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K 0215 : 2016
番号 用語 定義 対応英語(参考)
4161 電離箱 ion chamber
放射線の電離作用によって生成した電子及びイオンの量
から,その強度を測定する機器。
4162 動径分布 radial distribution
任意の原子を中心としたときの他の原子までの距離の分
布。
4163 統計変動(放射線計測 statistical error of
放射線計測における計数値の変動。通常,標準偏差で表
の) す。 counting (of radiation
measure)
4164 特性X線 元素に固有の波長をもつX線。 characteristic X-rays
4165 二次ターゲット方式 secondary target method
X線管からの一次X線を二次ターゲットに照射して,そ
こから発生する蛍光X線を励起に利用して分析試料に照
射する方法。
4166 二次フィルター secondary beam filter
分析目的の元素以外に起因するX線を効果的に減衰させ
るために,試料と検出器との間に入れるフィルター。
4167 入射角固定法, fixed incident-angle
X線応力測定において,入射角を固定し検出器だけを走
Ψ0一定法 査させて回折強度曲線を測定する方法。 method,
fixed Ψ (psi) 0 method
4168 倍角回転機構 2
ゴニオメーターにおいて試料軸と受光スリット軸(計数 愀椀 攀 愀
管軸)とが1 : 2の比で回転する機構。
4169 波高分布曲線 pulse height distribution
一定のエネルギーをもつ単色X線によって得られるパル
スの波高値の分布を表す曲線。 curve
4170 wavelength dispersive
波長分散形X線分析法,試料から発生するX線を波長分光器を用いて分光し分析
WDX する方式。 X-ray spectroscopy,
WDX
4171 発散スリット divergence slit
X線回折装置において,X線の発散角を制限するための
スリット。
4172 半導体検出器, solid state detector,
半導体を利用してX線を電気的なパルス信号に変換し,
SSD(X線分析の) X線エネルギーを測定する検出器。 SSD (of X-ray analysis)
4173 非干渉性散乱 X線が物質に入射したときに散乱されるX線で,入射Xincoherent scattering
線より長い波長をもつ散乱。
4174 標準化試料(X線分析 specimen for
装置の所定の運転条件下において,X線強度及びその誤
の) 差が許容範囲内にあることを確かめるための試料。 standardization of
instrument (of X-ray
analysis)
4175 reference material (of
標準物質(X線分析の) 格子定数,分析種濃度などの特性値が精密に測定されて
おり,化学的に安定で,かつ,高純度な物質で,X線の X-ray analysis)
測定及び分析の標準として用いられる物質。
4176 表面広域X線吸収微細 surface EXAFS,
全反射法など表面に敏感な手法で測定された広域X線吸
構造, 収微細構造スペクトル。 SEXAFS
SEXAFS
(せきざふす)
4177 比例計数管 proportional counter
X線による気体のイオン化作用を利用した比例領域で作
動するX線検出器。光量子1個当たりのパルス電流が入
射X線のエネルギーに比例する。
4178 ファンダメンタルパラ fundamental parameter
X線の吸収・励起などのX線強度に影響を与える物理定
メーター法, method,
数(ファンダメンタルパラメーター)を用いて,組成,
FP法 膜厚など計算で求める方法。 FP method
――――― [JIS K 0215 pdf 21] ―――――
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K 0215 : 2016
番号 用語 定義 対応英語(参考)
4179 ブラッグの式 X線回折が起こるための条件を与える式。 Bragg equation
2dsinθ=nλ
ここに, d : 格子面間隔
θ : ブラッグ角
λ : X線の波長
n : 整数
4180 Buerger-precession
プリセッションカメラ 単結晶試料の逆格子像をゆがみなく撮影するカメラ。
camera
4181 resolution (of X-ray
分解能(X線検出器の),検出したX線に対するエネルギー識別能力。理想的な単
エネルギー分解能 色X線が検出器に入射したときのピークの半値幅 detector),
(FWHM,単位の次元はエネルギー)又は半値幅とピーenergy resolution
クエネルギーとの比(%)。
4182 分光結晶 analyzing crystal
結晶によるX線の回折現象を利用して,X線の波長選択
を行うための素子。
4183 ポーラネット polar net
球面上の緯線と経線とを赤道面にステレオ投影したチャ
ート。
