この規格ページの目次
JIS H 2123:1999 規格概要
この規格 H2123は、展伸材に用いる無酸素形銅,タフピッチ形銅及びりん脱酸形銅について規定。
JISH2123 規格全文情報
- 規格番号
- JIS H2123
- 規格名称
- 形銅
- 規格名称英語訳
- Copper billets and cakes
- 制定年月日
- 1962年6月1日
- 最新改正日
- 2019年10月21日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO 431:1981(MOD)
- 国際規格分類
ICS
- 77.150.30
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 非鉄 2021
- 改訂:履歴
- 1962-06-01 制定日, 1965-06-01 確認日, 1968-06-01 確認日, 1971-05-01 改正日, 1974-09-01 確認日, 1978-04-01 確認日, 1983-10-01 確認日, 1988-12-01 確認日, 1990-06-01 改正日, 1995-05-01 確認日, 1999-10-20 改正日, 2005-02-20 確認日, 2009-02-20 改正日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
- ページ
- JIS H 2123:1999 PDF [7]
H 2123 : 1999
まえがき
この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS H 2123 : 1990は改正され,この規格に置き換えられる。この規格は,
国際規格の整合化を図るためISO 431を元に作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
JIS H 2123には,次に示す附属書がある。
附属書(参考) 銅−水素ぜい化試験
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS H 2123 pdf 1] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
H 2123 : 1999
形銅
Copper billets and cakes
序文 この規格は,1981年に第2版として発行されたISO 431 : 1981, Copper refinery shapesを元に,対応
する部分(品質の外観及び物性,寸法の許容差,表示等)については技術的内容を変更することなく作成
した日本工業規格(日本産業規格)であるが,試験方法のうち,対応国際規格には規定されていない規定内容(繰返し曲げ
試験)を日本工業規格(日本産業規格)として追加し,また,適用範囲,種類,等級,品質の化学成分は対応国際規格の内
容を変更した。
なお,点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にない事項である。
1. 適用範囲 この規格は,展伸材に用いる無酸素形銅,タフピッチ形銅及びりん脱酸形銅(以下,形銅
という。)について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
ISO 431 : 1981 Copper refinery shapes
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版を適用する。
JIS C 3002 電気用銅線及びアルミニウム線試験方法
JIS H 0301 非鉄金属地金のサンプリング,試料調製及び分析検査通則
JIS H 1051 銅及び銅合金中の銅定量方法
JIS H 1058 銅及び銅合金中のりん定量方法
JIS H 1101 電気銅地金分析方法
JIS H 1202 電子管用無酸素銅分析方法
ISO 2626 Copper-hydrogen embrittlement test
――――― [JIS H 2123 pdf 2] ―――――
2
H 2123 : 1999
3. 種類及び記号 形銅の種類及び記号は,表1による。
表1 種類及び記号
種類 記号 用途例(参考)
名称 合金番号 形状
無酸素形銅 1種 C 1011 ビレット C 1011 CB 電子管用の棒・線・管など
ケーク C 1011 CC 電子管用の板・条など
2種 C 1020 ビレット C 1020 CB 棒,線,管,ブスバーなど
ケーク C 1020 CC 板,条,ブスバーなど
タフピッチ形銅 C 1100 ビレット C 1100 CB 棒,線,管,ブスバーなど
ケーク C 1100 CC 板,条,ブスバーなど
りん脱酸形1種 C 1201 ビレット C 1201 CB 棒,線,管など
銅 ケーク C 1201 CC 板,条など
2種 C 1220 ビレット C 1220 CB 棒,線,管など
ケーク C 1220 CC 板,条など
4. 品質
4.1 外観 形銅は,実用上有害な収縮孔,鋳割れ,鋳巣,異物の巻込みなどがなく品質均一でなければ
ならない。
4.2 化学成分 化学成分は,表2による。
表2 化学成分
単位 %
種類 化学成分
Cu P O その他
無酸素形銅 1種 99.99以上 0.0003以下 0.001以下 Pb 0.001以下
Zn 0.000 1以下
Bi 0.001以下
Cd 0.000 1以下
Hg 0.000 1以下
S 0.001 8以下
Se 0.001以下
Te 0.001以下
2種 99.96以上 − 0.001以下 −
タフピッチ形銅 99.90以上 − − −
