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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
b) 試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合せ
を代表とし,次の事項を考慮する。
− 組合せ数
− 1組合せ当たり5個以上
c) EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業者
は,認証機関(CB)の承認が必要となる。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に行う。
試料は,規定の期間に工程に流れているコンデンサを代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低電圧,
又は外形寸法で分類したコンデンサを選定する。いずれの期間でも認証の範囲を対象とするために,定格
電圧の高,中及び低電圧群ごとに一つの外形寸法のコンデンサを試験する。その後の期間では,製造の全
ての範囲を対象とするために,製造中のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のコンデンサを試験する。
3.5.2 試験計画
ロットごとの及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格による。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)の規定によって,はんだ付け性及び静電容量について群A及
び群Bの再検査を行う。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表4及び表5から選定することが望ましい。
表4−ロットごとの品質確認検査
検査副群b) IL a) n a) c a)
A0 100 % c)
d)
A1 S-4 0
d)
A2 S-3 0
d)
B1 S-3 0
d)
B2 S-3 0
注a) この表の記号は,次による。
IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数
b) 検査副群の内容は,ブランク個別規格の箇条2(検査要求事項)による。
c) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全
て検査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によ
る。
抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とするが,品質水準を
算出するために,不適合品の数を全て数える。
ppmで示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積
した検査データから算出する。
d) 試料数(n)は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
表5−定期的品質確認検査
検査副群b) P a) n a) c a)
C1 3 12 0
C2 3 12 0
C3.1 6 27 0
C3.2 6 15 0
C3.3 3 15 0
C3.4 6 9 0
注a) この表の記号は,次による。
p=検査周期(月),n=試料数,c=合格判定個数
b) 検査副群の内容は,ブランク個別規格の箇条2(検査要求事項)による。
4 試験及び測定手順
注記 この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足するものである。
4.1 取付け
取付けは,JIS C 5101-1の4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)]による。
4.2 外観及び寸法
4.2.1 一般事項
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,4.2.2及び4.2.3による。
4.2.2 外観検査及び寸法検査
外観は,供試品が要求する品質水準に適した照明付きの倍率約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
作業者には,適切な拡大鏡に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及び出来栄え(ワークマンシップ)が,個別規格に規
定する要求事項を満足することを証明するために検査する。
4.2.3 要求事項
表3による。
注記 この規格の対応国際規格では,表3との関係を示す記載が,他のJIS C 5101の品種別通則のよ
うに明確化されていなかったため,明確化した内容に追加及び修正し,該当箇所に点線の下線
を施した。以降の各試験の初期測定,最終測定及び要求事項での“表3による。”の箇所で,か
つ,点線の下線を施した箇所も同様な理由で,点線の下線を施している。
4.3 電気的性能
4.3.1 耐電圧
4.3.1.1 一般事項
耐電圧は,JIS C 5101-1の4.6(耐電圧)によるほか,4.3.1.24.3.1.4による。
4.3.1.2 試験回路
コンデンサC1を削除する。
R1と試料(CX)の公称静電容量との積は,0.01 sを超え1 s以下とする。
R1は,電源の内部抵抗を含む。
R2は,放電電流を1 A以下に制限する値とする。
4.3.1.3 試験条件
JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に規定する測定箇所に表6の試験電圧を,品質認証試験の場合は1分間,
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
ロットごとの品質確認検査の場合は1秒間印加する。
表6−試験電圧
性能等級 試験電圧
1 1.6 UR
2 1.4 UR
3 1.4 UR
4.3.1.4 要求事項
表3による。
4.3.2 静電容量
4.3.2.1 一般事項
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,4.3.2.2及び4.3.2.3による。
4.3.2.2 測定条件
静電容量は,周波数1 kHzで測定又は測定値を周波数1 kHzの値に補正する。ただし,10
称静電容量のものは,周波数50 Hz120 Hzで測定してもよい。
周波数1 kHzでの測定電圧のピーク値は,定格電圧の3 %以下とし,周波数50 Hz120 Hzでのピーク
