JIS X 6232:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―１２０ｍｍ単層（２５ギガバイト／ディスク）及び２層（５０ギガバイト／ディスク）ＢＤ書換形ディスク | ページ 34

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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
                                          附属書A
                                          (規定)
                             多層の場合の透過積層の厚さ
A.1 一般
  透過積層全体がk層の構成の場合,個々の層の厚さを決めるためにこの附属書の方法を用いる。
− d1 .. dk :  層1..kの厚さ
− n1 .. nk :  層1..kの屈折率
− D(n) :     図15の屈折率nの場合の公称厚さ
  層kの厚さdkは,次の式と等しくなることが望ましい。
                                       k 1
                                           di
                         dk  D(nk ) 1
                                       i1 D(ni )
A.2 カバー層及びスペーサ層の全ての層の屈折率ni
  カバー層及びスペーサ層の各層の屈折率niは,次による。
                        1.45≦ni≦1.70
A.3 透過積層の厚さばらつき
  透過積層jの相対厚さは,次による。
                               k
                                  di
                         RTj
                              i1 D ni
  ディスク全体で測定する全透過積層の相対厚さRTは,次による。
a)   S0の相対厚さRT0 :  95≦100×RT0≦105
b)   S1の相対厚さRT1 :  70≦75×RT1≦80
    注記 記録層の厚さは,大変薄く,タイプDLディスクの場合の厚さの計算では無視できる。
A.4 単層の厚さ計算例
  屈折率がn1=1.70であり,公称厚さ75 μmのカバーシートが,基板に屈折率がn2=1.45の接着シートで
付けられていると仮定する。
  図15から,次のことが分かる。
                        D(n1)=102.4及びD(n2)=98.5
  上の式によって,次の計算ができる。
                                      75
                         d2  985.  1         26.356 μm
                                     1024.

――――― [JIS X 6232 pdf 166] ―――――

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                                                                X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
                                          附属書B
                                          (規定)
                                       反射率の測定
B.1   一般
  ディスクの反射率は,幾つかの方法で測定できる。二つの一般的な方法を,次に示す。
− 平行光測定法
− 収束光測定法
  ディスクの反射率は,既知の反射率の基準ディスクを使うことによって収束光測定法で測定される。一
方で,基準ディスクの反射率は,平行光測定法で校正される。
  収束光測定法で反射率を測定する場合,ディスクの反射層から帰ってきた光(Rm)だけがフォトディテ
クタに当たる。ディスク表面での反射光及びディスク内部の付随した折返し反射光は,大部分は,フォト
ディテクタの外に出る。平行光測定法では,全体反射(R//)だけが測定でき,反射層からの主反射を決め
るためには計算が必要となる。
B.2   校正方法
  例えば,0.1 mmのガラスのカバー層で,金の反射ミラーをもつような複屈折の影響がない良い基準ディ
スクを選ぶ。図B.1に示すとおり,基準ディスクは,平行光測定法で測定する。
                    Rint
         R //
       ディテクタへ Rm
                    Rs
                                                                       r    R
          IB
       入射ビーム
                                       図B.1−反射率校正
  この図で,次の式を適用する。
  R   =記録層の反射率(透過積層内の折返し反射光を含む。)
  r   =表面反射率
  Rref =収束光によって測定した反射率(Rm / IBで規定)
  IB =入射ビーム
  Rs =入射面の反射率による反射
  Rm =記録層の反射率による主反射

――――― [JIS X 6232 pdf 167] ―――――

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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
  Rint =入射面と記録層との間の,内部反射による反射
  R// =測定値(Rs+Rm+Rint)
  入射面の反射率は,次による。
                                  2
                              1
                         r
                               1
                      ここに,    n :  カバー層の屈折率
  記録層の反射率による主反射によって,次の式が導かれる。
                                            R//
                                    1( r) 2     r
                              Rm            IB
                         Rref
                              IB              R//
                                     1  r  2
                                              IB
                      ここに,   Rm :  次の式による主反射
                                       Rm=R//−Rs−Rint
  基準ディスクは,基準ドライブで測定する。収束光で測定し,基準ディスクで得られるディテクタの全
電流(4分割の総和=Itotal)によって,上に規定したRmが計算される。
  これで,装置は校正され,収束光反射率は,入射面の反射とは関係なく記録層及び透過積層の折返し反
射光の反射率に比例することになる。
B.3   測定方法
B.3.1 未記録の未使用書換領域の反射率
  基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)   refを測定する。
b) 測定するグルーブ及び読み取る両側の隣接する2トラックが記録されていない調査対象のディスクの
    グルーブトラックからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)   Gを測定する。
c) 未記録ディスクの書換領域のグルーブトラックの反射率Rg−vは,次による。
                               I1 I2 G
                         Rgv            Rref
                               I1 I2 ref
B.3.2 未記録の消去した書換領域の反射率
  基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)   refを測定する。
b) 測定するグルーブ及びグルーブの両側の隣接する2トラックが消去されている調査対象のディスクの
    グルーブトラックからの反射光による全ディテクタ電流(I1+I2)   Gを測定する。これらのトラックの消
    去は,OPCアルゴリズム(附属書G参照)によって決めたPEパワーだけを使って照射する。
c) 未記録ディスクの書換領域の,グルーブトラックの反射率Rg−vは,次による。
                               I1 I2 G
                         Rv
                          g             Rref
                               I1 I2 ref
B.3.3 記録済み書換領域の反射率
  基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)   refを測定する。

――――― [JIS X 6232 pdf 168] ―――――

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                                                                X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
b) 調査対象のディスクのエリアの中の記録済みトラックで,測定するグルーブの両側のトラックが2本
    以上記録済みになっているトラックからのI8Hを測定する。トラックの記録は,OPCアルゴリズム(附
    属書G参照)の規定による最適パワーで行う。
c) 記録領域のグルーブトラックの,記録済みディスクの反射率R8Hは,次による。
                                 I8H
                         R8H            Rref
                              (I1 I2 )   ef

――――― [JIS X 6232 pdf 169] ―――――

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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
                                          附属書C
                                          (規定)
                             カバー層のきず耐久性の測定
C.1 一般
  ディスクの入射面は,十分なきず耐久性をもつ。保護コートをして改善してもよい(11.6.2参照)。
C.2 テーバ摩耗試験
  “テーバ摩耗”と呼ばれる試験は,ディスクの入射面のきず耐久性が十分かどうか検証する。
  摩耗素材に覆われた2本の輪が,規格値の負荷をかけて試験を受けるディスクに載せられる(図C.1参
照)。
                                        ディスクの回転軸
                                                      輪の回転
                                                                            ディスクの
                                                                            回転方向
                                                                         ディスクの中心を
                                                                         通る線
                                                    輪の回転軸の投影
                                 図C.1−標準的な摩耗試験の構成
  試験条件は,次による。
  試験の構成は,JIS K 7204に従い,次に詳細を示す。
− 輪のタイプ :        CS10F
− 各輪への負荷値 :  2.5 N
− 回転回数 :        5
− 摩耗試験は,試験に必要な記録を行う前に実施する。

――――― [JIS X 6232 pdf 170] ―――――

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