4184 放射光, 電子シンクロトロンから放射される電磁波。 synchrotron radiation,
シンクロトロン放射, SR
SR
4185 マキシマムエントロピ maximum entropy
結晶構造解析の測定値及びその誤差から最良の電子密度
ー法, を導く方法。 method,
MEM(X線分析の) MEM (of X-ray analysis)
4186 マルチチャンネル波高 multi-channel pulse
多重波高分析器で数千段階位のエネルギー帯にX線を分
分析器, 類し,エネルギー分布を表示する機器。 height analyzer,
MCA MCA
4187 ミラー指数, 結晶の格子面を表す指数。 Miller indices
面指数
4188 無反射試料板 reflection free sample
試料板からの散乱が回折X線に重ならないように単結晶
を切り出して製作した試料ホルダー。 holder
4189 面内回転試料台 specimen rotation stage
試料を測定面に垂直な軸の周りに回転させることによっ
て,回折X線強度への粒径の影響を平均化する試料台。
4190 面法線一定法, fixed plane-normal
入射X線と検出器とを,特定方位の結晶格子面法線を中
Ψ一定法 method,
心として,同時に,等速度で,互いに反対側に走査して
回折角を測定する方法。 fixed Ψ (psi) ethod
4191 モノクロメーター(X X線の単色化を行うための分光器。 monochromator (of
線の) X-ray)
4192 ヨハンソン形分光器 分光結晶を半径2Rで湾曲させた後,半径RのローランJohansson spectrometer
ド円に沿って結晶表面を削ることによって収差なく集光
する分光器。
4193 4軸形ゴニオメーター four-circle goniometer
X線による結晶構造解析を行うために,カウンターと単
結晶試料の方位とを,四つの軸を用いて配置を自由に設
定できるようにしたゴニオメーター。
4194 ラウエカメラ X線回折像を測定するためのラウエ法に用いるカメラ。 Laue camera
4195 リートベルト法 Rietveld method
広い回折角範囲の粉末回折パターンを直接解析し,格子
定数,構造パラメーターなどを精密化する方法。
4196 励起X線 蛍光X線を発生させるために試料に照射するX線。 excitation X-rays
4197 レイリー散乱 Rayleigh scattering
光の散乱の一種。光の波長に比べて十分小さい微粒子に
よって起こり,光の波長が変化しないもの。
4198 ワイセンベルクカメラ X線回折像を測定するための回転結晶法に用いるカメラ。Weissenberg camera
――――― [JIS K 0215 pdf 22] ―――――
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K 0215 : 2016
c) 電子顕微鏡
番号 用語 定義 対応英語(参考)
4201 アノード(電子顕微鏡 anode (of electron
エミッターからの放出電子を加速又はエミッターから電
の) microscope)
子を引き出すため,エミッターに対向して設置される電
極。
4202 イオンミリング法 ion milling method
金属試料を薄膜化するために,加速したイオンによって
試料表面を削る方法。
4203 エネルギー分散形X線 energy dispersive X-ray
試料から発生するX線を,X線エネルギーに比例した電
分析計 spectroscopy
気信号を発生する検出器を用いてエネルギー選別して分
光する機器。
4204 エミッション電流 エミッターから放出される電子線による電流。 emission current
4205 エミッター(電子顕微 電子を放出する物質。 emitter (of electron
鏡の) microscope)
4206 オスミウム染色法 osmium staining
透過電子顕微鏡の像のコントラストを増すために,試料
中の透過率の差が明瞭になるように染色する方法。
4207 カソードルミネッセン cathodoluminescence
電子線の試料への照射によって試料から放出される紫
ス 外,可視及び赤外領域の波長をもつ電磁波。
4208 加速電圧 試料に照射される電子の運動エネルギーの電圧換算値。 accelerating voltage
4209 吸収電子 absorbed electron
散乱電子のうち,試料中でエネルギーを損失し吸収され
る電子。
4210 結像レンズ(電子顕微 focusing lens (of
透過電子顕微鏡で試料から透過した電子線を蛍光面など
鏡の) に結像させるレンズ。 electron microscope)
4211 散乱電子 scattered electron
電子線の試料への照射によって,前方又は後方に散乱さ
れる電子。
4212 集束レンズ(電子顕微 condenser lens (of
エミッターから放出された電子を集束し電子線とするレ
鏡の) ンズ。 electron microscope)
4213 走査時間 試料上を電子線で走査する一周期の時間。 scanning time
