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JIS H 7601-1:2002 規格概要
この規格 H7601-1は、金属間化合物の室温での引張試験方法について規定。
JISH7601-1 規格全文情報
- 規格番号
- JIS H7601-1
- 規格名称
- 金属間化合物の引張試験方法―第1部 : 室温引張試験
- 規格名称英語訳
- Method of tensile test for intermetallic compounds -- Part 1:Room temperature tensile test
- 制定年月日
- 2002年8月20日
- 最新改正日
- 2017年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- 国際規格分類
ICS
- 77.040.10
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 2002-08-20 制定日, 2007-12-20 確認日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
- ページ
- JIS H 7601-1:2002 PDF [10]
H 7601-1 : 2002
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人大阪科学技術センター付属ニューマ
テリアルセンター(OSTEC)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を
制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)で
ある。
JIS H 7601-1には,次に示す附属書がある。
附属書1(参考)金属間化合物の種類及びその性質
附属書2(参考)試験片の表面加工処理方法
JIS H 7601の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS H 7601-1 第1部 : 室温引張試験
JIS H 7601-2 第2部 : 高温引張試験
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS H 7601-1 pdf 1] ―――――
H 7601-1 : 2002
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 引用規格・・・・[1]
- 3. 定義・・・・[1]
- 4. 試験の原理・・・・[2]
- 5. 試験片・・・・[2]
- 6. 試験装置・・・・[3]
- 6.1 試験機・・・・[3]
- 6.2 つかみ装置・・・・[3]
- 6.3 伸び計・・・・[3]
- 7. 試験・・・・[3]
- 7.1 試験方法・・・・[3]
- 7.2 降伏点又は耐力及び引張強さの測定・・・・[3]
- 7.3 破断伸びの測定・・・・[3]
- 7.4 絞りの測定・・・・[3]
- 8. 試験結果の表示・・・・[3]
- 9. 報告・・・・[3]
- 附属書1(参考)金属間化合物の種類及びその性質・・・・[5]
- 附属書2(参考)試験片の表面加工処理方法・・・・[6]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS H 7601-1 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
H 7601-1 : 2002
金属間化合物の引張試験方法―第1部 : 室温引張試験
Method of tensile test for intermetallic compounds― Part 1: Room temperature tensile test
序文
金属間化合物は,特性的に金属とセラミックスとの中間に位置する材料群である。この規格の目的
は,金属間化合物の引張特性に及ぼす試験技術の影響をできるだけ減らすことによって,各機関で得られ
たデータの相互比較を可能にすることである。特に,金属間化合物の室温における引張特性は,試験片表
面の加工状態に強く影響を受けることが知られている。そのため,この規格では,試験片表面の加工の状
態によって,試験片に等級区分を設けた。
1. 適用範囲
この規格は,金属間化合物の室温での引張試験方法について規定する。
参考 金属間化合物の種類及びその性質は,附属書1を参照。
2. 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 7721 引張・圧縮試験機―力計測系の校正・検証方法
JIS B 7741 一軸試験に使用する伸び計の検証方法
JIS G 0202 鉄鋼用語(試験)
JIS Z 2201 金属材料引張試験片
JIS Z 2241 金属材料引張試験方法
JIS Z 8401 数値の丸め方
3. 定義
この規格で用いる主な用語の定義は,JIS G 0202によるほか,次による。
a) 標点距離(L) 平行部に付けた2標点間の距離で伸び測定の基準となる長さ。
1) 原標点距離(Lo) 試験片に力を加える前の標点距離。
2) 最終標点距離(Lu) 試験片が破断した後の標点距離。
b) 伸び計の標点距離(Le) 伸び計によって伸びを測定するために試験片の平行部に設定された長さ。
この長さは,Loと異なってもよいが,試験片の幅・径より大きく,平行部長さより小さくなければな
らない。
c) 伸び 試験中の任意の時点における,原標点距離の増分。
d) 伸び(%)
1) 永久伸び(%) 規定応力を除去した後の試験片の原標点距離の増分で,原標点距離に対して百分
