JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法―電気・電子―第２－１４部：温度変化試験方法（試験記号：Ｎ）

                                                          C 60068-2-14 : 2011 (IEC 60068-2-14 : 2009)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 温度変化のある実環境条件・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[2]
•  4.1 温度変化試験の計画・・・・[2]
•  4.2 試験のパラメータ・・・・[2]
•  4.3 試験の目的及び選択・・・・[3]
•  4.4 さらし時間又は浸せき時間の選択・・・・[3]
•  4.5 移し換え時間の選択・・・・[4]
•  4.6 温度変化試験の適用限界・・・・[4]
•  5 試験の種類を選定するための指針・・・・[4]
•  6 初期測定及び最終測定・・・・[4]
•  6.1 初期測定・・・・[4]
•  6.2 最終測定・・・・[4]
•  7 試験Na : 規定時間で移し換える温度急変試験・・・・[5]
•  7.1 試験の概要・・・・[5]
•  7.2 試験手順・・・・[5]
•  7.3 後処理・・・・[6]
•  7.4 製品規格に規定する事項・・・・[6]
•  8 試験Nb : 定速温度変化試験・・・・[7]
•  8.1 試験の概要・・・・[7]
•  8.2 試験手順・・・・[7]
•  8.3 後処理・・・・[8]
•  8.4 製品規格に規定する事項・・・・[8]
•  9 試験Nc : 二液槽温度急変試験・・・・[9]
•  9.1 試験の概要・・・・[9]
•  9.2 試験手順・・・・[9]
•  9.3 後処理・・・・[10]
•  9.4 製品規格に規定する事項・・・・[10]
•  10 試験報告書に記載する事項・・・・[11]

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――――― [JIS C 60068-2-14 pdf 1] ―――――

C 60068-2-14 : 2011 (IEC 60068-2-14 : 2009)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人日本電子部品信頼性センター(RCJ)
及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があ
り,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。JISの温度変化試
験の規格には,これまでJIS C 0025[環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法]が制定されていた
が,この規格の制定によって,JIS C 0025:1988は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 60068の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 60068-1     通則
    JIS C 60068-2-1   第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
    JIS C 60068-2-2   第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
    JIS C 60068-2-6   第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
    JIS C 60068-2-7   加速度(定常)試験方法
    JIS C 60068-2-11  塩水噴霧試験方法
    JIS C 60068-2-13  減圧試験方法
    JIS C 60068-2-14  第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
    JIS C 60068-2-17  封止(気密性)試験方法
    JIS C 60068-2-18  第2-18部 : 耐水性試験及び指針
    JIS C 60068-2-20  第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
    JIS C 60068-2-21  第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
    JIS C 60068-2-27  第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
    JIS C 60068-2-30  温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
    JIS C 60068-2-31  面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法
    JIS C 60068-2-32  自然落下試験方法
    JIS C 60068-2-38  温湿度組合せ(サイクル)試験方法
    JIS C 60068-2-39  第2-39部 : 低温,減圧及び高温高湿一連複合試験
    JIS C 60068-2-40  低温・減圧複合試験方法
    JIS C 60068-2-41  高温・減圧複合試験方法
    JIS C 60068-2-42  接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
    JIS C 60068-2-43  接点及び接続部の硫化水素試験方法
    JIS C 60068-2-45  耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
    JIS C 60068-2-46  接点及び接続部の硫化水素試験−指針
    JIS C 60068-2-47  第2-47部 : 動的試験での供試品の取付方法

