この規格ページの目次
3
C5101-15-3 : 1998
specification : Fixed tantalum capacitors with solid electrolyte and porous anode. Assessment level
E Amendment 1 : 1987
IEC 60384-15 Amendment 1 : 1987
1.1 推奨する取付方法
(挿入用)[品種別通則JIS C 5101-15の1.4.2(取付け)による。]
1.2 寸法
表I 寸法
外形寸法 寸法(ミリメートル又はインチ及びミリメートル)
記号 L H d ···
備考1. 外形寸法記号がない場合,表Iは削除し,寸法は表IIAに記載し表Iとする。
2. 寸法は,最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。
3. 表I以外に説明が必要な場合は,追加する。
1.3 定格及び特性
定格静電容量範囲(表IIAによる。)
定格静電容量許容差
定格電圧(表IIAによる。)
カテゴリ電圧(適用する場合)(表IIAによる。)
耐候性カテゴリ
定格温度
温度による静電容量の変化(表IIBによる。)
損失角の正接 (tan 表IIBによる。)
漏れ電流(表IIBによる。)
インピーダンス(適用する場合)(表IICによる。)
逆電圧(適用する場合)
表IIA 外形寸法と組み合わせた定格静電容量及び定格電圧の値
定格電圧
カテゴリ電圧*
定格静電容量 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号
注* 定格電圧と異なる場合
表IIB 高温及び低温での特性
UR CR 静電容量変化率 最大値
損失角の正接 漏れ電流
%
V 刀 2)20℃ 2)20℃ 刀 1)
カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
勿 定格温度
(1) カテゴリ電圧で測定
(2) 適用する場合
――――― [JIS C 5101-15-3 pdf 6] ―――――
4
C5101-15-3 : 1998
表IIC インピーダンス...kHz(適用する場合)
外形寸法記号 インピーダンス
圀
1
2
3
4
1.4 引用規格
次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を
構成し,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
備考 IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification
並びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1989からのすべての
引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5101-15 電子機器用固定コンデンサ−第15部 : 品種別通則 : 固定タンタル非固体又は固体電解
コンデンサ
備考 IEC 60384-15 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 15 : Sectional
specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte Amendment1 : 1987
及びAmendment2 : 1992が,この規格と一致する。
JIS Z 9015 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)
備考 IEC 60410 : Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用事項
は,この規格の該当事項と一致する。
1.5 表示
コンデンサ及び包装の表示は,品種別通則JIS C 5101-15の1.6(表示)による。
備考 コンデンサ及び包装への表示は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって少なくと
も次の事項を規定する。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格の番号及び版並びに種類
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
要求する。又は要求しない。
1.8 追加情報
(非検査目的)
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。
表III その他の特性
この表は,品種別通則に規定の厳しさに追加又はより厳
しい要求事項を規定するために使用する。
第2章 検査要求事項
2. 検査要求事項
――――― [JIS C 5101-15-3 pdf 7] ―――――
5
C5101-15-3 : 1998
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順は,品種別通則JIS C 5101-15の3.4(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査については,試験計画(表IV)にサンプリング方法,周期,厳しさ及び要求性能を
表す。検査ロットの構成は,品種別通則JIS C 5101-15の3.5.1(検査ロットの構成)による。
表IV 品質確認検査の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,品種別通則JIS C 5101-15及びこの規格の第1章による。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015から選定する。
3. この表の記号は,次による。
p = 周期(月)
n = 試料数
c = 合格判定個数(許容不良数)
D = 破壊試験
ND = 非破壊試験
IL = 検査水準
JIS Z 9015
