この規格ページの目次
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C 5101-14-2 : 2020
い。次の[1][4]の事項は,0.3(コンデンサの識別)の[9]の表枠の括弧内の数字と対応している。
[1] 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議(IEC)の名称
[2] 個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号,版及び西
暦年
[3] 品目別通則又は品種別通則のJIS規格番号及び西暦年,又はIEC規格番号,版及び西暦年
[4] ブランク個別規格のJIS規格番号又はIEC規格番号
0.3 コンデンサの識別
次の[5][9]の事項は,この規格の次の二つの表枠の括弧内の数字と対応している。
[5] コンデンサの品種についての要約説明
個別規格に規定する文は,IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。
[6] 代表的な構造の説明(適用可能な場合)
個別規格に規定する文は,IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。
[7] 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関するJIS又はIEC規格の引用。
この図は,個別規格の附属書としてもよい。ただし,[7]には,部品の一般的な外形図が含まれてい
ることが望ましい。
[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準
[9] 同一又は類似の用途を対象とした様々な部品タイプ間の比較を可能とする,部品の最も重要な特性
に関する情報を提供する参照データ
例 一般社団法人電子情報技術産業協会 [1] 個別規格番号 [2]
電子機器用固定コンデンサ [3] JIS C 5101-14-2 [4]
第1部 : 品目別通則 : JIS C 5101-1:2019 電源用電磁障害防止固定コンデンサ [5]
第14部 : 品種別通則 : JIS C 5101-14:2014 (安全性試験)
外形図(表1参照) [7]
(第三角法) 構造の説明 [6]
(規定寸法内であれば外形は異なってもよい。) 安全性試験 [8]
JIS C 5101-14-2に基づく個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品質認証電子部品一覧表(QPL)に示
されている。 [9]
注記 上記の表枠内の[1][9]は,0.2及び0.3の該当する番号を参照することを示している。
――――― [JIS C 5101-14-2 pdf 6] ―――――
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C 5101-14-2 : 2020
1 一般事項
1.0A 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-14を品種別通則とするブランク個別規格で,電源用電磁障害防止固定コンデン
サ(以下,コンデンサという。)の安全性試験について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-14-2:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-2: Blank detail
specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the
supply mains−Safety tests only(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
1.1 推奨する取付方法(実装する場合)
取付けは,JIS C 5101-14:2014の1.4.2による。
1.2 寸法
寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表し,製造業者の仕様書による。
1.3 定格及び特性
定格及び特性は,次の項目のとおりである。
a) 公称静電容量範囲
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 定格電流(適用可能な場合)
e) 耐候性カテゴリ
f) 定格温度
g) 誘電正接(tan
h) 絶縁抵抗
i) 耐炎性カテゴリ
静電容量値は,定格電圧,寸法及び発注コード/種類の指定に関連し,製造業者の仕様書による。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
JIS C 5101-14:2014 電子機器用固定コンデンサ−第14部 : 品種別通則 : 電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記1 対応国際規格 : IEC 60384-14:2013,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:
Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains(IDT)
注記2 対応国際規格IEC 60384-14のAmendment 1:2016に対応するJIS C 5101-14の追補1:2019が
発行されている。
――――― [JIS C 5101-14-2 pdf 7] ―――――
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C 5101-14-2 : 2020
1.5 表示
適用する場合,コンデンサ及び包装への表示は,JIS C 5101-14:2014の1.6による。
部品及び包装への表示の詳細は,個別規格に全て規定する。
1.6 発注情報
個別規格によるコンデンサの発注情報には,明瞭な文字又は記号で,次の事項が含まれていなければな
らない。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 製造業者名又はその商標
e) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名
1.7 追加情報(非検査目的)
注記 非検査目的とは,検査目的以外のことであり,検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.8 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に限定することが望ましく,表1によるのがよい。
表1−その他の特性
この表は,JIS C 5101-1及び/又はJIS C 5101-14への追加,
又はより厳しい特性を規定するために使用している。
2 検査要求事項
2.1 手順
品質認証の手順は,JIS C 5101-14:2014の3.4による。
2.2 試験計画
2.2.1 初期認証
初期認証の試験計画は,表2による。
2.2.2 再認証品質確認検査
品質確認検査の試験計画は,附属書Aに関連して,表3による。
――――― [JIS C 5101-14-2 pdf 8] ―――――
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C 5101-14-2 : 2020
表2−安全性試験の初期認証試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数n及び 要求事項a)
試験項目a) ND b) 合格判定数c
a), b)
群0 ND 表3による。
4.1 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
4.2.2 静電容量 規定の許容差以内
4.2.4 抵抗値c) 規定の許容差以内
4.2.1 耐電圧 永久破壊又はフラッシオー
バがない。
4.2.5 絶縁抵抗 表11による。
群1A D 表3による。
4.1.1 沿面距離及び 4.1.1による。
空間距離
4.3 端子強度 厳しさ : ...d) 損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性c), e) 予備乾燥なし 4.4.2による。
方法 : ...d)
4.20 表示の耐溶剤性 表示は,明瞭とする。
4.4.2 最終測定 外観 損傷がない。
静電容量 表13による。
抵抗値c) 表13による。
群2 D 表3による。
4.12 高温高湿(定常)
4.12.1 初期測定e) この表の群0の測定値を用い
る。
4.12.2 試験条件 磁器コンデンサ : 試料の半数
に定格電圧URを印加し,残り
の試料には印加しない。
その他のコンデンサ : 電圧印
加しない。
4.12.3 最終測定 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 表15による。
抵抗値c) 表15による。
耐電圧 表15による。
絶縁抵抗 表15による。
――――― [JIS C 5101-14-2 pdf 9] ―――――
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C 5101-14-2 : 2020
表2−安全性試験の初期認証試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数n及び 要求事項a)
試験項目a) ND b) 合格判定数c
a), b)
群3 D 表3による。
4.13.1 初期測定e) この表の群0の測定値を用い
る。
4.13 インパルス電圧 インパルスの回数 : 3回 4.13.2及び4.13.3による。
(連続して適合を示す波形が
現れた場合,又は3回以上適
合を示す波形が現れるまで最
大24回)
ピーク電圧 : 表1及び表2に
よる。
4.14 耐久性 時間 : 1 000 h
電圧,電流及び温度 :
4.14.3,4.14.4,4.14.5及び4.14.6
による。
4.14.7 最終測定 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 表16による。
抵抗値c) 表16による。
耐電圧 表16による。
絶縁抵抗 表16による。
群6 D 表3による。
4.17 耐炎性 4.17.1による。
群7 D 表3による。
4.18 発炎性 4.18.4による。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,JIS C 5101-14による。
b) この表の記号は,次による。
D=破壊試験,ND=非破壊試験
n=試料数,c=合格判定数
c) 適用可能な場合。
d) 個別規格の規定による。
e) 磁器コンデンサで,静電容量のずれの正確な測定が要求される場合は,製造業者が推奨する前処理をJIS C
5101-14:2014の附属書Gに従って実施することが望ましい。
――――― [JIS C 5101-14-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-14-2:2020の引用国際規格 ISO 一覧
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JIS C 5101-14-2:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-14-2:2020の関連規格と引用規格一覧
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