りん脱酸形 1種 99.90以上 0.004以上 − −
銅 0.015未満
2種 99.90以上 0.015以上 − −
0.040以下
4.3 水素ぜい性 水素ぜい性は,次による。
4.3.1 C 1011及びC 1020は,6.2の水素ぜい化試験において,6.2.1の繰返し曲げ試験で,繰返し曲げを4
回行って破断してはならない。又は,6.2.2の顕微鏡試験を行って結晶粒界に水素ぜい化特有の多数の気泡
又は粒界分離を示す組織があってはならない。
4.3.2 C 1201は,6.2の水素ぜい化試験を行った場合,6.2.2の顕微鏡試験において,結晶粒界に水素ぜい
化特有の多数の気泡又は,粒界分離を示す組織があってはならない。
4.3.3 4.3.1及び4.3.2とは別にISO 2626に従い,同様な試験を行ってもよい。
4.4 導電率 導電率は,次による。
――――― [JIS H 2123 pdf 3] ―――――
3
H 2123 : 1999
4.4.1 C 1011は,6.3によって導電率試験を行って,101%以上とする。
4.4.2 C 1020は,6.3によって導電率試験を行って,100%以上とする。
4.4.3 C 1100は,6.3によって導電率試験を行って,100%以上とする。
なお,ISO 431に規定される導電率の表記については,表3に示す。
表3 導電率換算表
電気特性
規格値 換算値(参考)
導電率 導電率 質量抵抗率 体積抵抗率
%IACS 最小 MS/m 最小 圀最一 Y 圀 一 Y
100.0 58.00 0.153 28 0.017 24
101.0 58.58 0.151 76 0.017 07
5. 寸法の許容差 寸法の許容差は,表4及び表5による。
表4 ビレット寸法の許容差
区分 許容量
径 200mm以下 ±3.0mm
200mmを超えるもの 当事者間の協定による
長さ ±2%
備考 長さの許容差を (+) 又は (−) だけに指定す
る場合は,上記数値の2倍とする。
表5 ケークの寸法の許容差
区分 寸法 許容量
厚さ及び幅 200mm以下 ±6mm
200mmを超えるもの ±3%
長さ 200mm以下 ±6mm
200mmを超えるもの ±3%
6. 試験
6.1 化学分析試験 化学成分の分析試験は,次による。
6.1.1 C 1011は,JIS H 1202及びJIS H 0301による。
6.1.2 C 1020は,JIS H 1101による。
6.1.3 C 1100は,JIS H 1101による。
6.1.4 C 1201及びC 1220は,JIS H 1051及びJIS H 1058による。
6.2 水素ぜい化試験 水素ぜい化試験は,次の手順による。
C 1011,C 1020,及びC 1201の水素ぜい化試験は,形銅の一部を鍛造又は熱間圧延をした後,径2.0
3.0mmの線に引き抜いた試料から取った試験片を用い,水素気流中で850±25℃,30分間加熱した後,室
温で次の繰返し曲げ試験又は顕微鏡試験を行う。
なお,この方法によらず,ISO 2626に従い同様な試験を行い,これに代えることもできる。
6.2.1 繰返し曲げ試験 繰返し曲げ試験は,曲げの内側半径を線径の2.5倍とし,繰返し曲げ方向は図1
のとおり交互に反対方向に行い,垂直の位置から90°曲げた後,もとの位置に戻し,これを1回とする。
次に反対方向へ90°曲げた後,もとの位置に戻し,これを2回とし,これを継続する。
――――― [JIS H 2123 pdf 4] ―――――
4
H 2123 : 1999
図1 曲げ試験要領
6.2.2 顕微鏡試験 顕微鏡試験は,試験片を研磨しエッチングを行い,倍率を150300倍にして顕微鏡
で観察する。
6.3 導電率試験 導電率試験は,次による。
導電率試験は,形銅の一部を鍛造又は熱間圧延をした後,径2.03.0mmの線に引き抜き,約500℃で
30分以上無酸化焼なまししたものをJIS C 3002の6.導電率によって行う。
7. 検査 検査は,次のとおり行う。
7.1 形銅は,外観及び寸法を検査するとともに6.によって試験を行い,4.の規定に合格しなければならな
い。ただし,受渡当事者間の協定によって,4.3.2及び4.4.3を省略することができる。
7.2 その他一般事項は,JIS H 0301による。
8. 表示 製品又は送り状には,次の事項を適切な方法によって表示しなければならない。ただし,受渡
当事者間の協定によって,a)及びb)を省略することができる。
a) 種類又はその記号
b) 製造番号又はそれを表す記号
c) 製造業者名又はその略号
――――― [JIS H 2123 pdf 5] ―――――
次のページ PDF 6
JIS H 2123:1999の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 431:1981(MOD)
JIS H 2123:1999の国際規格 ICS 分類一覧
JIS H 2123:1999の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC3002:1992
- 電気用銅線及びアルミニウム線試験方法
- JISH0301:1997
- 非鉄金属地金のサンプリング,試料調製及び分析検査通則
- JISH1051:2013
- 銅及び銅合金中の銅定量方法
- JISH1058:2013
- 銅及び銅合金中のりん定量方法
- JISH1062:2006
- 銅及び銅合金中の亜鉛定量方法
- JISH1069:2006
- 銅及び銅合金中のカドミウム定量方法
- JISH1070:2013
- 銅及び銅合金中の硫黄定量方法
- JISH1101:2013
- 電気銅地金分析方法