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JIS Z 4751-2-43:2012 規格概要
この規格 Z4751-2-43は、製造業者がIVRに使用できると,表明したX線装置の基礎安全及び基本性能について適用。
JISZ4751-2-43 規格全文情報
- 規格番号
- JIS Z4751-2-43
- 規格名称
- IVR用X線装置―基礎安全及び基本性能
- 規格名称英語訳
- Medical electrical equipment -- Part 2-43:Particular requirements for the basic safety and essential performance of X-ray equipment for interventional procedures
- 制定年月日
- 2005年3月25日
- 最新改正日
- 2018年10月25日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 60601-2-43:2010(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 11.040.50, 37.040.25
- 主務大臣
- 経済産業,厚生労働
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 2005-03-25 制定日, 2009-10-01 確認日, 2012-10-01 改正日, 2018-10-25 確認
- ページ
- JIS Z 4751-2-43:2012 PDF [45]
Z 4751-2-43 : 2012 (IEC 60601-2-43 : 2010)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 201.1 適用範囲,目的及び関連規格・・・・[1]
- 201.2 引用規格・・・・[3]
- 201.3 用語及び定義・・・・[4]
- 201.4 一般要求事項・・・・[5]
- 201.5 ME機器の試験に対する一般要求事項・・・・[6]
- 201.6 ME機器及びMEシステムの分類・・・・[6]
- 201.7 ME機器の標識,表示及び文書・・・・[6]
- 201.8 ME機器の電気的ハザードに関する保護・・・・[9]
- 201.9 ME機器及びMEシステムの機械的ハザードに関する保護・・・・[9]
- 201.10 不要又は過度の放射のハザードに関する保護・・・・[11]
- 201.11 過度の温度及び他のハザードに関する保護・・・・[11]
- 201.12 制御及び計器の精度並びに危険な出力に対する保護・・・・[12]
- 201.13 危険状態及び故障状態・・・・[15]
- 201.14 プログラマブル電気医用システム(PEMS)・・・・[15]
- 201.15 ME機器の構造・・・・[15]
- 201.16 MEシステム・・・・[15]
- 201.17 ME機器及びMEシステムの電磁両立性・・・・[15]
- 202 電磁両立性-要求事項及び試験・・・・[15]
- 202.101 基本性能のイミュニティ試験・・・・[15]
- 203 診断用X線装置における放射線防護・・・・[16]
- 203.4 一般要求事項・・・・[16]
- 203.6 放射線管理・・・・[19]
- 203.7 線質・・・・[22]
- 203.8 X線ビームの広がりの制限及びX線照射野と受像面との関係・・・・[22]
- 203.9 焦点皮膚間距離・・・・[23]
- 203.10 患者とX線受像器との間でのX線ビームの減弱・・・・[23]
- 203.11 剰余放射線に対する防護・・・・[23]
- 203.12 漏れ放射線に対する防護・・・・[23]
- 203.13 迷放射線に対する防護・・・・[23]
- 203.101 直接透視・・・・[24]
- 附属書・・・・[25]
- 附属書AA(参考)特定指針及び根拠・・・・[26]
- 附属書BB(規定)迷放射線の分布図・・・・[33]
- 附属書CC(参考)この規格(2012年版)と旧規格(2005年版)との間の対応表・・・・[36]
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――――― [JIS Z 4751-2-43 pdf 1] ―――――
Z 4751-2-43 : 2012 (IEC 60601-2-43 : 2010)
pdf 目次
ページ
- 参考文献・・・・[38]
- この個別規格で使用する定義した用語の索引・・・・[40]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS Z 4751-2-43 pdf 2] ―――――
Z 4751-2-43 : 2012 (IEC 60601-2-43 : 2010)
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
画像医療システム工業会(JIRA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日
本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,厚生労働大臣及び経済産業
大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS Z 4751-2-43:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。厚生労働大臣,経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の
特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
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――――― [JIS Z 4751-2-43 pdf 3] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
Z 4751-2-43 : 2012
(IEC 60601-2-43 : 2010)
IVR用X線装置−基礎安全及び基本性能
Medical electrical equipment−Part 2-43: Particular requirements for the basic safety andessential performance of X-ray equipment for interventional procedures
序文
この個別規格は,2010年に第2版として発行されたIEC 60601-2-43を基に,技術的内容及び構成を変更
することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
この個別規格では,本文中の太字は,この個別規格及びJIS T 0601-1,JIS T 0601-1-3,JIS Z 4751-2-54
及びJIS Z 4005で定義した用語である。上記の規格で定義した用語が,太字で表記されていない場合,定
義は適用されず,意味は,文脈に沿って解釈する。
この個別規格は,JIS T 0601-1:2012,IEC 60601-1-2,JIS T 0601-1-3:2012及びJIS Z 4751-2-54:2012と併
読するものである。
“置換”,“追加”及び“修正”の意味は,201.1.4に定義する。
また,附属書AAに論理的根拠を示している箇条,細別箇条及び定義については,項目名の先頭にアス
タリスク(*)を付した。
