JIS C 5101-21:2021 電子機器用固定コンデンサ―第21部:品種別通則―表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-21:2021 規格概要

この規格 C5101-21は、JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用の外装なし固定積層磁器コンデンサ種類1の表面実装用積層コンデンサについて規定。

JISC5101-21 規格全文情報

規格番号
JIS C5101-21 
規格名称
電子機器用固定コンデンサ―第21部 : 品種別通則―表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
規格名称英語訳
Fixed capacitors for use in electronic equipment -- Part 21:Sectional specification -- Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1
制定年月日
2006年3月25日
最新改正日
2021年2月22日
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‐ 
対応国際規格

ISO

IEC 60384-21:2019(IDT)
国際規格分類

ICS

31.060.10
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2006-03-25 制定日, 2010-10-01 確認日, 2014-02-20 改正日, 2018-10-22 確認日, 2021-02-22 改正
ページ
JIS C 5101-21:2021 PDF [36]
                                                              C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 個別規格に規定する事項・・・・[3]
  •  4.1 一般事項・・・・[3]
  •  4.2 外形図及び寸法・・・・[3]
  •  4.3 取付け・・・・[3]
  •  4.4 定格及び特性・・・・[3]
  •  4.5 表示・・・・[4]
  •  5 表示・・・・[4]
  •  5.1 一般事項・・・・[4]
  •  5.2 表示項目・・・・[4]
  •  5.3 コンデンサ本体への表示・・・・[4]
  •  5.4 表示の要求事項・・・・[4]
  •  5.5 コンデンサの包装への表示・・・・[4]
  •  5.6 表示の追加・・・・[4]
  •  6 推奨特性及び定格・・・・[4]
  •  6.1 推奨特性・・・・[4]
  •  6.2 推奨定格値・・・・[5]
  •  7 品質評価手順・・・・[8]
  •  7.1 製造の初期工程・・・・[8]
  •  7.2 構造的に類似なコンデンサ・・・・[8]
  •  7.3 出荷対象ロットの成績証明書・・・・[8]
  •  7.4 品質認証・・・・[8]
  •  7.5 品質確認検査・・・・[12]
  •  8 試験及び測定方法・・・・[14]
  •  8.1 一般事項・・・・[14]
  •  8.2 予備乾燥・・・・[14]
  •  8.3 測定条件・・・・[14]
  •  8.4 取付け・・・・[14]
  •  8.5 外観及び寸法の検査・・・・[14]
  •  8.6 電気的試験・・・・[16]
  •  8.7 静電容量の温度係数(α)及び温度サイクルによる静電容量のずれ・・・・[18]
  •  8.8 固着性・・・・[18]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5101-21 pdf 1] ―――――

           C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)

pdf 目次

ページ

  •  8.9 耐プリント板曲げ性・・・・[18]
  •  8.10 はんだ耐熱性・・・・[19]
  •  8.11 はんだ付け性・・・・[20]
  •  8.12 温度急変・・・・[21]
  •  8.13 一連耐候性・・・・[22]
  •  8.14 高温高湿(定常)・・・・[23]
  •  8.15 耐久性・・・・[24]
  •  8.16 端子強度(板端子をもつコンデンサに適用)・・・・[25]
  •  8.17 部品の耐溶剤性(適用する場合)・・・・[25]
  •  8.18 表示の耐溶剤性(適用する場合)・・・・[25]
  •  8.19 加速高温高湿(定常)(適用する場合)・・・・[25]
  •  附属書A(規定)表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1の寸法の記号及び規定に関する指針・・・・[27]
  •  附属書B(参考)基準温度25 ℃に対する公称温度係数とその許容差との組合せ・・・・[28]
  •  附属書X(参考)JIS C 5101-21:2014との対比表・・・・[29]

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――――― [JIS C 5101-21 pdf 2] ―――――

