JIS C 3660-201:2019 電気・光ファイバケーブル―非金属材料の試験方法―第201部:一般試験―絶縁体厚さの測定 | ページ 2

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C 3660-201 : 2019 (IEC 60811-201 : 2012,Amd.1:2017)

5 試験報告書

  試験報告書は,JIS C 3660-100に従って作成する。
試験報告書には,用いた測定器具のタイプ(マイクロスコープ,投影機,又は光学式デジタル画像解析
装置)及びその倍率を記載する。
図1−絶縁体厚さの測定
(内側が円形のもの)
図2−絶縁体厚さの測定
(扇形導体)

――――― [JIS C 3660-201 pdf 6] ―――――

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C 3660-201 : 2019 (IEC 60811-201 : 2012,Amd.1:2017)
図3−絶縁体厚さの測定
(より線導体)
図4−絶縁体厚さの測定
(より線導体)
図5−絶縁体厚さの測定
(外側が平滑でないもの)

――――― [JIS C 3660-201 pdf 7] ―――――

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C 3660-201 : 2019 (IEC 60811-201 : 2012,Amd.1:2017)
図6−絶縁体厚さの測定
(シースのない2心平形のケーブル)

JIS C 3660-201:2019の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60811-201:2012(IDT)
  • IEC 60811-201:2012/AMENDMENT 1:2017(IDT)

JIS C 3660-201:2019の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 3660-201:2019の関連規格と引用規格一覧