なお,この個別規格で点線の下線を施した参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
IVR(インタベンショナルラジオロジーの手技,RADIOSCOPICALLY GUIDED INTERVENTIONAL
PROCEDURE)に用いられるX線装置は,通常のX線画像診断装置に比べて患者及び操作者を,通常よ
り高いレベルの照射にさらす可能性がある。その結果,患者の特定の領域に多くのX線を照射させたとき
に確定的障害が発生する場合がある。また,特に患者への放射線ががん(癌)などを誘発する確率的障害
のリスクを高める場合もある。これらの健康への懸念は,操作者にも当てはまる。その他に,これらの装
置には,重要な機能の損失を最小限の時間にする必要性がある。
ここで扱うIVRは,次のような臨床分野において広く確立されているものである。
− 侵襲的心臓疾患治療
− X線透視下で行う治療
− X線透視下で血管の中から行う,脳疾患に対する治療
また,内科及び外科の専門分野で,新しく開発され,かつ,普及する多くの手技が含まれる。
201.1 適用範囲,目的及び関連規格
次を除き,通則の箇条1を適用する。
注記 通則とは,JIS T 0601-1:2012をいう。
――――― [JIS Z 4751-2-43 pdf 4] ―――――
2
Z 4751-2-43 : 2012 (IEC 60601-2-43 : 2010)
なお,平成27年9月30日までJIS Z 4751-2-43:2005は適用することができる。
201.1.1 *適用範囲
置換
この個別規格は,製造業者がIVRに使用できると,表明したX線装置の基礎安全及び基本性能につい
て適用する。ただし,次には適用しない。
− 放射線治療用装置
− 医用X線CT装置
− 患者体内に挿入することを意図した附属品
− 乳房撮影用X線装置
− 歯科用X線装置
注記1 この個別規格に適合するX線装置の使用が推奨されるIVRの例を,附属書AAに記載する。
注記2 磁気誘導装置及びインターベンション用X線装置(以下,IVR用X線装置という。)の手術
室での使用についての特殊な要求事項は,この個別規格では考慮していない。したがって,
これらの装置及び使用に関わる特別な要求事項は,規定していない。これらの装置及び使用
については,通則の要求事項は,適用される。
注記3 断層画像モード(CTライク又はコーンビームCTと説明されることがあるもの。)で使用す
るIVR用X線装置は,この規格の適用範囲であり,JIS Z 4751-2-44(参考文献[2])ではない。
CTライク及びコーンビームCT特有の要求事項は,この規格では考慮していない。
IVRに適切であると製造業者が表明したX線装置で,システムの一部として患者支持器を含まないもの
は,この個別規格の患者支持器の条項を適用しない。
箇条及び細分箇条がIVR用X線装置だけ,又はIVR用X線装置を含むMEシステム全体だけに適用す
ることを意図している場合は,箇条又は細分箇条の項目及び内容にその旨を記載する。そうでない場合に
は,箇条又は細分箇条は,IVR用X線装置及びMEシステムの両方に適用する。
注記4 通則の4.2参照。
注記5 この個別規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60601-2-43:2010,Medical electrical equipment−Part 2-43: Particular requirements for the basic
safety and essential performance of X-ray equipment for interventional procedures(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
ことを示す。
201.1.2 目的
置換
この個別規格の目的を,次に示す。
− 201.3.203に定義したIVR用のX線装置の設計及び製造に対する基礎安全及び基本性能要求事項の明
確化。
− これらの手技から生じる患者又は従事者への放射線リスク及び装置故障によるリスクを管理している
責任部門又は操作者に対し,このようなX線装置とともに提供する情報の明確化。
201.1.3 副通則
追加
この個別規格は,通則の箇条2,及びこの個別規格の箇条201.2に規定した副通則を参照する。
――――― [JIS Z 4751-2-43 pdf 5] ―――――
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JIS Z 4751-2-43:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60601-2-43:2010(IDT)
JIS Z 4751-2-43:2012の国際規格 ICS 分類一覧
JIS Z 4751-2-43:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7761-3:2007
- 手腕系振動―第3部:測定及び評価に関する一般要求事項
- JISB9707:2002
- 機械類の安全性―危険区域に上肢が到達することを防止するための安全距離
- JISB9711:2002
- 機械類の安全性―人体部位が押しつぶされることを回避するための最小すきま
- JISC0445:1999
- 文字数字の表記に関する一般則を含む機器の端子及び識別指定された電線端末の識別法
- JISC0447:1997
- マンマシンインタフェース(MMI)―操作の基準
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様
- JISC1509-2:2018
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第2部:型式評価試験
- JISC2134:2007
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC2134:2021
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC4003:2010
- 電気絶縁―熱的耐久性評価及び呼び方
- JISC60079-0:2010
- 爆発性雰囲気―第0部:電気機器―一般要件
- JISC60079-2:2008
- 爆発性雰囲気で使用する電気機械器具―第2部:内圧防爆構造“p”
- JISC60079-6:2004
- 爆発性雰囲気で使用する電気機械器具―第6部:油入防爆構造“o”
- JISC60364-4-41:2010
- 低圧電気設備―第4-41部:安全保護―感電保護
- JISC60695-11-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第11-10部:試験炎―50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法
- JISC6965:2007
- ブラウン管の機械的安全性
- JISC8282-1:2019
- 家庭用及びこれに類する用途のプラグ及びコンセント―第1部:一般要求事項
- JISC8303:2007
- 配線用差込接続器
- JIST0307:2004
- 医療機器―医療機器のラベル,ラベリング及び供給される情報に用いる図記号
- JISZ8202:1985
- 量記号,単位記号及び化学記号
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方
- JISZ8736-1:1999
- 音響―音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法―第1部:離散点による測定