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H 7601-1 : 2002
率で表した値。
2) 破断伸び(%) 破断後の標点距離の永久伸び(Lu−Lo)で,原標点距離に対して百分率で表した
値。
3) 破断時全伸び(%) 破断の瞬間における全伸び(弾性変形と塑性変形とを含む。)を原標点距離に
対する百分率で表した値。
e) 絞り(%) 試験中に発生した断面積の最大変化量で,原断面積に対して百分率で表した値。
4. 試験の原理
室温で試験片の長手方向に引張りの力を加えることによって試験片に破壊するまでひず
みを与えて,降伏点,耐力,引張強さ,降伏伸び,破断伸び,絞りなどの機械的性質のすべて又はその一
部を測定する。
5. 試験片
試験片は,次による。
a) 試験片は,円形断面の丸棒試験片を用いる。丸棒試験片を採取することができない場合には,板状試
験片を使用してもよい。板状試験片は,JIS Z 2201の14 B号とする。ただし,いずれの試験片でも素
材の形状及び/又は寸法によっては,JIS Z 2201の定形試験片を用いてもよい。
b) 丸棒試験片の寸法は,表1による。
表 1 丸棒試験片の寸法
単位 mm
平行部の径 標点距離 平行部の長さ 肩部の半径
D Lo P R
4 20 5.5 D 7.5 D 15 以上
6 30 5.5 D 7.5 D 15 以上
8 40 5.5 D 7.5 D 15 以上
10 50 5.5 D 7.5 D 15 以上
c) 試験片平行部の寸法に対する許容差は,JIS Z 2201の規定による。
d) 試験片は,平行部の表面仕上げ状態によって,表2に示す5種類に区分する。
表 2 試験片平行部の表面仕上げの区分
等級 試験片平行部の表面仕上げの種類 仕上げの状態
0.5級 電解研磨仕上げ
1級 研磨仕上げ #1500の研磨
2級 研磨仕上げ #400の研磨
3級 切削仕上げ
4級 機械加工なし
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H 7601-1 : 2002
備考1. 試験片平行部の表面仕上げの各工程は,前加工のこん跡がなくなる
まで行わなければならない。
2. このうちの#1500の研磨仕上げ(1級)を標準の加工状態とする。
3. 精密鋳造材については,表面微小硬さで等級を区分してもよい。こ
の場合,精密鋳造材及びそれから作製した各等級の表面仕上げ材を
表面微小硬さで比較して,精密鋳造材と同等な硬さを示す表面仕上
げ材の等級を選び出し,それを精密鋳造材の等級とする。
なお,等級決定の根拠となるデータを報告書に記載しなければな
らない。
参考 試験片の表面加工処理方法は,附属書2を参照する。
6. 試験装置
6.1 試験機
試験機は,JIS B 7721の等級1級以上とする。
6.2 つかみ装置
試験片のつかみ装置は,試験中試験片を試験機の作動中心線上に保持できるもので,
引張り以外の力が加わらない構造のものとする。
6.3 伸び計
伸び計は,JIS B 7741の等級1級以上とする。ナイフエッジ又はピポット式標点をもつ伸
び計を取り付けられない場合には,降伏点又は耐力の測定を目的にひずみゲージを使用してもよい。
7. 試験
7.1 試験方法
試験開始から連続的に引張力を負荷し,降伏点又は耐力近傍及びそれ以降破断に至るま
での試験片標点間のひずみ速度は2 ± 1 %/minとする。 試験温度は1035 ℃の範囲内とし,温度管理が
必要なときは23 ± 5 ℃とする。
7.2 降伏点又は耐力及び引張強さの測定
試験開始から力及び伸びを連続的に記録して,得られた応力
―伸び曲線(応力―ひずみ曲線)からJIS Z 2241の方法に従って測定する。
7.3 破断伸びの測定
a) 破断伸びが3 %に満たない場合には,伸び計を用いて得られる応力―伸び曲線(応力―ひずみ曲線)
から求めた永久伸びを破断伸びとする。
b) 破断伸びが3 %を超える場合には,破断した試験片の軸が直線となるように破断面を突き合わせJIS
Z 2241の方法に従って測定する。
c) ナイフエッジ又はピポット式標点をもつ伸び計又はひずみゲージを取り付けられない試験片,及び表
面加工を施すことなくひずみゲージを装着した試験片では,例外的処置として,破断伸びが3 %未満
であっても突合せ法によって破断伸びを測定してよい。
7.4 絞りの測定
絞りはJIS Z 2241の方法に従って測定する。
備考 試験片に表面加工を施すことなくひずみゲージを装着した場合には,その試験から引張強さ,
破断伸び及び絞りを求めてよい。しかし,試験片に表面加工を施してひずみゲージを装着した
場合には,その試験から引張強さ,破断伸び及び絞りを求めてはならない。
8. 試験結果の表示
a) 降伏点,耐力及び引張強さは,JIS Z 8401によって整数に丸める。
b) 降伏伸び,破断伸び及び絞りは,JIS Z 8401によって小数点第1位に丸める。
9. 報告
報告書には,次の事項を記載する。
――――― [JIS H 7601-1 pdf 5] ―――――
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JIS H 7601-1:2002の国際規格 ICS 分類一覧
JIS H 7601-1:2002の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7721:2018
- 引張試験機・圧縮試験機―力計測系の校正方法及び検証方法
- JISB7741:2019
- 一軸試験に使用する伸び計システムの校正方法
- JISG0202:2013
- 鉄鋼用語(試験)
- JISZ2201:1950
- 医療用遠心沈デン器
- JISZ2201:1998
- 金属材料引張試験片
- JISZ2241:2011
- 金属材料引張試験方法
- JISZ8401:2019
- 数値の丸め方