AQL = 合格品質水準
項目番号及び試験項目 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
群A検査
(ロットごと)
副群A0 ND 100%
4.19 大電流サージ(個別規
格に要求がある場合)
副群A1 ND S-4 2.5%
4.1 外観 4.1による。
表示が明りょうでありその他
この規格の1.5の規定による。
4.2 寸法(ゲージ法) 表Iによる。
副群A2 ND II 1.0%
4.2.1 漏れ電流 圀
保護抵抗 : ··· μA
表IIBによる。
4.2.2 静電容量 周波数 : ···Hz 規定の許容差以内
4.2.3 損失角の正接 周波数 : ···Hz ,表IIBによる。
4.2.4 インピーダンス 周波数 : ···Hz 表IICによる。
(適用する場合)
群B検査
(ロットごと)
副群B1 D S-3 2.5%
4.5 はんだ付け性 エージングなし 端子にはんだが良好に付着し
方法 : ... ているか,又ははんだ小球法
の場合は規定の···秒以内には
んだが流れる。
――――― [JIS C 5101-15-3 pdf 8] ―――――
6
C5101-15-3 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
副群B2 ND S-3 2.5%
4.15 高温及び低温特性 コンデンサは,各温度段階で測定
(要求ある場合) する。
段階1 : 20℃
漏れ電流
比較値として使用する。
静電容量
損失角の正接
段階2 : カテゴリ下限温度
C
静電容量 C
%
損失角の正接*
段階3 : 定格温度
漏れ電流 μA
C
静電容量 C
%
損失角の正接*
段階4 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 μA
C
静電容量 C
%
損失角の正接*
注* 適用する場合
** 表IIBによる。
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数及び合格判定 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 個数(備考3.参照) (備考1.参照)
ND p n c
群C検査
(定期的)
副群C1A D 6 9 1
副群C1の試料の一部
4.3.1 初期測定 静電容量
4.3 端子強度 外観 損傷がない
4.4 はんだ耐熱性 方法 : ...
4.4.2 最終測定 外観 損傷がない。
表示が明りょうである。
副群C1B D 6 18 1
副群C1の残りの試料
4.6.1 初期測定 静電容量
4.6 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t=30min
後処理 : 16h
4.6.3 最終測定 漏れ電流 μA
表IIBによる。
静電容量 4.6.1の測定値に対する
C
%
C
損失角の正接
表IIBによる。
――――― [JIS C 5101-15-3 pdf 9] ―――――
7
C5101-15-3 : 1998
項目番号及び試験項目 D 試験条件 試料数及び合格判定 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 個数(備考3.参照) (備考1.参照)
ND p n c
4.7 振動 6
取付方法 : この規格の1.1による。18 1
手順B4
周波数範囲 :
···Hzから···Hz
振幅 : ···mm又は
加速度 : ···m/s2
のいずれか緩い方。
試験時間 : ···h
4.7.2 最終検査 外観 損傷がない。
4.8 バンプ(又は4.9衝撃に 取付方法 : この規格の1.1による。
よる。) バンプの回数 : ···
ピーク加速度 : 390m/s2
作用時間 : 6ms
4.9 衝撃(又は4.8バンプに 取付方法 : この規格の1.1による。
よる。) ピーク加速度 : ···m/s2
作用時間 : ···ms
4.8.2又は4.9.2 外観 損傷がない。
最終測定
副群C1 D 6 27 1
副群C1A及びC1Bの試料を合
わせた試料
4.10 一連耐候性
4.10.1 初期測定 静電容量
4.10.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16h
外観 損傷がない。
4.10.3温湿度サイクル(12
+12時間サイクル),
最初のサイクル
4.10.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2h
外観 損傷がない。
4.10.5 減圧(個別規格で要求 気圧 : 8.5kPa
がある場合)
4.10.5.3 中間測定 外観 破壊,フラッシュオーバ又は
著しい変形がない。
4.10.6 温湿度サイクル(12
+12時間サイクル),
残りのサイクル
4.10.7 封止(個別規格で要求 方法 : ··· 選定した方法による。
がある場合)
――――― [JIS C 5101-15-3 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS C 5101-15-3:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-15-3:1984(MOD)
- IEC 60384-15-3:1984/AMENDMENT 1:1992(MOD)
- IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1:1987(MOD)
JIS C 5101-15-3:1998の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-15-3:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISC5101-15:1998
- 電子機器用固定コンデンサ―第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)