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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
表3−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験及び測定条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験・検査項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)
群0 ND 表2による。
4.2.1 外観 4.2.2による。 個別規格の規定による。
4.2 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.3.2 静電容量 4.3.2.2による。 規定の許容差による。
4.3.3 誘電正接 4.3.3.2による。 表7による。
4.3.1 耐電圧 4.3.1.2及び4.3.1.3による。 絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。ただし,一時的瞬時
破壊があってもよい。
4.3.4 絶縁抵抗 4.3.4.2による。 表8による。
群1A D 表2による。
4.6 はんだ耐熱性
4.6.3による。
4.6.2 初期測定
静電容量 4.3.2.2による。
4.6.4 後処理 4.6.4による。
4.6.5 最終測定
外観 4.2.2による。 クラックのような損傷の兆候
がない。
静電容量c), e) 4.3.2.2による。 4.6.2の測定値に対して,
性能等級1及び2
|ΔC/C|≦3 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦5 %
4.13 部品の耐溶剤性 4.13による。 個別規格の規定による。
方法2
群1B D 表2による。
4.7 はんだ付け性
4.7.2による。
4.7.3 最終測定
外観c), e) 4.2.2による。 端子の表面部分は,新しいは
んだで覆われていて,僅かに
点在する部分以外に,ピンホ
ール,ぬれなし及びはんだは
じきがない。
4.14 表示の耐溶剤性 4.14による。 表示は,明瞭とする。
方法1
群2 D 表2による。
4.5 耐プリント板曲げ JIS C 5101-1の4.35による。
性d)
4.5.2 初期測定
静電容量 4.3.2.2による。
4.5.3 最終測定
外観 4.2.2による。 損傷がない。
静電容量 4.3.2.2による(プリント配線板 4.5.2の測定値に対して,
を曲げた状態)。 性能等級1及び2
|ΔC/C|≦2 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦5 %
――――― [JIS C 5101-23 pdf 11] ―――――
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
表3−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験及び測定条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験・検査項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)
群3 D 表2による。
4.1 取付け
4.1による。
プリント配線板の材質 : ...d)
4.2.2 最終測定
外観 4.2.2による。 個別規格の規定による。
静電容量 4.3.2.2による。 4.3.2の測定値に対して,
|ΔC/C|≦2 %
誘電正接 4.3.3.2による。 個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.3.4.2による。 個別規格の規定による。
群3.1 D 表2による。
4.4 固着性
4.4による。
4.8 温度急変
4.8.3による。
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
4.8.2 初期測定
静電容量 4.3.2.2による。
誘電正接 4.3.3.2による。
4.8.4 最終測定
外観 4.2.2による。 損傷がない。
静電容量 4.3.2.2による。 個別規格の規定による。
誘電正接 4.3.3.2による。 個別規格の規定による。
4.9 一連耐候性
4.9.2 初期特性
静電容量 4.3.2.2による。
誘電正接
CN≦1 10 kHz 4.3.3.4による。
CN>1 1 kHz 4.3.3.2による
4.9.3 高温 4.9.3による。
温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
4.9.4 温湿度サイクル 4.9.4による。
(試験Db),最初のサイ
クル
4.9.5 低温 4.9.5による。
温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
4.9.6 温湿度サイクル 4.9.6による。
(試験Db),残りのサイ
クル
4.9.7 後処理 4.9.7による。
――――― [JIS C 5101-23 pdf 12] ―――――
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
表3−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験及び測定条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験・検査項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)
群3.1(続き) D 表2による。
4.9.8 最終測定
外観 4.2.2による。 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 4.3.2.2による。 4.9.2の測定値に対して,
性能等級1及び2
|ΔC/C|≦3 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦5 %
誘電損失 誘電正接の増加 :
CN≦1 10 kHz 4.3.3.4による。 4.9.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.002 5
性能等級2 : ≦0.004
性能等級3 : ≦0.007
CN>1 1 kHz 4.3.3.2による。 4.9.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.003
性能等級2 : ≦0.005
性能等級3 : ≦0.007
絶縁抵抗 4.3.4.2による。 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧25 %
群3.2 D 表2による。
4.10 高温高湿(定常)
4.10.3による。
4.10.2 初期測定
静電容量 4.3.2.2による。
誘電正接 4.3.3.2による。
4.10.4 後処理 4.10.4による。
4.10.5 最終測定
外観 4.2.2による。 損傷がない。
静電容量 4.3.2.2による。 4.10.2の測定値に対して,
性能等級1及び2
|ΔC/C|≦7 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦10 %
誘電正接 4.3.3.2による。 誘電正接の増加 :
4.10.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.005
性能等級2 : ≦0.005
性能等級3 : ≦0.007
絶縁抵抗 4.3.4.2による。 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧25 %
――――― [JIS C 5101-23 pdf 13] ―――――
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
表3−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験及び測定条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験・検査項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)
群3.3 D 表2による。
4.11 耐久性
4.11.3による。
4.11.2 初期測定
静電容量 4.3.2.2による。
誘電正接
CN≦1 10 kHz 4.3.3.4による。
CN>1 1 kHz 4.3.3.2による。
4.11.4 最終測定
外観 4.2.2による。 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 4.3.2.2による。 4.11.2の測定値に対して,
性能等級1
|ΔC/C|≦5 %,
性能等級2及び3
|ΔC/C|≦8 %
誘電正接 4.3.3.4による。 誘電正接の増加 :
CN≦1 10 kHz 4.11.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.003
性能等級2 : ≦0.005
性能等級3 : ≦0.007
CN>1 1 kHz 4.3.3.2による。 4.11.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.002
性能等級2 : ≦0.003
性能等級3 : ≦0.005
絶縁抵抗 4.3.4.2による。 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %
性能等級3
≧25 %
――――― [JIS C 5101-23 pdf 14] ―――――
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
表3−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験及び測定条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験・検査項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)
群3.4 D 表2による。
4.12 充放電
4.12.3による。
4.12.2 初期測定
静電容量 4.3.2.2による。
誘電正接
CN≦1 10 kHz 4.3.3.4による。
CN>1 1 kHz 4.3.3.2による。
4.12.4 後処理 4.12.4による。
4.12.5 最終測定
静電容量 4.3.2.2による。 4.12.2の測定値に対して,
性能等級1
|ΔC/C|≦5 %,
性能等級2
|ΔC/C|≦8 %,
性能等級3
|ΔC/C|≦10 %
誘電正接 誘電正接の増加 :
CN≦1 10 kHz 4.3.3.4による。 4.12.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.003
性能等級2 : ≦0.005
性能等級3 : ≦0.007
CN>1 1 kHz 4.3.3.2による。 4.12.2の測定値に対して,
性能等級1 : ≦0.002
性能等級2 : ≦0.003
性能等級3 : ≦0.005
絶縁抵抗 4.3.4.2による。 4.3.4.3の値に対して,
性能等級1及び2
≧50 %,
性能等級3
≧25 %
注記 表3の試験及び測定条件を引用する細分箇条番号並びに要求事項に,対応国際規格が他のJIS C 5101-1の品
種別通則のように,箇条4との関係性を示す箇所に記載がないなど,明らかな誤記があったため,追加及び
修正し,該当箇所に点線の下線を施した。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条4による。
b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
c) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。
d) 各群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの群で用いるプリント配線板材料を個別規格に
規定する。
e) 要求がある場合
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
この検査は,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件で製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
――――― [JIS C 5101-23 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-23:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-23:2015(IDT)
JIS C 5101-23:2018の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-23:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60063:2018
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数