                                                             C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人
電子情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本
産業規格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本
産業規格である。これによって,JIS C 5101-21:2014は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5101の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5101-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 5101-2 第2部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
        デンサ
    JIS C 5101-2-1 第2-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
        ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-3 第3部 : 品種別通則 : 表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ
    JIS C 5101-3-1 第3-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ
        評価水準EZ
    JIS C 5101-4 第4部 : 品種別通則−固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ
    JIS C 5101-4-1 第4-1部 : ブランク個別規格 : アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-4-2 第4-2部 : ブランク個別規格 : アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ−評価水準
        EZ
    JIS C 5101-8 第8部 : 品種別通則 : 固定磁器コンデンサ 種類1
    JIS C 5101-8-1 第8-1部 : ブランク個別規格 : 固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
    JIS C 5101-9 第9部 : 品種別通則 : 固定磁器コンデンサ 種類2
    JIS C 5101-9-1 第9-1部 : ブランク個別規格 : 固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
    JIS C 5101-11 第11部 : 品種別通則 : 固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
        ンサ
    JIS C 5101-11-1 第11-1部 : ブランク個別規格 : 固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
        直流コンデンサ 評価水準EZ
    JIS C 5101-13 第13部 : 品種別通則 : 固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
    JIS C 5101-13-1 第13-1部 : ブランク個別規格 : 固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
        サ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-14 第14部 : 品種別通則 : 電源用電磁障害防止固定コンデンサ
    JIS C 5101-14-1 第14-1部 : ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ
    JIS C 5101-14-2 第14-2部 : ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−安全性試験
    JIS C 5101-15 第15部 : 品種別通則 : 固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS C 5101-21 pdf 3] ―――――

           C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)

pdf 目次

    JIS C 5101-15-1 第15部 : ブランク個別規格 : はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
        水準E
    JIS C 5101-15-2 第15部 : ブランク個別規格 : 焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
        E
    JIS C 5101-15-3 第15部 : ブランク個別規格 : 焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
    JIS C 5101-16 第16部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
    JIS C 5101-16-1 第16-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
        デンサ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-17 第17部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
        デンサ
    JIS C 5101-17-1 第17-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
        パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-18 第18部 : 品種別通則−表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コン
        デンサ
    JIS C 5101-18-1 第18-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コン
        デンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-18-2 第18-2部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
        −評価水準EZ
    JIS C 5101-20 第20部 : 品種別通則 : 表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
        ム直流コンデンサ
    JIS C 5101-20-1 第20-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
        ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
    JIS C 5101-21 第21部 : 品種別通則−表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
    JIS C 5101-21-1 第21-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準
        EZ
    JIS C 5101-22 第22部 : 品種別通則−表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
    JIS C 5101-22-1 第22-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準
        EZ
    JIS C 5101-23 第23部 : 品種別通則 : 表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
        ム直流コンデンサ
    JIS C 5101-23-1 第23-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
        ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
    JIS C 5101-24 第24部 : 品種別通則 : 表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ
    JIS C 5101-24-1 第24-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解
        コンデンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-25 第25部 : 品種別通則 : 表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ
        ンサ
    JIS C 5101-25-1 第25-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)
        電解コンデンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-26 第26部 : 品種別通則−固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ

(pdf 一覧ページ番号 4)

――――― [JIS C 5101-21 pdf 4] ―――――

                                                             C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
    JIS C 5101-26-1 第26-1部 : ブランク個別規格 : 固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ
        ンサ 評価水準EZ

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS C 5101-21 pdf 5] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                         C 5101-21 : 2021
                                                                        (IEC 60384-21 : 2019)
                       電子機器用固定コンデンサ−
                            第21部 : 品種別通則−
            表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 21: Sectional specification-Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1

