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C 5750-3-4 : 2011
附属書A
(参考)
検証及び妥当性確認のための規格
A.1 ディペンダビリティ試験のための技法
試験によるディペンダビリティの検証及び妥当性確認のための規格を,表A.1に示す。
表A.1−試験によるディペンダビリティの検証及び妥当性確認のための規格
規格番号 規格の名称 該当試験技法
JIS C 5750-3-2 ディペンダビリティ データの
ディペンダビリティ管理−第3-2部 : 適用の指針−フィールド
からのディペンダビリティデータの収集 収集
JIS C 5750-3-5 信頼性試験−統計学
ディペンダビリティ管理−第3-5部 : 適用の指針−信頼性試験
条件及び統計的方法に基づく試験原則
JIS C 5750-3-7 ディペンダビリティ管理−第3-7部 : 適用の指針−電子ハード
ストレススクリーニング−電
ウェアの信頼性ストレススクリーニング 子機器ハードウェア
IEC 60605-2 信頼性試験
Equipment reliability testing−Part 2: Design of test cycles
IEC 60605-4 信頼性試験−統計学
Equipment reliability testing−Part 4: Statistical procedures for
exponential distribution−Point estimates, confidence intervals,
prediction intervals and tolerance intervals
IEC 60605-6 信頼性試験−統計学
Equipment reliability testing−Part 6: Tests for the validity and
estimation of the constant failure rate and constant failure intensity
IEC 60706-3 保全性データ解析
Maintainability of equipment−Part 3: Verification and collection,
analysis and presentation of data
IEC 60706-5 保全性試験
Maintainability of equipment−Part 5: Testability and diagnostic
testing
IEC 61014 Programmes for reliability growth 信頼性成長プログラム
IEC 61070 アベイラビリティ実証
Compliance test procedures for steady-state availability
IEC 61123 Reliability testing−Compliance test plans for success ratio
適合試験計画−成功比率又は
合格比率
IEC 61124 Reliability testing−Compliance tests for constant failure rate and
適合試験計画−一定故障率及
constant failure intensity び一定故障強度
IEC 61163-1 ストレススクリーニング
Reliability stress screening−Part 1: Repairable assemblies
manufactured in lots
IEC 61163-2 ストレススクリーニング
Reliability stress screening−Part 2: Electronic components
IEC 61164 Reliability growth−Statistical test and estimation methods
信頼性成長−統計的検定及び
推定法
IEC 61649 Weibull analysis 適合度検定−ワイブル分布
IEC 61650 信頼性試験−統計学
Reliability data analysis techniques−Procedures for comparison of
two constant failure rates and two constant failure (event) ntensities
IEC 61709 信頼性試験−統計学
Electronic components−Reliability−Reference conditions for failure
rates and stress models for conversion
IEC 61710 適合度検定−べき乗則モデル
Power law model−Goodness-of-fit tests and estimation methods
――――― [JIS C 5750-3-4 pdf 26] ―――――
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C 5750-3-4 : 2011
A.2 ディペンダビリティ解析のための技法
解析によるディペンダビリティの検証及び妥当性確認のための規格を,表A.2に示す。
表A.2−解析によるディペンダビリティの検証及び妥当性確認のための規格
規格番号 規格の名称 該当解析技法
JIS C 5750-3-1 解析技術の概観
ディペンダビリティ管理−第3-1部 : 適用の指針−ディペンダビリティ解析手法の指針
JIS C 5750-4-2 ソフトウェア
ディペンダビリティ管理−第4-2部 : 適用の指針−ソフトウェ
ア ライフサイクル プロセスにおけるソフトウェア ディペン
ダビリティ
JIS C 5750-4-3 FMEA
ディペンダビリティ マネジメント−第4-3部 : システム信頼性
のための解析技法−故障モード・影響解析(FMEA)の手順
JIS C 5750-4-4 故障の木解析(FTA)
ディペンダビリティ マネジメント−第4-4部 : システム信頼性
のための解析技法−故障の木解析(FTA)
IEC 60706-2 保全性解析
Maintainability of equipment−Part 2: Maintainability requirements
and studies during the design and development phase
IEC 61078 信頼性ブロック図
Analysis techniques for dependability−Reliability block diagram and
boolean methods
IEC 61160 Design review デザインレビュー
IEC 61165 Application of Markov techniques マルコフ解析技法
IEC 61703 数式表示
Mathematical expressions for reliability, availability, maintainability
and maintenance support terms
IEC 62308 Equipment reliability−Reliability assessment methods評価方法
――――― [JIS C 5750-3-4 pdf 27] ―――――
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C 5750-3-4 : 2011
附属書B
(参考)
信頼性,保全性,保全支援及びアベイラビリティ要求事項の例
B.1 概要
ディペンダビリティの尺度の例を,B.2B.5に示す。表中の要求値は,それらを仕様書の中でどのよう
に記載することがあるかを示しただけであり,それらの値を標準値として用いないほうがよい。製品によ
っては,別の尺度を適用する場合がある。これらの定量的な値に加えて,この規格で示したように,ディ
ペンダビリティ マネジメントのための要求事項に沿って,検証及び妥当性確認要求事項を規定することが
望ましい。
注記 尺度の定義については,JIS Z 8115を参照。
B.2 アベイラビリティ要求事項
アベイラビリティ要求事項の例を次に示す。
アベイラビリティ性能の尺度 記号又は略語 要求値
平均アベイラビリティ A(t1, t2) ≧0.999 9
平均アンアベイラビリティ U(t1, t22) ≦10−4
平均ダウン時間 MDT 1h
B.3 信頼性要求事項
信頼性要求事項の例を次に示す。
信頼性性能の尺度 記号又は略語 要求値
平均故障率 t1, t2) ≦27×10−6 /h
故障までの平均時間 MTTF ≧37 000 h
平均故障強度 z(t1, t2) ≦1.5 /h
MTBF
平均故障間動作時間又は平均故障間運用時間 ≧6 000 h