4214 走査電子顕微鏡, scanning electron
細く集束した電子線を試料上で二次元的に走査して試料
SEM microscope,
から得られる二次電子などを用いて拡大像を形成する顕
微鏡。 SEM
4215 走査透過電子顕微鏡, scanning transmission
薄膜試料を透過した電子を検出して,走査像を得る顕微
STEM 鏡。 electron microscope,
STEM
4216 対物レンズ(電子顕微 objective lens (of
集束された電子線を更に細く試料面に集束させるレン
鏡の) ズ。 electron microscope)
4217 対物レンズ絞り 対物レンズを通過する電子線の開き角を制御する絞り。 objective aperture
4218 チャージアップ(電子 試料が電子線によって帯電する現象。 charging effect (of
顕微鏡の) electron microscope)
4219 電解研磨法 electrolytic polishing
金属試料を陽極とし,電解液中で電気分解することによ
って試料表面を研磨する方法。 method
4220 電界放出 field emission
物質に電界を印加することによって,表面から電子が放
出する現象。
4221 電子顕微鏡 電子線を用いて試料の拡大像を得る顕微鏡。 electron microscope
4222 電子銃 electron gun
電子線を発生させた後,加速によって一定のエネルギー
を電子に付加する機器。
4223 電子線
電子銃から放出された電子をレンズで直径数 electron probe
nm以下に集束させ,試料に照射する電子線。
4224 透過電子 散乱電子のうち,試料を透過して放出する電子。 transmitted electron
――――― [JIS K 0215 pdf 23] ―――――
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番号 用語 定義 対応英語(参考)
4225 透過電子顕微鏡, transmission electron
数十kVから数百kVの電子線がもつ波の性質を利用して
TEM 物質の透過像を拡大する顕微鏡。 microscope,
TEM
4226 凍結乾燥法 freeze-drying method
試料を凍結した後,減圧下で水分を昇華させることによ
って脱水及び乾燥させる方法。
4227 二次電子 secondary electron
電子線の試料への照射によって,試料から放出する電子
のうち運動エネルギーの低い電子。
4228 二次電子検出器 secondary electron
電子線を試料に照射したときに発生する運動エネルギー
が数十eV以下の電子を検出する機器。 detector
4229 二次電子放出率 secondary electron yield
電子線を試料に照射したとき放出される二次電子の割合
を,試料に照射した電子1個当たりの二次電子の数で表
した数値。
4230 反射電子 backscattered electron
散乱電子のうち,後方に散乱されて試料から放出される
運動エネルギーの高い電子。電子線の電子と同程度の運
動エネルギーをもつ。
4231 反射電子検出器 backscattered electron
電子線が物質に照射されたときにエネルギーの減衰を受
けずに放射される電子を検出する機器。 detector
4232 表面コーティング(電 coating (of electron
試料のチャージアップを防ぐため表面を導電性物質で被
子顕微鏡の) 覆する処理。 microscope)
4233 プローブ電流 電子線の電流。 probe current
4234 分析電子顕微鏡, analytical electron
透過電子顕微鏡に元素分析機能を追加した複合機器。照
AEM 射電子線によって試料内で励起された特性X線をエネルmicroscope,
AEM
ギー分散形X線分光器(EDS)で元素分析を,電子エネ
ルギー損失分光器によって試料を通過した電子線のエネ
ルギー分析から元素分析及び結合状態分析を行う機器。
4235 レプリカ法(電子顕微 replica method (of
電子顕微鏡で観察しにくい試料の表面に,薄いコロジオ
鏡の) ン,ファルンバール又は酸化被膜を作ってがし,その electron microscope)
膜を観察する方法。
4236 lens (of electron
レンズ(電子顕微鏡の) 電磁場の性質を利用して電子線を集束させる部品。像の
拡大又は縮小をするためにはレンズを組み合わせて利用microscope)
する。
4237 ワーキングディスタン working distance (of
対物レンズの磁極端面と試料表面との距離。作動距離と
ス(電子顕微鏡の) もいう。 electron microscope)
d) 核磁気共鳴装置
番号 用語 定義 対応英語(参考)
4301 FID, free induction decay (of
パルスとして印加した電磁波によって励起された核磁気
自由誘導減衰(核磁気 nuclear magnetic
モーメントが緩和する過程で放出するラジオ波の信号。
共鳴装置の) resonance apparatus),
