JIS C 61300-3-14:2016 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－１４部：可変光減衰器の減衰量の設定の誤差及び再現性測定 | ページ 3

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C 61300-3-14 : 2016 (IEC 61300-3-14 : 2014)
                                          附属書A
                                          (参考)
                                       測定結果の例
  この附属書は,測定結果の説明を行うための例であり,推奨する装置又は測定条件を示すものではない。
  測定結果の例は,次のとおりである。
− 光源の種類 : 1 307 nmファブリ・ペロ・レーザ
− 励振装置の種類 : 使用なし
− 光パワーメータの受光部の種類 : InGaAs
− 基準測定用光ファイバ : VOA入力端子のカットバック部分に接続
− 基準光コネクタセット : 使用なし
− テンポラリジョイントの種類 : 光ファイバ融着接続
− 基準測定用光ファイバの長さ : 0.25 m
− VOAの光ファイバピッグテールの長さ : 1 m
− 前準備 : JIS C 61300-1に従って,標準的な環境条件の大気中に24時間暴露
− 測定時の減衰量設定 : 最小設定,10 dB,20 dB,30 dB,40 dB,50 dB及び60 dB
− 各減衰量設定での測定繰返し回数 : 10回(m=10)
− この規格の測定手順との差異 : VOA入力端子のカットバックによってP0を測定
− デバイス性能仕様と実特性との比較 : 表A.1参照
                            表A.1−デバイス性能仕様と実特性との比較
     設定                      代表値                                   測定値
      i         減衰量設定      誤差         減衰量      光減衰量        誤差        減衰量
                                             再現性                                  再現性
                    Ai           δai          ai           ai            δai         ai
                  (dB)       (dB)        (dB)       (dB)        (dB)       (dB)
       1            1.4        0.5未満     ±0.3未満        1.7         +0.3        ±0.11
       2           10          0.5未満     ±0.3未満        9.8         −0.2        ±0.16
       3           20          0.5未満     ±0.4未満       19.7         −0.3        ±0.23
       4           30          0.5未満     ±0.4未満       30.0           0.0        ±0.30
       5           40          0.5未満     ±0.5未満       40.3         +0.3        ±0.33
       6           50          0.5未満     ±0.5未満       50.4         +0.4        ±0.39
       7           60          0.5未満     ±0.6未満       60.4         +0.4        ±0.41
    最大値          −           −            −           −          +0.4        ±0.41

――――― [JIS C 61300-3-14 pdf 11] ―――――

                                                                                              9
                                                          C 61300-3-14 : 2016 (IEC 61300-3-14 : 2014)
                                          附属書B
                                          (参考)
                             ヒステリシス特性の測定方法
B.1   一般事項
  電気制御式のVOAにおいて,光減衰量のヒステリシスは重要な特性である。ヒステリシス特性は,次
のようにして測定できる。
B.2   測定手順
  測定手順は,次による。ここで,測定する光パワーの単位はmWとする。
a) 5.2の手順a) 及びb) に従う。
b) 供試品を最小の減衰量に設定し,P1(1)を測定する。
c) 供試品の減衰量を最小の減衰量より大きい減衰量に設定して,P2(1)を測定する。
d) 減衰量を徐々に大きい値に設定して,P3(1),P4(1),···,Pn(1)を順次測定する。
e)   n(1)の測定後,供試品の減衰量をPn(1)測定時より小さい減衰量に設定して,P'n−1(1)を測定する。
f)  減衰量を徐々に小さい値に設定して,P'n−2(1)からP'1(1)までを順次測定する。
g) 同様に,手順b) からf) までを繰り返し,2回目のP1(2)からPn(2)まで及びP'n−1(2)からP'1(2)までを測
    定する。
h) 個別に定める測定回数m回となるまで,手順g) を繰り返す。
B.3   計算
  光減衰量のヒステリシスは,式(B.1)で算出できる。
                         δahys         1ai
                               max1≦i≦n   'ai(dB)  (B.1)
                                       ia :  式(2)及び式(3)による。
                      ここに,
                                      i'a :  式(B.2)及び式(B.3)による。
                         ai ( j)               (dB)  (B.2)
                                10 log10 Pi ( j/)   0
                               m
                             1
                         'ai     ai ( j) (dB)  (B.3)
                             m j 1