序文

 この規格は,2019年に第3版として発行されたIEC 60384-21を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用の外装なし固定積層磁器コン
デンサ種類1の表面実装用積層コンデンサ(以下,コンデンサという。)について規定する。この規格に規
定するコンデンサは,金属化電極又ははんだ付け用板端子をもち,プリント配線板又はハイブリッド回路
用基板に直接搭載することを意図している。
  電磁障害防止固定コンデンサは,この規格を適用せず,JIS C 5101-14を適用する。
  この規格の目的は,コンデンサの推奨する定格及び特性について規定するとともに,JIS C 5101-1から
適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般要求事項を規定することである。この品種別
通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は,この規格よりも低い水準ではなく同等
又は高い水準である。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60384-21:2019,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 21: Sectional specification
              −Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

――――― [JIS C 5101-21 pdf 6] ―――――

           2
C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
             sampling plans for inspection of electronic components and packages
    JIS C 5101-1:2019 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60384-1:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
             Generic specification
    JIS C 60063:2018 抵抗器及びコンデンサの標準数列
      注記 対応国際規格 : IEC 60063:2015,Preferred number series for resistors and capacitors
    JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気·電子−第1部 : 通則及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance
    JIS C 60068-2-58:2020 環境試験方法−電気·電子−第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け
        性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2015,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)及びAmendment 1:2017
    JIS Z 8601:1954 標準数
      注記 対応国際規格 : ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1:2019によるほか,次による。
3.1
表面実装用積層コンデンサ(surface mount multilayer capacitor)
  寸法が小形で,端子の形状がハイブリッド回路及びプリント配線板の表面実装用に適した積層形コンデ
ンサ。
3.2
磁器コンデンサ種類1(capacitor of ceramic dielectric, Class 1)
  電子機器の共振回路,その他一般に損失が低く,温度などに対する静電容量の安定性が必要な回路で,
主に温度補償用に用いる磁器を誘電体としたコンデンサ。
    注記 この磁器の誘電体は,公称温度係数(α)によって区別している。
3.3
サブクラス(subclass)
  公称温度係数とその許容差との組合せによる種類1の下位分類。
    注記1 表2参照。
    注記2 公称温度係数及びその許容差は,温度範囲が+20 ℃+85 ℃のものである。ただし,温度
            と静電容量との関係(TC Curve)は厳密には直線でないため,その他の温度に対する静電容
            量変化(ΔC/C)の限界値を規定する必要がある(表3参照)。
3.4
カテゴリ温度範囲(category temperature range)
  設計上,コンデンサを連続的に使用可能な周囲温度範囲。
    注記 カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度とによって規定している。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 7] ―――――

                                                                                             3
                                                              C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
3.5
定格温度,TR(rated temperature,TR)
  定格電圧を連続して印加してもよい最高周囲温度。
3.6
定格電圧,UR(rated voltage,UR)
  カテゴリ下限温度と定格温度との間の任意の温度で,コンデンサに連続して印加してもよい最高直流電
圧。
    注記 最高直流電圧は,コンデンサに印加する直流電圧と,交流電圧のピーク値又はパルス電圧のピ
          ーク値との和である。
3.7
カテゴリ電圧,UC(category voltage,Uc)
  カテゴリ上限温度でコンデンサに連続して印加可能な最高電圧。

4 個別規格に規定する事項

4.1 一般事項

  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
  個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を規
定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9に記載し,更に,
試験計画の中に,例えば,アステリスク(*)を付けて明示する。
  4.2の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
  個別規格には,4.24.5の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定するこ
とが望ましい。

4.2 外形図及び寸法

  外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易になるように図示する。
  コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,全ての
寸法は,ミリメートル(mm)で規定する。
  寸法表示は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。必要がある場合で,例えば,幾つかの組合せ(寸法
及び公称静電容量と定格電圧との組合せ範囲)を個別規格に規定する場合は,寸法及び寸法許容差を図の
下に表で示す。
  形状が上記のコンデンサと異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法表示を個別規格に規定する。

4.3 取付け

  個別規格には,通常に用いる場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(適用する場
合)は,8.4による。