FID
4302 化学シフト(核磁気共 chemical shift (of NMR)
隣接する原子の影響で原子の電子系がもつ磁気モーメン
鳴の) トが変化し,その影響によって核磁気モーメントの共鳴
周波数がずれる現象。
4303 核磁気共鳴, nuclear magnetic
核磁気モーメントをもつ原子核のエネルギー準位が,外
NMR resonance,
部磁場によって分裂して生じたエネルギー準位間の共鳴
現象。 NMR
4304 核磁気共鳴装置 nuclear magnetic
核磁気共鳴を利用して,分子の化学構造及び隣接する原
子間の距離を解析する機器。 resonance apparatus
4305 核磁気モーメント 原子核の回転から生じる磁気モーメント。 nuclear magnetic
moment
――――― [JIS K 0215 pdf 24] ―――――
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番号 用語 定義 対応英語(参考)
4306 核磁気誘導, nuclear magnetic
物質に静磁場と同時に静磁場の垂直方向に交流磁場を印
核誘導 induction
加すると,ファラデーの法則によって交流起電力が誘起
される現象。
4307 核スピン nuclear spin
原子核がもつ量子化された角運動量及び磁気モーメン
ト。
4308 relaxation (of NMR)
緩和(核磁気共鳴の) 原子核が電磁波を吸収して励起された状態から熱平衡状
態に戻る過程。
4309 緩和時間 緩和に要する時間,又は緩和に要する時間を表す時定数。 relaxation time
一般にスピン−格子緩和時間(T1)又はスピン−スピン
緩和時間(T2)は,時定数を取り扱う。
4310 強磁性共鳴 強磁性体の電子スピン共鳴。 ferromagnetic resonance
4311 共鳴周波数 核磁気共鳴を起こす周波数。 resonant frequency
4312 クエンチ quench
超伝導磁石が何らかの理由で超伝導状態を維持できなく
なったとき,メインコイルを流れる大電流が熱に変換さ
れ,周囲の液体ヘリウムを一気に蒸発させる現象。蒸発
したヘリウムが外部に放出されるため,窒息の危険を伴
うため注意が必要である。
4313 サイドバンド side band
核磁気共鳴信号に対して低周波数側及び高周波数側の双
方に出現する疑似信号。
4314 シム(核磁気共鳴装置 sim (of nuclear magnetic
観測領域の磁場の不均一性を補正して均一にするための
の) コイル群。 resonance apparatus)
4315 常磁性共鳴 常磁性体の電子スピン共鳴。 paramagnetic resonance
4316 スピン−格子緩和, spin-lattice relaxation
スピンの位相のそろった状態が格子振動によって緩和さ
縦緩和 れる現象。
4317 スピン−スピン緩和, spin-spin relaxation
スピンの位相のそろった状態がスピン−スピン相互作用
横緩和 によって緩和される現象。
4318 スピン−スピン結合 spin-spin coupling
シグナルの分裂を引き起こす核スピン間の相互作用。
4319 多次元核磁気共鳴法 multidimensional
フーリエ変換核磁気共鳴において,複数のパルスによっ
て磁気モーメントを励起して構造解析を行う方法。 nuclear magnetic
resonance
4320 超伝導マグネット(核 superconducting magnet
分子量が大きい試料でも核磁気共鳴によって解析ができ
磁気共鳴装置の) (of nuclear magnetic
るように,超伝導現象を利用して強力な静磁場を試料に
与える機器。 resonance apparatus)
4321 電子スピン共鳴, electron spin resonance,
磁気モーメントをもつ電子のエネルギー準位が,静磁場
ESR 中で分裂して生じたエネルギー準位間の共鳴現象。 ESR
4322 電子スピン共鳴装置 electron spin resonance
電子スピン共鳴現象を利用して物質中の電子の環境など
の情報をもつスペクトルを測定する機器。 apparatus
4323 フーリエ変換核磁気共 Fourier transform nuclear
多数の周波数成分を含むパルスによって核磁気共鳴を起
鳴装置 magnetic resonance
こし,その後に続く緩和の過程を測定しフーリエ変換し
て核磁気共鳴信号を得る機器。 spectrometer
4324 不対電子 nonpaired electron
原子を構成する電子の配置で同一軌道上に反対スピンを
もつ電子が存在しない電子。
――――― [JIS K 0215 pdf 25] ―――――
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JIS K 0215:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 01 : 総論.用語.標準化.ドキュメンテーション > 01.040 : 用語集 > 01.040.71 : 化学技術(用語集)