JIS C 8201-5-8:2009 低圧開閉装置及び制御装置―第５－８部：制御回路機器及び開閉素子―３ポジションイネーブルスイッチ

この規格ページの目次

8.2 構造に関する要求事項に対する適合性
8.3 性能
JIS C 8201-5-8:2009の引用国際規格 ISO 一覧
JIS C 8201-5-8:2009の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 8201-5-8:2009の関連規格と引用規格一覧

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                                                             C 8201-5-8 : 2009 (IEC 60947-5-8 : 2006)

8.2 構造に関する要求事項に対する適合性

  JIS C 8201-1の8.2による。ただし,8.2.5及び8.2.6を除く。
8.2.5  3ポジションイネーブルスイッチの動作の検証
  接点の状態を監視しながら,操作部を動かすことによって,7.1.9の要求事項を検証する。
このとき,0.2 ms以上の接点の閉路を検出しなければならない。
  3ポジションイネーブルスイッチの動作は,8.3.1の試験シーケンス7の中で検証しなければならない。
8.2.6  操作部の動作の検証
  操作部は,通常操作方向において,製造業者が指定する最大の操作力に耐えなければならない(図2の
F5参照)。

8.3 性能

8.3.1  試験シーケンス
  代表的供試品に関して実行すべき試験シーケンスは,次による。
− 試験シーケンス1(供試品No.1)
  − 試験 No.1 温度上昇(8.3.3.3)
  − 試験 No.2 耐電圧性能(8.3.3.4)
  − 試験 No.3 端子の機械的特性(JIS C 8201-1の8.2.4)
− 試験シーケンス2(供試品No.2)
  − 試験 No.1 正常条件における開閉素子の投入及び遮断容量(JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.2)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
− 試験シーケンス3(供試品No.3)
  − 試験 No.1 異常条件における開閉素子の投入及び遮断容量(JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.3)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
− 試験シーケンス4(供試品No.4)
  − 試験 No.1 条件付短絡電流における性能(8.3.4)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
− 試験シーケンス5(供試品No.5)
  − 試験 No.1 3ポジションイネーブルスイッチの保護等級(JIS C 8201-1の附属書C)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
− 試験シーケンス6(供試品No.6)
  − 試験 No.1 適用する場合,空間距離及び沿面距離の検証(7.1.3)
  − 試験 No.2 駆動力又はモーメントの測定(7.1.10及び8.2.5)
  − 試験 No.3 操作部強度の検証(8.3.3.7)
− 試験シーケンス7(供試品No.7)
  − 試験 No.1 機械的耐久性(8.3.3.6.1)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
− 試験シーケンス8(供試品No.8)
  − 試験 No.1 電気的耐久性(8.3.3.6.2)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
− 試験シーケンス9(供試品No.9)
  − 試験 No.1 衝撃及び振動(8.3.5)

