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C 5442-1996
4.6.2 装置
装置は,図57に示すように電圧(又は電流)が変えられる電源装置と,この電源を開閉
切換えできるスイッチ(図6及び図7の場合)並びに動作及び復帰検出用測定器で構成する。ここで電圧
(又は電流)測定用計器の確度は±0.5%以内とする。図57の測定器は,動作及び復帰を検出するもの
で,電圧計又は電流計及びその他の適切な装置を用いる。
図5 装置A
図6 装置B
図7 装置C
4.6.3 準備
準備は,次による。
(1) 供試リレーの取付け 取付方法を指定されたものを除いて,リレーは,接極子の運動方向が水平方向
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C 5442-1996
及び鉛直方向で上向きと下向きの3方向となるように取り付ける。ただし,判定に疑義を生じない場
合は,個別規格に規定の1方向に取り付けてもよい。
(2) 試験の前処理条件 試験を行うリレーの状態は,表7のいずれかの条件とし,各部の温度が一定にな
ったときを前処理終了とする。ただし,条件1の場合,測定周囲温度に30分間以上放置する。
表7 前処理条件
条件 コイル 周囲温度 接点
℃
1 − 20±2 −
2 定格印加 20±2 −
3 定格印加 40±2 −
4 定格印加 40±2 定格通電
4.6.4 試験
試験は,個別規格に規定する表7に示す周囲温度で,次に示すいずれかの方法で試験を行う。
ただし,判定に疑義が生じない場合は標準状態で行い,表7に規定の周囲温度に換算してもよい。
なお,試験は前処理後直ちに行う。
(1) 試験方法A 単安定リレー(シングルスティブルリレー)に適用し,図5の装置Aによって次のとお
り測定を行う。
(a) 動作電圧又は電流 電圧又は電流を急激に上昇又は徐々に上昇させ,リレーが動作状態になったと
きの電圧又は電流を測定する。
(b) 復帰電圧又は電流 コイルに定格電圧又は電流を印加した後,電圧又は電流を急激に降下又は徐々
に降下し,リレーが復帰状態になったときの電圧又は電流を測定する。
(2) 試験方法B 一巻線双安定リレー(一巻線ラッチングリレー)に適用し,図6の装置Bによって次の
とおり測定を行う。
(a) 動作電圧又は電流 S1スイッチを復帰側に閉路し,コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを
復帰状態にした後,電圧又は電流を零にする。その後,S1スイッチを動作側に閉路し,電圧又は電
流を急激に上昇又は徐々に上昇させ,リレーが動作状態になったときの電圧又は電流を測定する。
(b) 復帰電圧又は電流 S1スイッチを動作側に閉路し,コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを
動作状態にした後,電圧又は電流を零にする。その後,S1スイッチを復帰側に閉路し,電圧又は電
流を急激に上昇又は徐々に上昇させ,リレーが復帰状態になったときの電圧又は電流を測定する。
(3) 試験方法C 二巻線双安定リレー(二巻線ラッチングリレー)に適用し,図7の装置Cによって次の
とおり測定を行う。
(a) 動作電圧又は電流 S2スイッチを閉路にし,コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを復帰状
態にした後,電圧又は電流を零にしS2スイッチを開路にする。その後,S1スイッチを閉路にし,電
圧又は電流を急激に上昇又は徐々に上昇させ,リレーが動作状態になったときの電圧又は電流を測
定する。
(b) 復帰電圧又は電流 S1スイッチを閉路にし,コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを動作状
態にした後,電圧又は電流を零にしS1スイッチを開路にする。その後,S2スイッチを閉路にし,電
圧又は電流を急激に上昇又は徐々に上昇させ,リレーが復帰状態になったときの電圧又は電流を測
定する。
4.6.5 個別規格に規定する事項
個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 試験方法A,B又はCの指定(4.6.4参照)
――――― [JIS C 5442 pdf 17] ―――――
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(2) 前処理条件[4.6.3(2)参照]
(3) リレーの取付方向が一方向の場合,その方向[4.6.3(1)参照]
4.7 動作時間及び復帰時間
4.7.1 目的
この試験は,リレーの動作時間及び復帰時間を測定することを目的とする。
4.7.2 装置
この試験に用いる装置は,時間分解能が供試リレーの動作時間及び復帰時間の5%以下であ
るオシロスコープ又はデジタル時間計とする。図8に,この装置の回路構成の一例を示す。
なお,供試リレーのコイルの励磁には,標準試験電源を使用する。
図8 動作時間及び復帰時間測定回路の一例
備考 ブリッジ時間と切換時間の間を区別するため,抵抗器は次の値を採用することが望ましい。
1
R:1 R2 : R:3 R4:1 2 :1:
3
4.7.3 準備
取付方法を指定されたものを除いて,供試リレーの取付けは,接極子の運動方向が水平方向
及び鉛直方向で上向きと下向きの3方向となるように取り付ける。ただし,判定に疑義が生じない場合は,
一方向に取り付けてもよい。
4.7.4 試験
供試リレーの接点及びコイルを個別規格に規定する電圧値,電流値の電源に接続した後,コ
イルの電圧又は電流を断続させてオシロスコープ上の波形(図9参照)を観測するか,又は時間計によっ
