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C 8201-7-2 : 2012
導体は,硬質のより線でなければならない。
試験の間,締付具のねじは,締め直してはならない。
試験は,次のa)及びb)で行う。
a) 五つの絶縁した保護導体端子台を支持体なしで隣接して配置し,温度は中央の保護導体端子台で測定
する(図3参照)。
L
L
A
L
L
A : 測定点
L : 電線
図3−試験a)用の温度上昇試験の設置
――――― [JIS C 8201-7-2 pdf 11] ―――――
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b) 五つの保護導体端子台を支持体上に隣接して配置し,外側の二つの保護導体端子台に導体を接続する。
温度は,その外側の二つの保護導体端子台で測定する(図4参照)。
LL
A
B
L
L
A : 測定点
B : 支持体
L : 電線
図4−試験b)用の温度上昇試験の設置
8.4.4による電圧降下の検証後,試験はJIS C 8201-7-1の表4,表4A又は表5に示す定格断面積に対応
する交流単相電流で行う。試験は,一定温度に達するまで続ける。測定は,5分間隔で3回連続して行い,
それぞれの測定値間の差が1 K以下の場合一定温度とみなす。
温度上昇値は,7.2.1に示す限界値以下とする。
試験の終了後,周囲温度まで冷やし,保護導体端子台は図2に示す測定点で,8.4.4の電圧降下試験に合
格しなければならない。
8.4.6 短時間耐電流試験
この試験の目的は,熱的衝撃に対する耐力を確認することである。
試験は,製造業者の指示に従って取り付け,導体はJIS C 8201-1の表4,又は製造業者が定めるJIS C
8201-1の表4より高い値のトルクで適切に締め付ける。
定格断面積が10 mm2(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,ねじ若しくはボ
ルトの頭の下面又はナットの下面だけで押し締めする構造で,ケーブルラグ(圧着端子)など端末処理導
体だけを接続する目的の締付具の場合は,端末処理したより線で行う。
定格断面積が10 mm2(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。
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8.4.4による電圧降下の検証後,試験電流の電流値及び通電時間は7.2.3に適合しなければならない。
短時間耐電流の最大値は,レールの形状によって表A.1の値を限度とする。
試験電流は,図5の経路1に通電し,その後経路2に通電する。
電流経路の切替えに当たっては,少なくとも6分間以上空ける。
経路1 1
経路1
経路2
経路2
2
図5−短時間耐電流試験の電流経路
試験の終了後,継続使用を損なうような損傷を,端子台のいずれの部分にも生じてはならない。
保護導体端子台は,周囲温度にまで戻した後,配線を変更せずに8.4.4による電圧降下試験に合格しなけ
ればならない。
8.4.7 ねじなし端子台のためのエージング試験
五つの保護導体端子台を支持体なしで隣接して配置する(図3参照)。
定格断面積が10 mm2(AWG8)未満の場合,導体は単線でなければならない。ただし,製造業者が接続
形態を指定する場合は,それに従う。
定格断面積が10 mm2(AWG8)以上の場合,導体は硬質のより線でなければならない。
橋絡する導体の最小長さは,300 mmとする。
支持体との接続がねじなし式の場合は,更に別の五つの保護導体端子台を支持体上に隣接して配置する
(図4参照)。
試験には,耐熱絶縁導体又は裸導体を使用する。
保護導体端子台を20±2 ℃に保った恒温槽に置き,8.4.4の電圧降下を検証する。
導体を含む全ての試験装置は,電圧降下が完了するまで動かしてはならない。
その保護導体用端子台は,次に示す192回の温度サイクル試験に用いる。
標準使用条件(最大40 ℃)での用途を意図した保護導体端子台は,恒温槽の温度を85 ℃まで上げる。
製造業者が40 ℃を超える最大使用状態を指定した保護導体端子台は,恒温槽の温度を製造業者によっ
て明記された温度に45 K加えた温度まで上げる。
温度は,約10分間この値の±5 ℃以内に維持する。
次に,保護導体端子台を,約30 ℃まで冷却する。強制冷却してもよい。約10分間その温度を保つ。電
圧降下の測定が必要な場合,更に20±5 ℃まで冷却してもよい。
恒温槽における加熱及び冷却の速度は,通常1.5 ℃/minの値を目安とする。
24回目の温度サイクル後及び192回目の温度サイクルが完了後に,20±5 ℃で保護導体用端子台の電圧
降下を8.4.4によって測定する。
締付具の導体を接続する箇所の電圧降下測定値Uccは,4.8 mV以下又は24回目の温度サイクルの後に測
定した値の1.5倍以下とする。
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締付具の支持体に固定する箇所の電圧降下測定値Ucsは,9.6 mV以下又は24回目の温度サイクルの後に
測定した値の1.5倍以下とする。
この試験の後,目視検査において,亀裂,ゆがみなど,継続使用に支障があるような変化があってはな
らない。
その後,JIS C 8201-7-1の8.3.3.3によって引張試験を行う。
8.5 熱的特性の検証
JIS C 8201-7-1の8.5を適用する。
8.6 電磁両立性の立証
JIS C 8201-7-1の8.6を適用する。
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附属書A
(規定)
レール形状ごとの短時間耐電流値及びPENブスバーの熱定格電流値
表A.1−レール形状ごとの短時間耐電流値及びPENブスバーの熱定格電流値
レール形状 材質 E-Cu 短時間耐電流 PEN銅バーの
断面積 1s 熱定格電流値
mm2 kW A
トップハット形レール 鉄 10 1.2 −
JIS C 2812 15-5.5 銅a) 25 3 101
アルミニウムa) 16 1.92 76
トップハット形レール 鉄 16 1.92 −
JIS C 2812 35-7.5 銅a) 50 6 150
アルミニウムa) 35 4.2 125
トップハット形レール 鉄 50 6 −
JIS C 2812 35-15 銅a) 150 18 309
アルミニウムa) 95 11.4 232
G形レール 鉄 35 4.2 −
JIS C 2812G32 銅a) 120 14.4 269
アルミニウムa) 70 8.4 192
注a) 銅又はアルミニウムの合金は,この表に適合する容量のものを保護導体端子台製造業者
が選定する。
――――― [JIS C 8201-7-2 pdf 15] ―――――
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JIS C 8201-7-2:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60947-7-2:2009(MOD)
JIS C 8201-7-2:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.130 : 開閉装置及び制御装置 > 29.130.20 : 低電圧開閉用及び制御装置
- 29 : 電気工学 > 29.120 : 電気付属部品 > 29.120.99 : その他の電気付属部品
JIS C 8201-7-2:2012の関連規格と引用規格一覧
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