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C 8201-5-8 : 2009 (IEC 60947-5-8 : 2006)
  − 試験 No.2 耐電圧の検証[JIS C 8201-5-1の8.3.3.5.5 b)]
  上記のいずれの試験においても,不合格があってはならない。
  製造業者が求めるなら,一つの供試品について,試験シーケンスを二つ以上又は全部を実施することが
できる。ただし,各供試品について定めたシーケンスで,試験を実施しなければならない。
    注記1 封止によって絶縁したクラスIIの3ポジションイネーブルスイッチについては,追加の供試
            品が必要である(JIS C 8201-5-1の附属書F参照)。
    注記2 内部接続ケーブル付きの3ポジションイネーブルスイッチに関しては,JIS C 8201-5-1の附
            属書Gを参照。
  機械的耐久性,衝撃及び振動試験は,三つの供試品で実施しなければならない(8.3.3.6.1及び8.3.5を参
照)。
8.3.2  一般的試験条件
8.3.2.1  一般要求事項
  JIS C 8201-1の8.3.2.1によるほか,次による。
  この試験は,次の要求を満足する機械によって操作される操作部を用いて,実施する。
− 操作試験機は,操作部に対して操作力をその運動方向に対して与えるものとする。
− 操作部にかかる最大の力は,F4(図2参照)を超えてはならない。
− 開閉操作が生じる瞬間の,操作試験機の操作部の速度は,0.05 m/sと0.15 m/sとの間でなければなら
    ない。
− 操作試験機と操作部との間の機械的結合は,操作部の自由運動を妨げないようにしなければならない。
8.3.2.2  試験条件
  JIS C 8201-1の8.3.2.2による。ただし,8.3.2.2.3は適用しない。
8.3.2.3  試験結果の評価
  各試験後の3ポジションイネーブルスイッチの条件は,それぞれの試験に対して適用する検証によって
確認する。
  3ポジションイネーブルスイッチは,適用できるそれぞれの単独試験及び/又は試験シーケンスの要求
を満足したときに,この規格の要求に適合したものとみなす。
8.3.2.4  試験報告書
  JIS C 8201-1の8.3.2.4による。
8.3.3  無負荷,通常負荷及び過負荷状態での性能
8.3.3.1  動作
  JIS C 8201-1の8.3.3.1による。
8.3.3.2  空欄
8.3.3.3  温度上昇
  JIS C 8201-5-1の8.3.3.3による。
8.3.3.4  耐電圧性能
  JIS C 8201-5-1の8.3.3.4による。
8.3.3.5  投入及び遮断容量
  JIS C 8201-5-1の8.3.3.5による。
8.3.3.6  耐久性
  3ポジションイネーブルスイッチは,8.3.3.6.1及び8.3.3.6.2に規定する機械的及び電気的耐久性試験に合

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格しなければならない。
  最低試験操作回数 : 100 000回
  推奨試験操作回数 : 0.1−0.3−1−3−10−30−100百万回
8.3.3.6.1 機械的耐久性
  三つの供試品(8.1参照)で,次の試験を実施する。
  試験は,ポジション1→2→1を1回の操作として50 000回以上と,ポジション1→2→3→1を1回の操
作として50 000回以上とを行わなければならない。3ポジションイネーブルスイッチの操作部は,要求さ
れる位置に到達するために必要な力を加えなければならない。
  3ポジションイネーブルスイッチの動作及び操作力は,試験を通じて一貫しなければならない。
  これは,試験の前後に測定して実証されなければならない。
  3ポジションイネーブルスイッチの機械的耐久性は,いずれの部品の修理又は交換なしに試験し,すべ
ての供試品が耐える無負荷の操作サイクル回数で定義する。
  試験は,JIS C 8201-5-1のC.1.2に従って行わなければならない。
  試験の間,接点は次の条件で製造業者によってそれぞれの状態変化を確認しなければならない。また,
破損があってはならない。
  試験電圧−電流値 : DC24 V−10 mA以下
  試験方法 : スイッチのポジションと接点状態との一致性は,次のポジションにシフトする前にすべての
ポジションにおいて確認しなければならない。
  接点状態は,それぞれのポジションにおいて確認しなければならない。
  スイッチのポジションと接点状態の一致性が確認されたときだけ,3ポジションイネーブルスイッチは,
次のポジションにシフトしなければならない。
  スイッチのポジションと接点状態の不一致が見つかったとき,試験は中止しなければならない。
      ポジション1 : 接点開路
         ↓
      ポジション2 : 接点閉路
         ↓
      ポジション3 : 接点開路
         ↓
      ポジション3−ポジション1 : 接点開路
  故障判定基準 : 
      試験の間,電気的及び/又は機械的不具合があってはならない。
      試験の後,開閉素子は最小1 000 Vで2 Ueの試験電圧で,JIS C 8201-5-1の8.3.3.4の耐電圧試験に
    合格しなければならない。
8.3.3.6.2 電気的耐久性
  試験条件は,スイッチの回路が5.1 g) に従い製造業者が指定する定格使用電圧での印加を除いて,
8.3.3.6.1の条件で行う。
8.3.3.7  操作部強度
  操作部は,製造業者が指定する最大の動作力(図2で定義されるF5)の150 %の力に耐えなければなら
ない。また,その力は,人間の動作に近い方法で通常の操作の方向に3回加える。

