JIS X 5213:2015 近距離通信用インタフェース及びプロトコル（ＮＦＣＩＰ－１）―ＲＦインタフェース試験方法

                                                                X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 適合性・・・・[1]
•  3 引用規格・・・・[2]
•  4 表記法・・・・[2]
•  4.1 数値の表記・・・・[2]
•  4.2 名称・・・・[2]
•  4.3 試験報告書・・・・[2]
•  5 記号及び略語・・・・[2]
•  6 試験方法の適用条件・・・・[3]
•  6.1 試験環境・・・・[3]
•  6.2 許容誤差・・・・[3]
•  6.3 寄生インダクタンス・・・・[3]
•  6.4 測定の不確かさ・・・・[3]
•  6.5 アンテナクラス・・・・[3]
•  7 試験設備及び回路・・・・[3]
•  7.1 デジタルサンプリングオシロスコープ・・・・[3]
•  7.2 校正用コイル・・・・[3]
•  7.3 試験アセンブリ・・・・[3]
•  7.4 基準デバイス・・・・[3]
•  8 イニシエータの機能試験・・・・[4]
•  8.1 イニシエータのRF検知・・・・[4]
•  8.2 能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの磁界強度・・・・[4]
•  8.3 能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び送信波形・・・・[5]
•  8.4 受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変調受信能力・・・・[5]
•  8.5 能動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び波形の受信能力・・・・[5]
•  8.6 能動通信モードにおけるイニシエータの最大負荷影響の試験(任意選択)・・・・[6]
•  9 ターゲットの機能試験・・・・[6]
•  9.1 受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調送信・・・・[6]
•  9.2 能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度・・・・[6]
•  9.3 能動通信モードにおけるターゲットの変調度及び送信波形・・・・[6]
•  9.4 能動通信モード及び受動通信モードにおけるターゲットの変調度及び波形の受信能力・・・・[7]
•  9.5 受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷影響の試験(任意選択)・・・・[7]
•  附属書A(参考)試験報告書の様式例・・・・[8]

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――――― [JIS X 5213 pdf 1] ―――――

X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人情報
処理学会(IPSJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改
正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)であ
る。
  これによって,JIS X 5213:2010は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS X 5213 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                                JIS
                                                                              X 5213 : 2015
                                                                       (ISO/IEC 22536 : 2013)

近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)−RFインタフェース試験方法

Information technology-Telecommunications and information exchange between systems-Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)-RF interface test methods

序文

  この規格は,2013年に第2版として発行されたISO/IEC 22536を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,JIS X 6305-6との調整がなされており,試験機関がJIS X 6305-6の設備と専門知識とを利
用できるようになっている。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,JIS X 5211で規定したNFCIP-1を試験する方法を規定する一連の規格の一つであり,RF
インタフェース用の試験方法を規定する。具体的には,50 mm×40 mmの長方形の領域に入るアンテナを
備えたNFCデバイスのRFインタフェース試験方法を規定する。
  この試験方法規格は,2部構成のはじめのものであり,JIS X 5211に規定するデバイスのRFインタフェ
ースに対する適合試験を規定する。もう一方の規格JIS X 5214は,JIS X 5211に規定するプロトコルに対
する試験方法を規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO/IEC 22536:2013,Information technology−Telecommunications and information exchange
              between systems−Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)−RF interface test
              methods(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 適合性

  この規格において規定された全ての必須要件を満たしたとき,JIS X 5211を実装するシステムは,この
規格に適合する。

――――― [JIS X 5213 pdf 3] ―――――

2
X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)

3 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS X 5211 システム間の通信及び情報交換−近距離通信用インタフェース及びプロトコル
        (NFCIP-1)
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 18092,Information technology−Telecommunications and information
             exchange between systems−Near Field Communication−Interface and Protocol (NFCIP-1)(IDT)
    JIS X 6305-6:2013 識別カードの試験方法−第6部 : 非接触(外部端子なし)ICカード−近接型
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 10373-6:2011,Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards
             (IDT)
    ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1:2012,Additional PICC classes

4 表記法

4.1 数値の表記

  (対応国際規格では,この細分箇条において,数値の表記について,英語特有の規定をしているが,こ
の規格では不要であり,不採用とした。)

4.2 名称

  (対応国際規格では,この細分箇条において,基本要素の名称の表記について,英語特有の規定をして
いるが,この規格では不要であり,不採用とした。)

4.3 試験報告書

  試験報告書には,行った試験の総数に対して合格した試験の数,サンプル個体数及び試験日を記載する
(附属書A参照)。

5 記号及び略語

  JIS X 5211によるほか,次の記号及び略語を使用する。
DFT(Discrete Fourier Transformation)                  離散型フーリエ変換
DUT(Device Under Test)                                試験対象のデバイス
fc(Frequency of the operating field)                  搬送波の周波数
fs(Frequency of subcarrier at 106 kbit/s in passive    106 kbit/sの受動通信モードにおける副搬
    communication mode)                                送波の周波数
Hm(Maximum external field strength for not preventing  イニシエータが磁界を出力し始めることを
     the Initiator to switch on its RF field)          妨げない最大外部磁界強度
                                                        最大動作磁界強度
Hmax(Maximum field strength of the Initiator antenna field)
                                                        最小動作磁界強度
Hmin(Minimum field strength of the Initiator antenna field)
                                                        RFレベル検出における最小磁界強度
HThreshold(Minimum field strength for the RF level detector)
PCB(Printed Circuit Board)                            プリント基板
RF(Radio Frequency)                                   無線周波数

――――― [JIS X 5213 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                X 5213 : 2015 (ISO/IEC 22536 : 2013)

6 試験方法の適用条件

6.1 試験環境

  JIS X 6305-6の4.1による。

6.2 許容誤差

  JIS X 6305-6の4.3による。

6.3 寄生インダクタンス

  JIS X 6305-6の4.4による。

6.4 測定の不確かさ

  JIS X 6305-6の4.5による。

6.5 アンテナクラス

  試験はISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1に規定されたクラス3アンテナを使用して行う。
    注記 NFCIP-1デバイスに使われるアンテナサイズがクラス3アンテナサイズより大きい場合は,
          ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1に規定されたクラス1アンテナをクラス3アンテナに加えて使用
          してもよい。

7 試験設備及び回路

  試験設備には,次のものを含む。
− デジタルサンプリングオシロスコープ
− 校正用コイル
− 試験アセンブリ
− 基準デバイス
  この試験設備を,次の細分箇条(7.17.4)で示す。

7.1 デジタルサンプリングオシロスコープ

  JIS X 6305-6の5.1.1による。

7.2 校正用コイル

  JIS X 6305-6の5.2による。

7.3 試験アセンブリ

  JIS X 6305-6の5.3による。

7.4 基準デバイス

  基準デバイスは,動作空間内で,次のイニシエータの能力測定に使用する。
− Hmin以上でHmaxを超えない磁界を発生する。
− ターゲットへ変調信号を送信する。
− 受動通信モードにおいて,ターゲットからの負荷変調信号を受信する。
  基準デバイスは,動作空間内で,次のターゲットの能力測定に使用する。
− 能動通信モードにおいて,Hmin以上でHmaxを超えない磁界を発生する。
− イニシエータへ変調信号を送信する。
7.4.1  基準デバイスの外形寸法
  JIS X 6305-6の5.4.1による。

――――― [JIS X 5213 pdf 5] ―――――

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