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C 5871 : 2011
供試干渉フィルタの寸法に比べて小さいビーム径をもつ光を,使用状態に対応する角度で試料に入射さ
せ,測定を行う。供試干渉フィルタの寸法,入射位置,ビーム径,ビーム広がり角度,入射角度及び偏光
状態を,試験成績書に明示する。ビーム径及びビーム広がり角度については,その定義も合わせて明示す
る。
6.3.2 試験手順
まず,表1に規定するように,使用する光源及び光検出器に応じて,図1のa) c)の測定系を構成し,
測定波長を変化させて,各波長λでの基準物体からの基準出力光パワーP1(λ)(W)を測定する。基準物体
としては,供試干渉フィルタを挿入しない場合の空気層又は供試干渉フィルタを形成するためのガラス基
板を用いる。
表1−光源及び光検出器
測定系 光源 光検出器
図1のa) 広帯域光源及びモノクロメータ光パワーメータ
図1のb) 広帯域光源 光スペクトラムアナライザ
図1のc) 波長可変レーザ 光パワーメータ
次に,図2のa) c)に示すように,図1のa) c)の測定系で基準物体を供試干渉フィルタに置き換え,
供試干渉フィルタからの各波長での出力光パワーP2(λ)(W)を測定する。
注記1 用いた基準物体を試験成績書に明示する。
注記2 図1及び図2では,光源,光パワーメータなど装置間を全て空間ビームで結合した場合を示
しているが,干渉フィルタへの入射光が空間ビームであればよく,例えば,装置間を光ファ
イバコードで接続してもよい。
6.3.3 算出
光損失L(λ)は,次の式によって算出する。
P2
L 10 log10
P1
ここに, L(λ) : 光損失(dB)
P1(λ) : 波長λの基準出力光パワー(W)
P2(λ) : 波長λの出力光パワー(W)
通過帯域内最大光損失ILmaxは,通過帯域内での光損失L(λ)の最大値によって算出する。
通過帯域内最小光損失ILminは,通過帯域内での光損失L(λ)の最小値によって算出する。
リップルΔILは,次の式によって算出する。
ΔIL=ILmax−ILmin
アイソレーションは,阻止帯域内での光損失L(λ)の最小値によって算出する。
通過帯域幅BWpssは,次の式によって算出する。
BWpss=λl−λs
ここに, BWpss : 通過帯域幅
λs : 前記ILminをとる波長の周りでL(λs)=ILmaxとなる,光損失の
変動規定値を満たす短波長端の波長
λl : 前記ILminをとる波長の周りでL(λl)=ILmaxとなる,光損失の
変動規定値を満たす長波長端の波長
通過を意図する帯域であるため,光損失の変動規定値は,10 dB以下であることが望ましい。
中心波長λcは,次の式によって算出する。
――――― [JIS C 5871 pdf 6] ―――――
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s l
c
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6.4 個別規格に規定する事項
必要がある場合,次の事項を個別規格に規定する。
a) 光源 光源については,光源の種類,光パワーの安定性,コヒーレンス波長,ビーム径,ビーム広が
り角及び偏光状態を個別規格に規定する。波長可変光源の場合は,波長スペクトル幅及び測定波長間
隔も規定する。
b) 供試干渉フィルタ 供試干渉フィルタの寸法及び試験におけるビームの入射位置を個別規格に規定す
る。
7 機械的性能試験
必要がある場合,次の機械的性能試験を行う。
7.1 離強さ試験
離強さ試験は,次のいずれかによる。
a) ピール試験 粘着テープを干渉フィルタに押し付けた後,素早くがし,干渉フィルタの表面状態を
観察する。この試験方法は,干渉フィルタの表面に保護膜がない供試干渉フィルタに対して適用する。
注記 参考とする規格として,MIL-C-675Cの4.5.12(adhesion)及びJIS H 8504の15.1(テープ試
験方法)がある。
b) 煮沸試験 沸騰した熱湯の中に干渉フィルタを浸し,煮沸しながら一定時間放置する。これを取り出
して,水分を拭き取った後に,干渉フィルタの表面状態を観察する。
7.2 硬さ試験
針を垂直に干渉フィルタに降ろして,供試干渉フィルタの表面に接触させ,ゆっくりと手前に引いた後,
供試干渉フィルタから離す。供試干渉フィルタの表面状態を観察する。針接触部先端は,鋭利過ぎず丸み
を帯びていることが望ましい。
注記 参考とする規格として,JIS K 5600-5-5がある。
7.3 衝撃試験
硬く滑らかな鋼球を,供試干渉フィルタの上に静止位置から自由落下させる。落下点付近の表面状態を
観察する。
具体的な試験条件は,個別の規定によることとし,これらの試験条件を試験成績書に明示する。
注記 参考とする規格として,JIS K 5600-5-3の5.(落球式)がある。
8 耐久性試験
必要がある場合,次の耐久性試験を行う。
8.1 高温高湿試験
高温高湿,かつ,結露のない閉じた空間に供試干渉フィルタを置き,一定時間放置した後,これを取り
出し,供試干渉フィルタの表面状態を観察,又は光損失波長特性を試験する。試験方法については,JIS C
60068-2-78に従う。
8.2 温度サイクル試験
JIS C 0025に従い,次の二つの試験方法を適用する。
a) 試験Na : 温度急変 温度の変化時間を極端に短くした高温及び低温の連続的な熱衝撃を供試品に加
――――― [JIS C 5871 pdf 7] ―――――
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える。干渉フィルタの表面状態を観察,又は光損失波長特性を試験する。
b) 試験Nb : 定速温度変化 干渉フィルタに熱衝撃を加えない程度の穏やかな温度変化を与える。干渉
フィルタの表面状態を観察,又は光損失波長特性を試験する。
具体的な試験条件は,個別の規定によることとし,これらの試験条件を試験成績書に明示する。
a)
b)
c)
図1−基準出力光パワーの測定系
a)
b)
c)
図2−出力光パワーの測定系
――――― [JIS C 5871 pdf 8] ―――――
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参考文献 JIS H 8504 めっきの密着性試験方法
JIS K 5600-5-3 塗料一般試験方法−第5部 : 塗膜の機械的性質−第3節 : 耐おもり落下性
JIS K 5600-5-5 塗料一般試験方法−第5部 : 塗膜の機械的性質−第5節 : 引っかき硬度(荷重
針法)
MIL-C-675C,Coating of glass optical elements (anti-reflection)
JIS C 5871:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 5871:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC5860:2012
- 空間ビーム光用受動部品通則
- JISC5870:2009
- 干渉フィルタ通則
- JISC5900:2019
- 光伝送用受動部品通則
- JISC5901:2001
- 光伝送用受動部品試験方法
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
- JISZ8120:2001
- 光学用語