4.4 定格及び特性

4.4.1 一般事項
  定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,4.4.24.4.4による。
4.4.2 公称静電容量範囲
  公称静電容量の範囲は,6.2.4.1による。
  IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが
異なるとき,次の文章を追加することが望ましい。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 8] ―――――

           4
C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
  “各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証電子部品一覧表(QPL)による。また,品質認証電
子部品一覧表(QPL)は,IECオンラインサービス(https://certificates.iecq.org/)で参照可能である。”
4.4.3 特殊な特性
  設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加規定してもよい。
4.4.4 はんだ付け
  はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求事項は,個別規格に規定する。

4.5 表示

  コンデンサ及びその包装に対する表示項目は,個別規格に規定する。表示項目が,箇条5と異なる事項
は,個別規格に明記する。

5 表示

5.1 一般事項

  JIS C 5101-1:2019の2.4によるほか,この規格の5.25.6による。

5.2 表示項目

  表示する項目は,次の中から通常,選定される。表示の優先順位は,記載の順である。
− 公称静電容量
− 定格電圧〔直流電圧は,記号   [IEC 60417-5031(2002-10)]又は  で表してもよい。〕
− 公称静電容量の許容差
− 公称温度係数及び適用可能な場合は,その許容差(6.2.5参照)
− 製造年月又は製造年週
− 製造業者名又はその商標
− 耐候性カテゴリ
− 製造業者の形名
− 引用個別規格

5.3 コンデンサ本体への表示

  一般的にコンデンサ本体に表示はしない。ただし,表示が可能な場合は,5.2に規定する項目から選定し,
明瞭に表示する。また,コンデンサ本体への表示の重複は避けることが望ましい。

5.4 表示の要求事項

  全ての表示は,明瞭で,かつ,指でこすって汚れたり消えてはならない。

5.5 コンデンサの包装への表示

  コンデンサの包装には,5.2の全項目を明瞭に表示する。

5.6 表示の追加

  表示項目を追加する場合には,混乱しないように表示する。

6 推奨特性及び定格

6.1 推奨特性

  ここでは,推奨特性の中で推奨耐候性カテゴリだけを規定する。
  この規格に規定するコンデンサは,JIS C 60068-1:2016の附属書Aに規定する一般原則に基づく耐候性
カテゴリに分類する。
  カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 9] ―――――

                                                                                             5
                                                              C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
− カテゴリ下限温度 : −55 ℃,−40 ℃,−25 ℃,−10 ℃及び+10 ℃
− カテゴリ上限温度 : +70 ℃,+85 ℃,+100 ℃,+125 ℃及び+150 ℃
− 高温高湿(定常)(温度40 ℃,相対湿度93 %)の試験期間 : 4日,10日,21日及び56日
  低温試験及び高温試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
    注記 上記の耐候性カテゴリによる耐湿性[高温高湿(定常)]は,取付け前のコンデンサに対するも
          のであり,取付け後のコンデンサの耐候性能は,取付用プリント配線板,取付方法(8.4参照)
          及び最終保護コーティングに大きく影響を受ける。