て測定する。接点のバウンス時間は,次に示す動作時間と復帰時間に含めてはならない。
(1) 動作時間 すべての常時開路接点を直列に接続し,4.7.2の電源を用いコイルを定格値で励磁して,接
点が閉成するまでの時間を測定する。すべての常時閉路接点を並列に接続し,コイルを定格値で急激
に励磁して,接点が開離するまでの時間を測定する。両測定とも直流操作のリレーでは5回,交流操
作のリレーでは20回(ただし,位相操作を行った場合は5回)行って,その最大値を求める。
リレーの構造上,後から動作する接点が明らかに分かる場合は,その接点だけについて測定しても
よい。
(2) 復帰時間 すべての常時開路接点を並列に接続し,コイルを定格値で励磁しておき,その励磁を急激
に取り去ってから接点が開離するまでの時間を測定する。すべての常時閉路接点を直列に接続し,コ
イルを定格値で励磁しておき,その励磁を急激に取り去ってから接点が閉成するまでの時間を測定す
る。両測定とも直流操作のリレーでは5回,交流操作のリレーでは20回(ただし,位相操作を行った
場合は5回)行って,その最大値を求める。リレーの構造上,後から動作する接点が明らかに分かる
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場合は,その接点だけについて測定してもよい。
図9 動作時間及び復帰時間測定波形の一例
4.7.5 個別規格に規定する事項
個別規格には,次の事項を規定する。
(1) リレーの取付け(位置又は方向)(4.7.3参照)
(2) 装置(必要がある場合)(4.7.2参照)
(3) 試験用コイル及び接点の電流値又は電圧値(4.7.4参照)
(4) コイル又は接点の抑制部品(必要がある場合)
4.8 接点のバウンス
――――― [JIS C 5442 pdf 19] ―――――
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4.8.1 目的
この試験は,リレー自身に起因して,接点の開閉に際して生じる接点のバウンス(交流リレ
ーでは,交流励磁チャタリングを含める。)を測定することを目的とする。ただし,個別規格に規定がある
場合は,その規定による。
4.8.2 装置
装置は,時間分解能が1 獎 下及び時間軸確度±3%のオシロスコープ又はこれと同等以上
の装置とする。供試リレーの接点及びコイルには,個別規格に規定する電圧・電流が供給できるものとす
る。
また,測定回路の一例を,図8に示す。
4.8.3 準備
取付方法を指定されたものを除いて,供試リレーの取付けは,接極子の運動方向が水平方向
及び鉛直方向で上向きと下向きの3方向となるように取り付ける。ただし,判定に疑義が生じない場合は,
一方向に取り付けてもよい。
4.8.4 試験
供試リレーの接点及びコイルを個別規格に規定する電源に接続した後,コイルの電圧又は電
流を断続させて,オシロスコープの波形(図9及び図10参照)を観測するか,又はデジタル時間計で測定
する。
個別規格に規定がない限り,接点開離時間10 満を除き,接点切換え前後の電圧差 (E2−E1) の90%
に達するまでの時間を測定する。
上記の観測を5回繰り返し,その最大の測定値をバウンス時間とする。
なお,上記の観測は,リレーの全接点について行うものとする。
図10 オシロスコープの波形例
4.8.5 個別規格に規定する事項
個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 装置(必要がある場合)(4.8.2参照)
(2) 試験用コイル及び接点の電流電圧値(4.8.4参照)
(3) リレーの取付け(位置又は方向)(4.8.3参照)
(4) コイル又は接点の抑制部品(4.8.3参照)
4.9 接点のチャタリング
4.9.1 目的
この試験は,振動又は衝撃を受ける環境下で,接点の安定な使用に関する適性を測定するこ
とを目的とする。
4.9.2 装置
この試験に用いる装置は,振動又は衝撃を受けているリレーの接点の閉路又は開路を1
以下の時間分解能で検出できる能力をもったものとする。
4.9.3 試験
供試リレーを5.1及び5.2に規定する振動又は衝撃試験装置に取り付けた後,リレーの接点
端子に4.9.2に規定された装置を接続し,振動又は衝撃を受けている接点のチャタリングを測定する。測定
に際し開いている接点はすべてを並列に,また,閉じている接点はすべてを直列に端子部で接続して試験
し,かつ,リレーの動作状態,復帰状態のそれぞれについて試験する。
――――― [JIS C 5442 pdf 20] ―――――
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JIS C 5442:1996の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60255-7:1991(NEQ)
JIS C 5442:1996の国際規格 ICS 分類一覧
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- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
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- JISC1303:1972
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- 600Vビニル絶縁電線(IV)
- JISC5003:1974
- 電子部品の故障率試験方法通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
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