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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
30.8 読取耐久性
次に示す直流読取りパワーで一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディスクは,その後,動
作環境で全ての規定に適合する。
− 単層ディスクの1x速度読取り : 0.40 mW
− 単層ディスクの2x速度読取り : 0.44 mW
− 2層ディスクの1x速度読取り : 0.70 mW
− 2層ディスクの2x速度読取り : 0.80 mW
次に示す高周波重畳読取りパワー(平均)で,一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディス
クは,その後,動作環境で全ての規定に適合する。
− 単層ディスクの1x速度読取り : 0.30 mW
− 単層ディスクの2x速度読取り : 0.33 mW
− 2層ディスクの1x速度読取り : 0.60 mW
− 2層ディスクの2x速度読取り : 0.70 mW
高周波重畳は,次に示す要求事項を満たすことが望ましい(図120参照)。
− 重畳周波数(=1/THF-laser) : (400±40) Hz
− パルス幅 : (300±30) s
− ピーク間のボトムレベル : フラット
光強度 ピーク
THF-laser
パルス幅
(FWHM)
平均
時間
図120−高周波重畳されたレーザダイオードの光パルス波形の図
追加で,SER(34.1参照)は,いずれのLDCブロックでも4.2×10−3未満とする[317カウント未満と
等価(=4.2×10−3×75 392バイト)]。
31 局所欠陥
“気泡”及び“黒点”(透過積層中に入ったほこり,記録層のピンホールなどの欠陥)といった記録層上
又は透過積層中の欠陥は,いかなる意図しないトラックジャンプ及び訂正不能エラーも引き起こしてはな
らない(33.4及び箇条34も参照)。
そのような欠陥の大きさは,次による。
− 気泡 : 直径<100 μm
− 複屈折を伴う黒点 : 直径<150 μm
− 複屈折を伴わない黒点 : 直径<150 μm
――――― [JIS X 6232 pdf 161] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
32 使用者データの特性
箇条32箇条34は,この規格にディスク上の使用者データが適合するかどうかを測定する一連の測定
方法を規定する。一連の測定は,使用者が記録したデータの読みやすさを確認している。データは,任意
と仮定している。
使用者が記録したデータは,任意の動作環境,速度,及びドライブで記録されていてもよい。
33 使用者データの測定方法
33.1 一般
箇条32箇条34規定の読取試験は,基準ドライブで行う。
箇条24箇条30は,局所欠陥を考慮しなかったが,箇条32箇条34は,局所欠陥を読取信号の避けら
れない劣化として含んでいる。欠陥の程度は,次に示す読取りチャネルのエラー検出及びエラー訂正回路
のエラー訂正能力によって決められる。箇条32箇条34の要求事項は,データ交換のためのデータ品質
の下限を規定する。
33.2 環境条件
ディスクが,8.1.1に規定した許容される環境条件にない場合を除き,全ての信号は,規定した範囲内に
ある。
33.3 基準ドライブ
33.3.1 一般
全ての信号は,箇条9に規定した,基準ドライブの適したチャネルで測定する。
33.3.2 読取りパワー
読取りパワーは,ディスクの入射面に照射する光パワーである。読取りパワーは,単層ディスクでは(0.35
±0.1) Wとし,2層ディスクでは(0.70±0.1) Wとする。
33.3.3 読取りチャネル
ドライブは,9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は,波形等化をし,データ信号処理の前にフィルタを通す。HF信号を2値の読取信号に変換するしきい
値は,記録中のパラメタの変動によるマーク及びスペースの大きさの変動の影響が小さくなるように制御
する。ディスクの品質測定では,波形等化,フィルタ及びスライサの特性,並びにPLLの特性は,ジッタ
測定用の附属書H(リミットイコライザ)に規定したものと同じ特性にする。
33.3.4 エラー訂正
データバイトのエラーの訂正は,箇条13の規定に基づいたエラー検出訂正システムで行う。
33.3.5 トラッキング要求事項
信号の測定中に,光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは最大55 nmとし,光
ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは最大16 nmとする。
33.3.6 走査速度
実際のディスクの回転速度は,平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周
波数が956.522 kHzとなる速度とする。
33.4 信号の定義
バイトエラーは,次による。
バイトエラーは,バイト中の1ビット又はそれ以上のビットが誤った場合に発生し,関連するエラー検