値は,定格電圧の20 %又は100 V(実効値で70 V相当)のうちいずれか小さい値以下とする。
4.3.2.3 要求事項
表3による。
4.3.3 誘電正接
4.3.3.1 一般事項
誘電正接は,JIS C 5101-1の4.8.1[誘電正接(損失角の正接)]によるほか,4.3.3.24.3.3.4による。
4.3.3.2 周波数1 kHzでの測定条件
誘電正接の測定は,次による。
− 周波数 : 1 kHz
− ピーク電圧 : 定格電圧の3 %以下
− 確度 : 10×10−4(絶対値)以下
4.3.3.3 周波数1 kHzでの要求事項
誘電正接は,表7に示す値以下とする。
表7−誘電正接規定値
公称静電容量 誘電正接(絶対値)
性能等級1 性能等級2 性能等級3
1 下 0.006 0.008 0.010
1 謀 0.007 0.008 0.010
4.3.3.4 周波数10 kHzでの測定条件
CN≦1 ンデンサに対して,表3中で誘電正接の測定の要求がある場合の条件は,次による。
− 周波数 : 10 kHz
− 電圧 : 1 V(実効値)以下
− 確度 : 10×10−4(絶対値)以下
――――― [JIS C 5101-23 pdf 18] ―――――
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4.3.4 絶縁抵抗
4.3.4.1 一般事項
絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)によるほか,4.3.4.2及び4.3.4.3による。
4.3.4.2 測定条件
試験に先立って,コンデンサ表面の汚れを取り,きれいにする。試験槽の中及び試験後の測定中もコン
デンサ表面の清浄度を維持するように注意する。
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗値と試料の公称静電容量値との積は,0.01 s
以上又は個別規格の規定による。
測定電圧は,JIS C 5101-1の4.5.2(測定条件)による。測定箇所は,JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に
よる。
測定電圧は,電源の内部抵抗を通して規定値を直接印加する。
内部抵抗値と公称静電容量値との積は,1 s未満又は個別規格の規定による。
4.3.4.3 要求事項
絶縁抵抗は,表8に示す値を満足しなければならない。
表8−絶縁抵抗の要求性能
RCの最小値 端子間の絶縁抵抗の最小値
(R=端子間の絶縁抵抗)
(C=公称静電容量CN)
s MΩ
CN>0.33 CN≦0.33
定格電圧
>100 V ≦100 V >100 V ≦100 V
性能等級
1 2及び3 1 2及び3 1 2及び3 1 2及び3
10 000 400 5 000 400 30 000 1 000 15 000 1 000
温度+20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて温度+20 ℃
の値に補正する。判定に疑義が生じた場合は,温度+20 ℃で測定する。表9に示す補正係数は,メタラ
イズドポリエチレンナフタレートフィルムコンデンサの平均値である。
表9−試験温度に対応する補正係数
温度 補正係数
℃
+15 0.75
+20 1.00
+23 1.15
+27 1.35
+30 1.50
+35 1.75
4.4 固着性
4.4.1 一般事項
固着性は,JIS C 5101-1の4.34(固着性)による。
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C 5101-23 : 2018 (IEC 60384-23 : 2015)
4.5 耐プリント板曲げ性
4.5.1 一般事項
耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1の4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,4.5.2及び4.5.3による。
4.5.2 初期測定
表3による。
4.5.3 最終測定及び要求事項
表3による。
4.6 はんだ耐熱性
4.6.1 一般事項
はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,4.6.24.6.5による。
4.6.2 初期測定
表3による。
4.6.3 試験条件
試験条件は次による。
− 方法 : 個別規格に規定するはんだ槽法又はリフロー法とする。
− 試験の厳しさ(はんだ槽法) : 個別規格に規定する温度及び浸せき時間による。
試験の厳しさ(リフロー法) : 個別規格に規定するリフロー温度プロファイルによる。
注記 対応国際規格の規定だけでは,この試験を実施する上で不適切であったため,より分かりやす
くした。
4.6.4 後処理
後処理時間は24 h±2 hとする。
4.6.5 最終測定及び要求事項
表3による。
4.7 はんだ付け性
4.7.1 一般事項
はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。
4.7.2 試験条件
試験条件は個別規格に規定する。個別規格に規定がない場合,前処理又はエージングは,要求しない。
4.7.3 最終測定及び要求事項
表3による。
4.8 温度急変
4.8.1 一般事項
温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,4.8.24.8.4による。
コンデンサは,4.1によって取り付ける。
4.8.2 初期測定
表3による。
4.8.3 試験条件
試験条件は次による。
− サイクル数 : 5回
− カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に保持する時間 : 30分間
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JIS C 5101-23:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-23:2015(IDT)
JIS C 5101-23:2018の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-23:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60063:2018
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISZ8601:1954
- 標準数