6.2 推奨定格値

6.2.1 定格温度(TR)
  カテゴリ上限温度が125 ℃以下の場合,この規格に規定するコンデンサの定格温度は,カテゴリ上限温
度と同じとする。
6.2.2 定格電圧(UR)
  定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR5の標準数とする。ただし,その他の値が必要な場合は,
R10の標準数の値から選定する。
  コンデンサに印加する電圧は,直流電圧に重畳した交流電圧の波形の電圧ピーク値,又は交流電圧のピ
ーク間の電圧のいずれか大きい値で,その値は,定格電圧以下とする。
6.2.3 カテゴリ電圧(UC)
  定格温度がカテゴリ上限温度と同じ場合,JIS C 5101-1:2019の2.2.5の定義のように,カテゴリ電圧は,
定格電圧と同じである。カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合,又は定格電圧が500 Vを超える場合の
カテゴリ電圧は,個別規格に規定する。
6.2.4 公称静電容量及びその許容差の推奨値
6.2.4.1 公称静電容量(CN)の推奨値
  公称静電容量の推奨値は,JIS C 60063に規定するE6,E12及びE24の標準数列から選定する。
6.2.4.2 公称静電容量の許容差の推奨値
  公称静電容量の許容差の推奨値は,表1による。
                               表1−公称静電容量の許容差の推奨値
                      標準数列                   許容差
                                 CN≧10 pF    記号   CN<10 pF    記号
                                  の場合               の場合
                        E6       ±20 %       M      ±2 pF       G
                        E12      ±10 %       K      ±1 pF       F
                        E24       ±5 %       J      ±0.5 pF     D
                                   ±2 %       G      ±0.25 pF    C
                                   ±1 %       F      ±0.1 pF     B
6.2.5 静電容量の温度係数(α)
6.2.5.1 公称温度係数及びその許容差
  表2に,公称温度係数及びその許容差を1ケルビン当たりの百万分率(10−6/K)で表し,対応するサブ
クラス及び記号を規定する。
  個別規格には,それぞれの公称温度係数に対して,その許容差が確認可能な静電容量の最小値を規定す
る。また,この最小値は,規定した静電容量測定方法の確度を考慮する。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 10] ―――――

           6
C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
  静電容量値がこの最小値よりも低い場合は,次による。
a) 個別規格には,カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電容量の許容変化値である公称温度係
    数(α)の許容差に対する増加係数を規定する。
b) 特別な測定方法が必要であり,その方法を適用する場合は,個別規格に規定する。
                                表2−公称温度係数及びその許容差
               公称温度係数       公称温度係数の許容差 サブクラス        記号
                  10−6/K               10−6/K                       α     許容差
                  +100                   ±30            1B         A        G
                      0                   ±30            1B         C        G
                   −33                   ±30            1B         H        G
                   −75                   ±30            1B         L        G
                  −150                   ±30            1B         P        G
                  −220                   ±30            1B         R        G
                  −330                   ±60            1B         S        H
                  −470                   ±60            1B         T        H
                  −750                  ±120            1B         U        J
                 −1000                  ±250             1F        Q        K
                 −1500                  ±250             1F        V        K
                                            a)
             +140≧α≧−1 000                            1C        SL        −
        注記1 下線がある0,−150及び−750は,推奨する公称温度係数(α)を示している。
        注記2 公称温度係数及びその許容差は,温度20 ℃と85 ℃との間の静電容量変化で定義してい
               る。
        注記3 例えば,公称温度係数0×10−6/Kで許容差±30×10−6/Kのコンデンサを,CGコンデンサ
               (サブクラス1B)という。
        注a) この温度係数は,表3に静電容量の許容変化率の規定がないため,検査の対象とはしない。
    注記 基準温度25 ℃における参考情報を附属書Bに示している。
6.2.5.2 静電容量変化の許容値
  公称温度係数とその許容差との各組合せに対応する,カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電
容量変化の許容値は,表3による。静電容量変化の許容値は,公称温度係数及び温度差から算出でき,千
分率(×10−3)で表す(表3の注記3参照。)。また,公称温度係数及びその許容差は,1ケルビン当たり
の百万分率(10−6/K)で表す。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 11] ―――――

