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C5101-15-2 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数及び合格判定 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 個数(備考3.参照) (備考1.参照)
ND p n c
4.8.2又は4.9.2 外観 損傷がなく,また電解質の漏
最終測定 れがない。
副群C1 D 6 27 1
副群C1A及びC1Bの試料を合
わせた試料
4.10 一連耐候性
4.10.1 初期測定 静電容量
4.10.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16h
外観 損傷がなく,また電解質の漏
れがない。
4.10.3温湿度サイクル(12
+12時間サイクル),
最初のサイクル
4.10.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2h
外観 損傷がなく,また電解質の漏
れがない。
4.10.5減圧(個別規格で規 気圧 : 8.5kPa
定がある場合)
4.10.5.3 中間測定 外観 破壊,フラッシュオーバ又は
著しい変形がない。
4.10.6温湿度サイクル(12
+12時間サイクル),
残りのサイクル
4.10.7封止(個別規格に規 方法 : ... 選定した方法による。
定がある場合)
4.10.8 最終測定 外観 損傷がなく,また電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
漏れ電流 初期規定値
静電容量 C
C
長寿命等級 :
4.10.1の測定値の5%及
び4.3.1又は4.6.1のどち
らか適用される測定値の
8%
一般等級 :
4.10.1の測定値の12%
損失角の正接 初期規定値
副群C2 D 6 9 1
4.11 高温高湿
(定常)
4.11.1 初期測定 静電容量
4.11.2 最終測定 外観 損傷がなく,また電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
――――― [JIS C 5101-15-2 pdf 11] ―――――
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C5101-15-2 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数及び合格判定 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 個数(備考3.参照) (備考1.参照)
ND p n c
漏れ電流 初期規定値
静電容量 C
:
C
長寿命等級 :
4.11.1の測定値の 5%
一般等級 :
4.11.1の測定値の 12%
損失角の正接 初期規定値の1.15倍
外部絶縁の絶縁抵抗 100M 圀
(適用する場合)
名部絶縁の耐電圧 破壊又はフラッシュオーバが
(適用する場合) ない。
副群C3 D 3 24 1
4.12 耐久性 試験時間 : ···h
試験温度 : ···℃
(適用する場合)
試験電圧 : ···V
試験後の放置時間 : 16h
4.12.1 初期測定 静電容量
4.12.3 最終測定 外観 損傷がない。
表示が明りょうである。
漏れ電流 初期規定値の1.25倍
静電容量 4.12.1の測定値に対する
C
10%
C
損失角の正接 初期規定値の1.3倍
副群C4A D 12 6 1
4.13 サージ サイクル数 : 1 000
温度 : ···℃
保護抵抗 :
1 000圀 10%
充電時間 : 30s
放電時間 : 5min30s
4.13.1 初期測定 静電容量
4.13.3 最終測定 漏れ電流 初期規定値
静電容量 4.13.1の測定値に対する
C
10 %
C
損失角の正接 初期規定値の1.3倍
副群C4B D 12 6 1 1
4.14 逆電圧 逆極性に125h,···Vを定格温度
(適用する場合) で,引き続いて正極性に125h定
格電圧を定格温度で印加する。
4.14.1 初期測定 静電容量
4.14.3 最終測定 漏れ電流 初期規定値の1.25倍
静電容量 4.14.1の測定値に対する
C
10%
C
損失角の正接 初期規定値の1.15倍
――――― [JIS C 5101-15-2 pdf 12] ―――――
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C5101-15-2 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数及び合格判定 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 個数(備考3.参照) (備考1.参照)
ND p n c
副群C5 D 6 15 1
4.15 高温及び低温特性*** コンデンサを各温度段階で測定
する。
段階1 : 20℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接 比較値として使用する。
インピーダンス*
(段階2と同じ周波数)
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量 C
%
C
損失角の正接*
インピーダンス*
段階3 : 定格温度
漏れ電流 A
静電容量 C
%
C
損失角の正接*
段階4 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 A
静電容量 C
%
C
損失角の正接*
4.16 充放電 温度 : 20℃
(要求がある場合)
サイクル数 : 106
充電時間 : 0.5s
圀
充電抵抗 : ···
放電時間 : ···s
圀
放電抵抗 : ···
4.16.1 初期測定 静電容量
4.16.3 最終測定 外観 損傷がなく,また電解質の漏
れがない。
静電容量 4.16.1の測定値に対する
C
10%
C
損失角の正接 初期規定値
注* 適用する場合
** 表IIBによる。
*** 試験を群B2で行う場合は適用しない。
――――― [JIS C 5101-15-2 pdf 13] ―――――
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C5101-15-2 : 1998
電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学
(委員) 吉 田 裕 道 東京都立工業技術センター
中 西 忠 雄 防衛庁装備局
岩 田 武
村 岡 桂次郎
竹田原 昇 司 通商産業省機械情報産業局電子機器課
藤 井 隆 宏 工業技術院標準部電気規格課
福 原 隆 沖電気工業株式会社
勝 田 明 彦 株式会社ケンウッド
山 本 克 己 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
清 水 正 弘 日本電気株式会社
大 平 昌 司 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
白 井 洋 一 日通工株式会社
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
川 井 一 成 ルビコン株式会社
曽我部 浩 二 株式会社村田製作所
秦 考 生 松下電子部品株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
会 田 洋 東光株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
高 梨 健 一 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5142 原案作成分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
(委員) 北 島 義 正 日本電気株式会社
高 久 侑 也 エルナー株式会社
山 内 良 夫 株式会社高純度物質研究所
井 二 仁 三洋電機株式会社
鵜 沢 一 夫 ニチコン株式会社
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
飯 田 和 幸 日立エーアイシー株式会社
山 崎 正 富士通東和エレクトロン株式会社
栗 林 孝 志 松下電子部品株式会社
小 松 間兵衛 マルコン電子株式会社
村 岡 桂次郎
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
高 梨 健 一 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5101-15-2:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-15-2:1984(MOD)
- IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1:1987(MOD)
JIS C 5101-15-2:1998の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-15-2:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISC5101-15:1998
- 電子機器用固定コンデンサ―第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)