JIS H 1292:2018 銅合金の蛍光Ｘ線分析方法

                                                                                   H 1292 : 2018

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[2]
•  5 要旨・・・・[2]
•  6 装置・・・・[2]
•  6.1 蛍光X線分析装置・・・・[2]
•  6.2 装置の調整・・・・[2]
•  6.3 装置性能の確認・・・・[2]
•  7 定量成分及び定量範囲・・・・[2]
•  8 検量線用試料及び分析試料・・・・[3]
•  8.1 検量線用試料・・・・[3]
•  8.2 分析試料・・・・[3]
•  8.3 検量線用試料及び分析試料の調製・・・・[3]
•  9 蛍光X線強度の測定・・・・[3]
•  10 検量線・・・・[4]
•  10.1 検量線の作成・・・・[4]
•  10.2 共存元素の影響の補正・・・・[4]
•  11 計算・・・・[5]

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――――― [JIS H 1292 pdf 1] ―――――

H 1292 : 2018

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
伸銅協会(JCBA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改
正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)であ
る。
  これによって,JIS H 1292:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS H 1292 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              H 1292 : 2018

銅合金の蛍光X線分析方法

Copper alloys-Methods for X-ray fluorescence spectrometric analysis

1 適用範囲

  この規格は,銅合金(伸銅品,鋳物用地金及び鋳物)の塊状又は板状の試料の蛍光X線分析方法につい
て規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
        ータ
    JIS H 1012 銅及び銅合金の分析方法通則
    JIS H 1051 銅及び銅合金中の銅定量方法
    JIS H 1052 銅及び銅合金中のすず定量方法
    JIS H 1053 銅及び銅合金中の鉛定量方法
    JIS H 1054 銅及び銅合金中の鉄定量方法
    JIS H 1055 銅及び銅合金中のマンガン定量方法
    JIS H 1056 銅及び銅合金中のニッケル定量方法
    JIS H 1057 銅及び銅合金中のアルミニウム定量方法
    JIS H 1058 銅及び銅合金中のりん定量方法
    JIS H 1059 銅及び銅合金中のひ素定量方法
    JIS H 1060 銅及び銅合金中のコバルト定量方法
    JIS H 1061 銅及び銅合金中のけい素定量方法
    JIS H 1062 銅及び銅合金中の亜鉛定量方法
    JIS H 1065 銅及び銅合金中のセレン定量方法
    JIS H 1068 銅及び銅合金中のビスマス定量方法
    JIS H 1071 銅及び銅合金中のクロム定量方法
    JIS H 1072 銅及び銅合金中のアンチモン定量方法
    JIS H 1073 銅合金中のチタン定量方法
    JIS H 1074 銅及び銅合金中のジルコニウム定量方法
    JIS K 0119 蛍光X線分析通則

――――― [JIS H 1292 pdf 3] ―――――

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H 1292 : 2018

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS H 1012及びJIS K 0119による。

4 一般事項

  分析方法に共通な一般事項は,JIS H 1012及びJIS K 0119による。

5 要旨

  試料にX線を照射して元素を励起し,発生した定量成分の蛍光X線の強度を測定し,検量線によって定
量成分の含有率を求める。共存元素の影響がある場合には,共存元素の影響の補正を行って,定量成分の
含有率を求める。

6 装置

6.1 蛍光X線分析装置

  蛍光X線分析装置は,JIS K 0119の5.1 a)(波長分散方式)による。

6.2 装置の調整

  装置の調整は,JIS K 0119の箇条7(測定操作)及び箇条15(装置の点検)のa)(波長分散方式)によ
る。

6.3 装置性能の確認

  装置性能の確認は,JIS K 0119の箇条14 c)(定期的な装置性能の確認)による。

7 定量成分及び定量範囲

  定量成分及び定量範囲は,表1による。
                                   表1−定量成分及び定量範囲
                                                 単位 %(質量分率)
                               定量成分            定量範囲
                             銅               50.0以上   97.0以下
                             鉛                0.005以上 22.0以下
                             鉄                0.01以上   6.0以下
                             すず              0.01以上  15.0以下
                             亜鉛              0.01以上  23.0以下
                             アルミニウム      0.01以上  12.0以下
                             ひ素              0.01以上   0.1以下
                             マンガン          0.01以上  15.0以下
                             ニッケル          0.01以上  35.0以下
                             けい素            0.01以上   5.0以下
                             りん              0.005以上  0.5以下
                             コバルト          0.01以上   0.6以下
                             アンチモン        0.01以上   0.5以下
                             クロム            0.01以上   2.0以下
                             チタン            0.01以上   6.0以下
                             ビスマス          0.01以上   6.0以下
                             セレン            0.01以上   1.2以下
                             ジルコニウム      0.01以上   0.2以下

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                                                                                   H 1292 : 2018

8 検量線用試料及び分析試料

8.1 検量線用試料

  検量線用試料は,試料と化学組成が類似したものを用意して一系列のものとして用いる。試料が展伸材
の場合には,展伸材の検量線用試料を用い,試料が鋳物材の場合には,鋳物材の検量線用試料を使用する。
検量用試料中の定量成分含有量は,JIS H 1051,JIS H 1052,JIS H 1053,JIS H 1054,JIS H 1055,JIS H
1056,JIS H 1057,JIS H 1058,JIS H 1059,JIS H 1060,JIS H 1061,JIS H 1062,JIS H 1065,JIS H 1068,
JIS H 1071,JIS H 1072,JIS H 1073及びJIS H 1074に規定する方法によって決定する。また,標準試料
として,分析の目的に合致する認証標準物質(CRM)又はこれに準じた標準物質を用いてもよい。

8.2 分析試料

  分析試料は,JIS H 1012の5.(一次試料のサンプリング)によって採取し,分析面の径を通常25 mm以
上の平面状に成形できる塊状又は板状とする。

8.3 検量線用試料及び分析試料の調製

  検量線用試料及び分析試料は,分析面の径を25 mm以上の平面状に成形し,それらのX線照射面の表
面粗さが,JIS B 0601に規定する最大高さ粗さ(Rz)6.3          下となるように,切削,研磨などの適切な
方法によって調製する。これら試料の分析面には,巣,ガスホールなどの表面欠陥はあってはならない。
    注記 試料は,厚さが5 mm以上が望ましい。

9 蛍光X線強度の測定

  操作条件及び測定は,次による。
a) 検量線用試料及び分析試料は,試料ホルダを用いて装置の試料室に正しく装着する。試料のX線照射
    面積は,試料マスクによって一定にする。
b) 必要に応じてX線通路を真空にするか,ヘリウムに置換するなど,使用する装置によってあらかじめ
    設定された条件に従い,検量線用試料及び分析試料にX線を照射し,発生する定量成分の蛍光X線の
    強度を測定する。分析線の例を表2に示す。

――――― [JIS H 1292 pdf 5] ―――――

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