                                                                                             7
                                                              C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
                                   表3−静電容量変化の許容値
    公称温度係数及び           20 ℃と表中の温度との間の静電容量変化の許容値(×10−3)
       その許容差             カテゴリ下限温度                   カテゴリ上限温度
      α    許容差  −55 ℃ −40 ℃ −25 ℃ −10 ℃ +70 ℃ +85 ℃ +100 ℃ +125 ℃
    10−6/K 10−6/K
     +100   ±30   −9.75/ −7.80/ −5.85/ −3.90/  3.50/   4.55/   5.60/   7.35/
                      −3.71  −2.96  −2.22  −1.48   6.50    8.45    10.4    13.7
         0   ±30   −2.25/ −1.80/ −1.35/ −0.90/ −1.50/ −1.95/ −2.40/ −3.15/
                       5.45    4.36    3.27    2.18    1.50    1.95    2.40    3.15
      −33   ±30    0.225/  0.180/  0.135/  0.090/ −3.15/ −4.10/ −5.04/ −6.62/
                        8.47    6.77    5.08    3.39  −0.15  −0.195 −0.240 −0.32
      −75   ±30    3.38/   2.70/   2.03/   1.35/  −5.25/ −6.83/ −8.40/ −11.0/
                       12.3    9.85    7.39    4.92   −2.25  −2.93  −3.60  −4.73
     −150   ±30    9.00/   7.20/   5.40/   3.60/  −9.00/ −11.7/ −14.4/ −18.9/
                       19.2    15.3    11.5    7.67    −6.0  −7.80  −9.60  −12.6
     −220   ±30    14.3/   11.4/   8.55/   5.70/  −12.5/ −16.2/ −20.0/ −26.3/
                       25.6    20.5    15.3    10.2   −9.50  −12.4  −15.2  −20.0
     −330   ±60    20.3/   16.2/   12.2/   8.10/  −19.5/ −25.4/ −31.2/ −41.0/
                       38.4    30.7    23.0    15.4   −13.5  −17.6  −21.6  −28.4
     −470   ±60    30.8/   24.6/   18.5/   12.3/  −26.5/ −34.5/ −42.4/ −55.7/
                       51.2    41.0    30.7    20.5   −20.5  −26.7  −32.8  −43.1
     −750  ±120    47.3/   37.8/   28.4/   18.9/  −43.5/ −56.6/ −69.6/ −91.4/
                       82.3    65.8    49.4    32.9   −31.5  −41.0  −50.4  −66.2
    −1000  ±250    56.3/   45.0/   33.8/   22.5/  −62.5/ −81.3/  −100/ −131/
                        117    93.7    70.2    46.8   −37.5  −48.8   −60.0 −78.8
    −1500  ±250    93.8/   75.0/   56.3/   37.5/  −87.5/  −114/  −140/ −184/
                       163     130     97.7    65.1   −62.5   −81.3  −100  −131
      カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合は,静電容量変化の許容値を個別規格に規定する。
    注記1 下線がある0,−150及び−750は,推奨する公称温度係数(α)を示している。
    注記2 20 ℃カテゴリ上限温度の温度範囲における温度係数限界値(静電容量変化の許容値)は,公称温度
           係数及びその許容差によって算出している[注記3のa)参照]。
            20 ℃−55 ℃の温度範囲における温度係数限界値(静電容量変化の許容値)は,注記3のb)及び
           c)によって算出している。
    注記3 カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容値は,b)及びc)によって算出している。
           a) カテゴリ上限温度における静電容量変化の許容範囲 : 
              ΔC/C×(10−3)=(公称温度係数±温度係数許容差*)×(カテゴリ上限温度−20)/1 000
           b) カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容下限値 : 
              ΔC/C×(10−3)=(公称温度係数+温度係数許容差*)×(カテゴリ下限温度−20)/1 000
           c) カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容上限値 : 
              ΔC/C×(10−3)=[(−36)−(1.22×温度係数許容差*)+(0.22×公称温度係数)+公称温度係数]×(カテ
              ゴリ下限温度−20)/1 000
            ここに,“温度係数許容差*”は,絶対値である。
    注記4 表中の“/”は,A/Bの場合,Aは下限値,Bは上限値を示している。
6.2.6 寸法
  寸法の記号及び規定に関する指針は,附属書Aによる。
  寸法の詳細は,個別規格に規定する。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 12] ―――――

