中から選定する(表1参照)。
表1−判定状態
温度 相対湿度 気圧
℃ % kPa
20±1 6367 86106
23±1 4852 86106
25±1 4852 86106
27±1 6367 86106
4.2.4 標準基準大気条件(基準状態)
標準基準大気条件は,JIS C 60068-1:2016の4.1に規定する次の基準状態を適用する。
− 温度 : 20 ℃
− 気圧 : 101.3 kPa
4.3 乾燥
下位規格に規定がない場合には,コンデンサを温度(55±2)℃,相対湿度20 %以下の空気循環式恒温
槽の中で(96±4)時間放置する。
その後,コンデンサは,活性アルミナ又はシリカゲルのような適切な乾燥剤を用いてデシケータの中で
冷却してもよい。また,恒温槽から取り出してから規定する試験が始まるまで,その中に保管する。
4.4 外観検査及び寸法検査
4.4.1 外観検査
状態,でき栄え及び仕上げ状態は,目視で検査したときに要求事項を満足しなければならない(2.2.42
参照)。
表示は,目視で検査したときに明瞭で,個別規格の要求事項を満足しなければならない。
4.4.2 寸法(ゲージ法)
個別規格に規定する寸法を適切なゲージ法を用いて検査したとき,個別規格の規定値を満足しなければ
ならない。
ゲージ法を適用する場合には,測定は,IEC 60294又はIEC 60717の規定によって行う。
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C 5101-1 : 2019 (IEC 60384-1 : 2016)
4.4.3 寸法(詳細)
個別規格に規定する全ての寸法を検査し,規定値を満足しなければならない。
4.5 絶縁抵抗
4.5.1 前処理
この測定を行う前に,コンデンサは,十分に放電する。
4.5.2 測定条件
下位規格に規定がない場合には,絶縁抵抗は,表2に規定する電圧で測定する。
特に,個別規格に規定がない場合には,絶縁抵抗は,(60±5)秒間電圧を印加した後に測定する。
表2−絶縁抵抗の測定電圧
コンデンサの定格電圧 測定電圧
又はカテゴリ電圧
V V
(UR又はUC)<10 (UR又はUC)±10 %
10≦(UR又はUC)<100 10±1a)
100≦(UR又はUC)<500 100±15
500≦(UR又はUC) 500±50
注a) 電圧が測定結果に影響しないこと又は相関関係が明確であることが証明できる場
合には,定格電圧又はカテゴリ電圧まで電圧を上げて測定できる。疑義が発生し
たとき,品種別通則に規定がない場合は,測定電圧は10 Vとする。
URは,測定及び試験のための標準大気条件での測定電圧として用いる定格電圧である。
UCは,カテゴリ上限温度での測定電圧として用いるカテゴリ電圧である。
4.5.3 試験箇所
絶縁抵抗は,表3に示す中から下位規格に規定する測定箇所で測定する。
端子相互間の試験Aは,絶縁形又は非絶縁形にかかわらず,全てのコンデンサに適用する。
内部絶縁の試験Bは,非絶縁金属ケースに入った絶縁形コンデンサ,並びに絶縁形及び非絶縁形の多素
子コンデンサに適用する。
外部絶縁の試験Cは,非金属ケース又は絶縁金属ケースに入った絶縁形コンデンサに適用する。この試
験で,測定電圧は,下位規格に規定する4.5.4の三つの方法のうちの一つを用いて印加する。
4.5.4 試験方法
4.5.4.1 金属はく法
金属はくをコンデンサ本体の周りにしっかりと巻く。
反対方向の端子(アキシャル端子)をもつコンデンサでは,金属はくと端子との間隔を1 mm以上確保
できるようにして,コンデンサの両端から5 mm以上はみ出して金属はくを巻く。金属はくと端子との間
隔が1 mm以上確保できない場合には,1 mmの間隔が得られるように,金属はくのはみ出しを小さくする。
同一方向の端子(ラジアル端子)をもつコンデンサでは,金属はくの端と各端子間との間隔を1 mm以
上確保する。
4.5.4.2 取付構造をもつコンデンサの方法(金属板法)
コンデンサは,コンデンサの取付面から全ての方向に12.7 mm以上延ばした金属板上に通常の方法で取
り付ける。
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JIS C 5101-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-1:2016(IDT)
JIS C 5101-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-1:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5005-2:2010
- 品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
- JISC60062:2019
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC60063:2018
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8000-1:2014
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