――――― [JIS C 8201-5-8 pdf 13] ―――――

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C 8201-5-8 : 2009 (IEC 60947-5-8 : 2006)
8.3.4  条件付短絡電流における性能
  JIS C 8201-5-1の8.3.4による。
8.3.5  衝撃及び振動試験
8.3.5.1  前処理手順
  次の手順の目的は,3ポジションイネーブルスイッチを様々な環境条件にさらし,その後の機能を検証
することにある。
  三つの供試品を,次の条件にさらさなければならない。
− 乾燥大気中に+40 ℃で96時間(JIS C 60068-2-2の試験Baを参照)
− +5 ℃で96時間(JIS C 60068-2-1の試験Aaを参照)
  上記環境条件にさらし,室温に戻した後,8.3.5.2及び8.3.5.3の試験を,連続して実施しなければならな
い。
8.3.5.2  衝撃
  8.3.5.1に従って前処理された三つの供試品は,それぞれ垂直3軸の1軸に振り分けて試験する。
  各供試品は,ポジション1の位置で試験を行い,対応する軸の両方向において150 m/s2の衝撃に耐えな
ければならない[JIS C 60068-2-27の表1(150 m/s2,11 ms)を参照]。
  試験中,閉路接点は開路,開路接点は閉路してはならない。
  モニタ手段は,接点の0.2 msを超えるいかなる開路又は閉路をも検出しなければならない。
8.3.5.3  振動
  三つの供試品は,垂直3軸のうち,8.3.5.2で振り分けた同一の軸でJIS C 60068-2-6に沿って,次の条件
で試験しなければならない。
− 周波数範囲 : 10 Hz55 Hz
− 振幅  : 0.5 mm
− 掃引サイクル : 5分
− 共振周波数における,又は55 Hzにおける持続時間 : それぞれの3軸の各軸で30分(合計90分)
  試験中,閉路接点は開路,開路接点は閉路してはならない。
  モニタ手段は,接点の0.2 msを超えるいかなる開路又は閉路をも検出しなければならない。

――――― [JIS C 8201-5-8 pdf 14] ―――――

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                                          附属書A
                                          (参考)
      3ポジションイネーブルスイッチを組み込んだイネーブル機器の例
  図A.1は,3ポジションイネーブルスイッチを組み込んだイネーブル機器を示す。
  このイネーブル機器は,JIS B 9960-1の要件を満たすイネーブル機能を起動するための制御回路機器と
して使用する。
                                                                3ポジションイネーブ
                                                               3ポジション
                                                               ルスイッチ
                                                               イネーブルスイッチ
                  制御回路へ接続
                制御回路へ接続
                                     図A.1−イネーブル機器
参考文献 JIS C 8201-5-5 低圧開閉装置及び制御装置−第5部 : 制御回路機器及び開閉素子−第5節 : 機
              械的ラッチング機能をもつ電気的非常停止機器
            注記 対応国際規格 : IEC 60947-5-5,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-5: Control
                  circuit devices and switching elements−Electrical emergency stop device with mechanical
                  latching function (IDT)
          IEC 60050 (441):1984,International Electrotechnical Vocabulary. Switchgear, controlgear and fuses

JIS C 8201-5-8:2009の引用国際規格 ISO 一覧

IEC 60947-5-8:2006(IDT)

JIS C 8201-5-8:2009の国際規格 ICS 分類一覧

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JIS C 8201-5-8:2009の関連規格と引用規格一覧

規格番号: 規格名称
JISC60068-2-1:2010: 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-2:2010: 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-27:2011: 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-6:2010: 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)