           8
C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)

7 品質評価手順

7.1 製造の初期工程

  製造の初期工程は,誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。

7.2 構造的に類似なコンデンサ

  構造的に類似なコンデンサは,外形寸法及び定格値が異なっていても,同じ工程及び同じ材料で製造し
たコンデンサとする。

7.3 出荷対象ロットの成績証明書

  個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 5101-1:2019のQ.1.5によって出荷対
象ロットの成績証明書を提出可能にしておく。耐久性試験後の要求事項は,静電容量の変化,誘電正接(tan
       及び絶縁抵抗とする。

7.4 品質認証

7.4.1 一般事項
  品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2による。
  ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,7.5による。定数抜取手順は,7.4.2
及び7.4.3による。
7.4.2 定数抜取手順に基づく品質認証
  定数抜取手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2.4の規定による。試料は,認証を得ようとするコンデンサの
全ての範囲を代表するものとし,個別規格に規定する全ての範囲であっても,また,その一部でもよい。
  公称温度係数ごとに試料は,外形寸法の最大値及び最小値と,定格電圧の最高値及び最低値との4組合
せとし,それぞれの公称静電容量が最大のものを選定する。定格電圧が5種類以上の場合は,中間の定格
電圧についても試験をする。したがって,品質認証試験は,公称温度係数ごとに,4組合せ又は6組合せ
(公称静電容量と定格電圧との組合せ)の試料が必要である。また,認証範囲で3組合せ以下の場合の試
料数は,4組合せと同じ試料数とする。公称温度係数が二つ以上のコンデンサについて同時に認証試験を
実施する場合の試料数は,7.4.3による。
  評価水準EZを適用する場合の予備試料は,次による。
  予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)としてもよい。
  群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての試験を適用しない場
合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
  品質認証の試験計画に群を追加する場合,群0の試料数は,追加する群に必要な個数を追加する。
  品質認証試験の場合の各群又は副群の試料数及び合格判定数は,表4による。
7.4.3 試験
  表4及び表5に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,規定の順に従って実施する。
  全ての試料は,群0の試験を実施した後,その他の群に分割する。
  群0の試験で発生した不適合は,その他の群に用いてはならない。
  1個のコンデンサが,一つの群内の試験で全て又は一部の試験項目で不適合となったとき,“1個の不適
合品”と数える。
  公称温度係数が二つ以上のコンデンサについて同時に認証試験を実施する場合,公称温度係数が最も小
さいものの試験計画及び試料数は,群1,群2及び群3の試験の規定による。その他の公称温度係数のも

――――― [JIS C 5101-21 pdf 13] ―――――

                                                                                             9
                                                              C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
のは,副群3.3及び群4の試験だけを規定の試料数で実施する。
  品質認証の判定は,それぞれの公称温度係数ごとに,表4に規定する合格判定数によって実施する。最
も小さい公称温度係数の群1,群2及び群3での合計不適合品数と,対象となる公称温度係数の副群3.3
及び群4での不適合品数との合計で判定する。
  判定では,各群又は副群での不適合品数がゼロの場合に,合格とする。
  表4及び表5は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成している。表4は,各試験群に対する
試験項目,試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,表5は,箇条8に規定する試験の詳細と
合わせて,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条件
などを規定している。
  定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
                       表4−品質認証試験の定数抜取試験計画−評価水準EZ
         群又は副          試験項目          細分箇条番号    試料数     合格判定数
         群の番号                                               n e)          c
            0    外観                            8.5        132+24 f)      0
                  寸法                            8.5
                  静電容量                        8.6.1
                  誘電正接                        8.6.2
                  絶縁抵抗                        8.6.3
                  耐電圧                          8.6.4
                  予備試料                         −           12           −
           1A    端子強度g)                      8.16          12           0
                  はんだ耐熱性                    8.10
                  部品の耐溶剤性b)                8.17
           1B    はんだ付け性                    8.11          12           0
                  表示の耐溶剤性b)                8.18
            2    耐プリント板曲げ性d)            8.9          12            0
           3 a)  取付け                          8.4        84+24 f)       0 c)
                  外観                            8.5
                  静電容量                        8.6.1
                  誘電正接                        8.6.2
                  絶縁抵抗                        8.6.3
                  耐電圧                          8.6.4
           3.1   固着性h)                        8.8           24           0
                  温度急変                        8.12
                  一連耐候性                      8.13
           3.2   高温高湿(定常)                8.14          24           0
           3.3   耐久性                          8.15          36           0
           3.4   加速高温高湿(定常)b)          8.19          24 f)        0
            4    静電容量の温度係数及び温度サ    8.7          12            0
                  イクルによる静電容量のずれ
        注a) この測定値は,その後の副群3.1副群3.4の試験での初期値とする。
           b) 個別規格に規定がある場合に適用する。
           c) 取付け後に不適合品が見つかったコンデンサは,続く試験の許容不適合品数の算出に用い
              てはならない。これらの不適合品は予備試料と交換する。
           d) 個別規格にアルミナ基板だけに取り付けると規定しているコンデンサには適用しない。