出回路及び/又は訂正回路によって検出される。
――――― [JIS X 6232 pdf 162] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
バーストエラーは,次による。
− バーストエラーは,任意の二つのエラーバイトの間に三つ以上の正しいバイトがない場合の,一連の
バイトで定義される(13.1及び13.8参照)。
− バーストエラー長は,少なくとも3バイト長以上の正しいバイトで,その前のエラーバイトから分離
された最初のエラーバイトから数え始め,次のエラーバイトの先頭から少なくとも3バイト長以上の
正しいバイトで分離される最後のエラーバイトまでを数えた総バイト数で定義する。
− バースト中のエラーバイト数は,実際のバースト中で正しくないバイト数で定義される(図121の例
を参照)。
x c c c x x c c x c x x x c c c ...c x
バースト長は,9 バイト
バースト中のエラーバイト数は,6
c = 正しいバイト,x = エラーバイト
図121−バーストエラーの例
シンボルエラー率は,次による。
N LDCブロックで平均をとったシンボルエラー率(SER)は,選択したLDCブロックの全てのエラーバ
イトの総和をそのLDCブロックの全バイト数で除したもので定義され,次による。
N
Ea,i
i1
N 75 392
ここに, Ea,i : LDCブロックi中のエラーバイト数
N : LDCブロック数
ランダムシンボルエラー率は,次による。
ランダムシンボルエラー率は,シンボルエラー率でバースト長40バイト以上のバーストエラー中のエラ
ーバイトをSERの式の分子,分母両方から除いた式で定義され,次による。
N
Ea,i Eb,i
i1
N
N 75 392 Eb,i
i1
ここに, Ea,i : LDCブロックiの全エラーバイト数
Eb,i : LDCブロックiで40バイト以上のバーストエラー中の全ての
エラーバイト数
N : LDCブロック数
34 記録情報の下限品質
34.1 ランダムシンボルエラー率
ディスクの品質を確認する場合に,SER及びバーストエラーを決めるために選んだ領域に,任意の使用
者データを10回上書きする。
10回上書き後のランダムSERは,いかなる連続した10 000 LDCブロックで平均化しても,次を満たす。
ランダムSER<2.0×10−4
――――― [JIS X 6232 pdf 163] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
34.2 最大バーストエラー
各記録ユニットブロックで,40バイト以上のバーストエラー個数及びバーストの長さの総和は,次によ
る。
− バーストエラー個数 : 八つ未満
− バーストの長さの総和 : 600バイト以下
34.3 使用者記録データ
HF読取りチャネルで読み取る,記録ユニットブロック(RUB)の中の使用者記録データは,箇条13に
規定したエラー訂正システムで訂正不能となるバイトがあってはならない。
35 BCA
r1とr3との間のゾーンは,バーストカッティング領域(BCA)に使うために予約している(15.2及び図
54参照)。
BCA領域は,製造工程が終わった後にディスクに情報を追加するために用いる。
BCA符号は,書換形ディスクの場合,高パワーレーザシステム又は初期化器によって記録できる。
BCA符号の全ての情報は,全ての同心円上で全く同じ情報であり,内容は,半径方向に整列しており,
CAVモードで記録する(図122参照)。
2.0 mmとの間に記録する(BCA符号は,保護ゾーン1の
BCA符号は,L0層の半径 21 3.−
0.0
3.0
mmと
220.+
0.0
一部と重なってもよい。)。
BCA符号は,L1層には書かない。しかし,L0層にBCA符号を記録する影響がL1層に見えてもよい。
BCA符号は,円周方向に配置した低反射率のストライプの連続で記録する。各ストライプは,BCA領
域の半径方向の幅最大限に伸ばす。
BCA符号の情報は,L0層の半径21.3 mmと22.0 mmとの間の任意の半径位置で,ドライブで読むこと
ができる。
BCA符号を記録するかどうかは,アプリケーションによって決められる。アプリケーションに規定する
場合を除いて,BCA符号は,BCA領域に記録しない。BCA符号のフォーマット及び内容は,関連団体の
合意によって定義をしている。
――――― [JIS X 6232 pdf 164] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
バーストカッティング領域
BCA符号
図122−BCAの図
――――― [JIS X 6232 pdf 165] ―――――
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JIS X 6232:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30192:2017(IDT)
JIS X 6232:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6232:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合