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                                                          C 60068-2-14 : 2011 (IEC 60068-2-14 : 2009)
    JIS C 60068-2-48  第2-48部 : 保存の影響をシミュレートするために,環境試験方法に関するJIS規
        格群の試験を適用する場合の指針
    JIS C 60068-2-49  接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
    JIS C 60068-2-50  発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験
    JIS C 60068-2-51  発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験
    JIS C 60068-2-52  塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶液)
    JIS C 60068-2-53  発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温/振動(正弦波)複合試験の指
        針
    JIS C 60068-2-54  はんだ付け性試験方法(平衡法)
    JIS C 60068-2-57  時刻歴振動試験方法
    JIS C 60068-2-58  表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱
        性試験方法
    JIS C 60068-2-59  サインビート振動試験方法
    JIS C 60068-2-60  混合ガス流腐食試験
    JIS C 60068-2-61  一連耐候性試験
    JIS C 60068-2-64  広帯域ランダム振動試験方法及び指針
    JIS C 60068-2-65  第2-65部 : 音響振動
    JIS C 60068-2-66  高温高湿,定常(不飽和加圧水蒸気)
    JIS C 60068-2-67  基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験
    JIS C 60068-2-68  砂じん(塵)試験
    JIS C 60068-2-69  第2-69部−試験−試験Te : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け性試験方法(平衡
        法)
    JIS C 60068-2-70  第2-70部 : 指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
    JIS C 60068-2-75  第2-75部 : ハンマ試験
    JIS C 60068-2-77  表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方法
    JIS C 60068-2-78  第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
    JIS C 60068-2-80  第2-80部 : 混合モード振動試験方法(試験記号 : Fi)
    JIS C 60068-2-81  第2-81部 : 衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
    JIS C 60068-2-82  第2-82部 : 試験−試験XW1 : 電気・電子部品のウィスカ試験方法
    JIS C 60068-3-1   低温試験及び高温試験を理解するための必す(須)情報
    JIS C 60068-3-2   第3-2部 : 温度/減圧複合試験を理解するための必す(須)情報
    JIS C 60068-3-3   機器の耐震試験方法の指針
    JIS C 60068-3-4   第3-4部 : 高温高湿試験の指針
    JIS C 60068-3-5   第3-5部 : 温度試験槽の性能確認の指針
    JIS C 60068-3-6   第3-6部 : 支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針
    JIS C 60068-3-7   第3-7部 : 支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験(試験A)及び高温試験
        (試験B)の試験槽の温度測定のための指針
    JIS C 60068-3-8   第3-8部 : 振動試験方法の選択の指針

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                     C 60068-2-14 : 2011
                                                                      (IEC 60068-2-14 : 2009)

環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)

Environmental testing-Part 2-14: Tests-Test N: Change of temperature

序文

  この規格は,2009年に第6版として発行されたIEC 60068-2-14を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,部品,機器又はその他の製品(以下,供試品という。)が周囲温度の急激な変化に耐える能
力を試験する方法について規定する。この試験に必要な試験時間は,供試品の特性によって規定する。
    注記1 この規格には,この規格を引用する個別の製品規格を作成する指針も規定する。
              なお,この試験は,高温又は低温だけの影響を確かめるためのものではない。このような
            影響を確かめるためには,高温試験又は低温試験を適用することが望ましい。
              温度変化試験は,温度変化又は温度変化の繰返しが,供試品に与える影響を確かめること
            を目的としている。
              温度変化又は温度変化の繰返しの影響は,次の事項によって決まる。
            − 高温及び低温での各試験温度
            − 供試品を高温及び低温に維持する時間
            − 高温と低温との間の温度変化率
            − 試験サイクル数
            − 供試品の内部又は外部へ伝わる熱量
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
             IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of temperature
                 (IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

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2
C 60068-2-14 : 2011 (IEC 60068-2-14 : 2009)
    JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat(IDT)
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal) (IDT)
    JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test Q:
             Sealing(IDT)
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,
             cyclic (12 h+12 h cycle)(IDT)

3 温度変化のある実環境条件

  電子装置及び構成機器の内部では,通常,緩やかな温度変化が起きる。装置内の機器は,電源を投入し
ない場合,装置外面より緩やかな温度変化を受ける。
  急激な温度変化は,次の場合に考えられる。
− 装置が,暖かな室内から冷えた外気にさらされた場合,又はその逆の場合
− 装置が,降雨によって突然冷却された場合,又は冷水に浸された場合
− 外部に取り付けられた航空機用電子装置の内部の場合
− 輸送及び保管時に条件が変化する場合
  装置は,電源投入後内部に著しい温度勾配が生じ,その構成機器は,温度変化によるストレスを受ける。
例えば,大電力用の抵抗器に近い場所にある構成機器は,その他の部分が冷えていても熱の放射によって
表面温度が上昇する。
  人為的に冷却される構成機器は,冷却装置を起動したときに温度が急激に変化することがある。構成機
器の急激な温度変化は,装置の製造工程でも生じることがある。温度変化の回数,温度差及びその時間間
隔が重要である。

4 一般事項

4.1 温度変化試験の計画

  温度変化試験Na(規定時間で移し換える温度急変試験,箇条7参照),Nb(定速温度変化試験,箇条8
参照)及びNc(二液槽温度急変試験,箇条9参照)は,低温と高温との間を,一方の温度から他方の温度
へ,規定条件に従った移し換えを交互に行うものである。1サイクルの試験は,室温から始まり第1の試
験温度,次に第2の試験温度に移行し,室温に戻して終わる。

4.2 試験のパラメータ

  試験のパラメータとして,次の項目がある。
− 室温(試験室の温度)
− 高温TB
− 低温TA
− さらし時間又は浸せき時間t1
− 高温と低温との移し換え時間又は温度変化率

――――― [JIS C 60068-2-14 pdf 5] ―――――

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