JIS C 6864:2008 マルチモード光ファイバモード遅延時間差試験方法 | ページ 3

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C6864 : 2008 IEC 60793-1-49 : 2003
表A.1−市販されているCategory A1マルチモード光ファイバの想定される最大分散値
波長 分散 波長 分散 波長 分散
泰 D 泰 D 泰 D
nm ps/nm・km nm ps/nm・km nm ps/nm・km
780 146
790 140
800 133 1 000 54.2 1 400 8.28
810 128 1 010 51.8 1 410 9.08
820 122 1 020 49.2 1 420 9.85
830 117 1 030 46.9 1 430 10.6
840 112 1 040 44.7 1 440 11.4
850 107 1 050 42.5 1 450 12.1
860 102 1 060 40.3 1 460 12.8
870 98.0 1 070 38.2 1 470 13.5
880 93.7 1 080 36.2 1 480 14.2
890 89.7 1 090 34.3 1 490 14.9
900 85.7 1 100 32.4 1 500 15.6
910 82.1 1 110 30.6 1 510 16.2
920 78.4 1 120 28.9 1 520 16.9
930 75.0 1 130 27.2 1 530 17.5
940 71.6 1 140 25.5 1 540 18.1
950 68.6 1 150 23.9 1 550 18.8
960 65.5 1 160 22.4 1 560 19.4
970 62.5 1 170 20.8 1 570 20.2
980 59.6 1 180 19.4 1 580 20.6
990 57.0 1 190 17.9 1 590 21.7
1 600 21.7
注記 1 344.5 nmと
1 200 nmの場合,NAが0.29のマルチモード光ファイバについてS0=0.095 62 ps/nm2・km,
仮定する。
湘 1 310 nmと仮定
,NAが0.20のマルチモード光ファイバについてS0=0.101 ps/nm2・km,
する。
ここに,S0はゼロ分散スロープのことである。

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C6864 : 2008 IEC 60793-1-49 : 2003
附属書B
(参考)
測定方法に関する詳細

序文

  この附属書は,本体及び附属書に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
この測定方法では,図B.1に示すように規定される条件の範囲で高速モードと低速モードの遅延時間差
を測定することに焦点を当てる。
注記 立上がり端及び立下がり端(しきい値25 %)の時間的な位置を“+”とする。
図中,波形は測定オフセット位置ごとにずらして示してある。囲みは
図B.1−DMD理論値
それぞれのオフセット位置において,シングルモードの励振用光ファイバからの出力スポットは,幾つ
か異なるグループのモードを励振する。このため波形の出力結果は,複雑な時間依存を示し,複数のピー
クが存在して,個々のモードグループがきれいに分解できるとは限らない。立上がり及び立下がりの検出
レベルは,波形のピーク強度の25 %とする。これは,例えばあるオフセット位置において,励振スポッ
トによって最も励振されたモードグループが,同一のオフセット位置において励振された他のモードグル
ープから時間的に分離されてしまうような場合に役に立つ。他のすべてのモードグループが同一の遅延時
間をもち,合算された強度が分離されたモードグループの強度を超えるような場合でも,25 %値の使用に
よって分離したモードグループの検出を保証する。
TSLOWとTFASTとの差は,パルスの時間幅,有限な検出装置の帯域,光源のスペクトル幅及び被測定光フ
ァイバの波長分散によるモードの広がりに相当する分だけDMDよりも大きな値となる。
パルスの時間幅及び有限な検出装置の帯域は, される。
スペクトルがガウス分布を示すのであれば,被測定光ファイバの出力端におけるそれぞれのモードの最大
強度の25 %値で定義される時間幅は,式(B.1)で求める。
t
Δchrom4 ln 2 D (B.1)

――――― [JIS C 6864 pdf 12] ―――――

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C6864 : 2008 IEC 60793-1-49 : 2003
ここに, 光源の自乗平均スペクトル幅 (nm)
D( 波長分散 (ps/nm・km)
L : 被測定光ファイバ長さ (km)
4 ln は,DMDの評価に最大強度の25 %値を使用し,光源の特性に自乗平均スペクトル幅を使用
することによる係数である。
被測定光ファイバから出力されるすべてのモードの25 %値の全体幅は,式(B.2)で求める。
1
2 2 2
ΔTREF ΔTPULSEΔtchrom (B.2)
このときDMDは,式(B.3)で求める。
DMD TSLOW TFAST ΔTREF (B.3)
ルスの時間幅及び検出装置の帯域によって決められるので, 定光フ
の長さによって変化することに注意する。波長分散による影響を抑制するためには,附属書Aに記載され
ているようにDMD測定値,被測定光ファイバ長さ及び 騰 罵 する。
DMDは,異なるオフセット位置における測定波形から遅延時間を比較することによって決まるので,
時間的なジッター及びパルスの時間幅が潜在的な問題になる。DMD測定の下限値は0.9 ( 刀 こ
れによって測定誤差が10 %以下に保証されるが,これはシステムのジッターの総和によって主に制約を
受ける。
この試験方法の制定に当たりTSLOW及びTFASTの評価方法として検出パルスをシステム応答について逆演
算する方法を検討した。測定されるDMDの最小値に対しては,比較的おおまかな制限しか求められない
点を考慮すると,極めて複雑な逆演算を用いる利点はない。 刀 な差分を使用することによる誤
差はDMD≧0.9( 刀 囲で1 %以下にすぎない。

JIS C 6864:2008の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60793-1-49:2003(IDT)

JIS C 6864:2008の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 6864:2008の関連規格と引用規格一覧