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           10
C 5101-21 : 2021 (IEC 60384-21 : 2019)
                   表4−品質認証試験の定数抜取試験計画−評価水準EZ(続き)
        注e) 定格電圧と公称静電容量との組合せで7.4.2による。
           f) 副群3.4を試験する場合の追加試料。
           g) 板端子をもつコンデンサに適用する。
           h) 板端子をもつコンデンサには適用しない。
                                    表5−品質認証の試験計画
    細分箇条番号及び   D又は            試験条件           試料数(n)      要求事項
        試験項目        ND           (注記1参照)         及び合格判    (注記1参照)
     (注記1参照)                                            定数(c)
 群0                    ND                                 表4による。
 8.5 外観                                                               8.5.3による。
                                                                         表示は,明瞭である。
                                                                         その他は,個別規格の規
                                                                         定による。
 8.5 寸法(詳細)                                                       個別規格の規定による。
 8.6.1 静電容量               周波数 :  · Hz                           規定の許容差による。
                               測定電圧 :  · V(実効値)
 8.6.2 誘電正接               周波数及び測定電圧は,8.6.1によ          8.6.2.3による。
 (tan                        る。
 8.6.3 絶縁抵抗               方法は,個別規格の規定による。           8.6.3.4による。
 8.6.4 耐電圧                 方法は,個別規格の規定による。           永久破壊及びフラッシオ
                                                                         ーバがない。
 群1A                    D                                 表4による。
 8.16 端子強度                試験Ua1 力 : 2.5 N
 (適用可能な場合)           試験Ub  方法1 : 力 : 2.5 N
                               曲げ回数 : 1回
                               外観                                     損傷がない。
 8.10.2 初期測定              静電容量

8.10 はんだ耐熱性

            方法は,個別規格の規定による。
                               後処理時間 : 6 h24 h
 8.10.5 最終測定              外観                                     8.10.5による。
                               静電容量                                 8.10.5による。
 8.17 部品の耐溶剤性          溶剤 :  ·                                個別規格の規定による。
 (適用する場合)             溶剤の温度 :  ·
                               方法2
                               後処理時間 :  ·
 群1B                    D                                 表4による。

8.11 はんだ付け性

            方法は,個別規格の規定による。
 8.11.4 最終測定              外観                                     8.11.4による。
 8.18 表示の耐溶剤性a)        溶剤 :  ·                                表示は,明瞭である。
 (適用する場合)             溶剤の温度 :  ·
                               方法1
                               ラビングの材料 : 脱脂綿
                               後処理時間 :  ·

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JIS C 5101-21:2021の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60384-21:2019(IDT)

JIS C 5101-21:2021の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5101-21:2021の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称

用語・記号,基本,機器・装置

価格 19,140円(税込)本体価格:17,400円

発売年月日:2018-07-31

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