耐用寿命又は有用寿命 ≧8年
信頼度 R(t1, t2) ≧0.9
t1=100 h
t2=1 100 h
注記 要求値は,統計的検定の合格判定基準を計算するために用いる合格値(契約値)を表す。
B.4 保全性要求事項
保全性要求事項の例を次に示す。
保全性性能の尺度 記号又は略語 要求値
平均修理時間 MRT ≦5 h
平均実働事後保全時間 ≦5.5 h
平均修復時間 MTTR ≦7 h
フォールト認識率 ≧0.95
修理成功率 ≧0.8
――――― [JIS C 5750-3-4 pdf 28] ―――――
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C 5750-3-4 : 2011
B.5 保全支援要求事項
保全支援要求事項の例を次に示す。
保全支援能力の尺度 記号又は略語 要求値
平均管理遅延時間 MAD 2h
平均補給遅延時間 MLD 1h
予備品品切れ率 0.005
――――― [JIS C 5750-3-4 pdf 29] ―――――
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C 5750-3-4 : 2011
参考文献
JIS C 0508-1 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第1部 : 一般要求事項
注記 対応国際規格 : IEC 61508-1,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems−Part 1: General requirements(IDT)
JIS C 0508-2 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第2部 : 電気・電子・プログラ
マブル電子安全関連系に対する要求事項
注記 対応国際規格 : IEC 61508-2,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems−Part 2: Requirements for electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems(IDT)
JIS C 0508-3 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第3部 : ソフトウェア要求事項
注記 対応国際規格 : IEC 61508-3,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems−Part 3: Software requirements(IDT)
JIS C 0508-4 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第4部 : 用語の定義及び略語
注記 対応国際規格 : IEC 61508-4,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems−Part 4: Definitions and abbreviations(IDT)
JIS C 0508-5 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第5部 : 安全度水準決定方法の
事例
注記 対応国際規格 : IEC 61508-5,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety
related systems−Part 5: Examples of methods for the determination of safety integrity levels(IDT)
JIS C 0508-6 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第6部 : 第2部及び第3部の適
用指針
注記 対応国際規格 : IEC 61508-6,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems−Part 6: Guidelines on the application of IEC 61508-2 and IEC 61508-3(IDT)
JIS C 0508-7 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第7部 : 技術及び手法の概観
注記 対応国際規格 : IEC 61508-7,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic
safety-related systems−Part 7: Overview of techniques and measures(IDT)
JIS C 5750-4-3 ディペンダビリティ マネジメント−第4-3部 : システム信頼性のための解析技法−故
障モード・影響解析(FMEA)の手順
注記 対応国際規格 : IEC 60812,Analysis techniques for system reliability−Procedure for failure mode and
effects analysis (FMEA)(IDT)
JIS Q 9000 品質マネジメントシステム−基本及び用語
IEC 60605-2,Equipment reliability testing−Part 2: Design of test cycles
IEC 61165,Application of Markov techniques
IEC/TR 61508-0,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety-related systems−Part
0: Functional safety and IEC 61508
IEC 61650,Reliability data analysis techniques−Procedures for comparison of two constant failure rates and two
constant failure (event) ntensities
IEC 61709,Electronic components−Reliability−Reference conditions for failure rates and stress models for
――――― [JIS C 5750-3-4 pdf 30] ―――――
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JIS C 5750-3-4:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60300-3-4:2007(MOD)
JIS C 5750-3-4:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 03 : サービス.経営組織,管理及び品質.行政.運輸.社会学. > 03.120 : 品質 > 03.120.01 : 品質一般
JIS C 5750-3-4:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5750-1:2010
- ディペンダビリティ マネジメント―第1部:ディペンダビリティ マネジメントシステム
- JISC5750-2:2010
- ディペンダビリティ マネジメント―第2部:ディペンダビリティ マネジメントのための指針
- JISC5750-3-1:2006
- ディペンダビリティ管理―第3-1部:適用の指針―ディペンダビリティ解析手法の指針
- JISC5750-3-2:2008
- ディペンダビリティ管理―第3-2部:適用の指針―フィールドからのディペンダビリティデータの収集
- JISC5750-3-3:2008
- ディペンダビリティ管理―第3-3部:適用の指針―ライフサイクル コスティング
- JISC5750-3-5:2006
- ディペンダビリティ管理―第3-5部:適用の指針―信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則
- JISC5750-4-2:2008
- ディペンダビリティ管理―第4-2部:適用の指針―ソフトウェア ライフサイクル プロセスにおけるソフトウェア ディペンダビリティ
- JISC5750-4-4:2011
- ディペンダビリティ マネジメント―第4-4部:システム信頼性のための解析技法―故障の木解析(FTA)
- JISZ8115:2019
- ディペンダビリティ(総合信頼性)用語