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C 5101-25-1 : 2009 (IEC 60384-25-1 : 2006)
表6−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数b)
ND b) p n c
副群 : C3.1(続き) D 6 12 0 g)
4.10.3 最終測定 漏れ電流 表3による。
静電容量 4.10.1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) 表3による。
4.11 一連耐候性
4.11.1 初期測定 静電容量(4.10.3での測定値を用
いてもよい。)
4.11.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16 h
4.11.3 温湿度サイク
ル(試験Db),最初の
サイクル
4.11.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2 h
4.11.5 温湿度サイク 後処理時間 : 1 h2 h
ル(試験Db),残りの
サイクル
4.11.6 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 表3による。
静電容量 4.11.1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) 表3規定値の1.5倍以下
副群C3.2 D 6 24 0 g)
4.12 高温高湿(定常)
4.12.1 初期測定 静電容量(群3での測定値を用
いてもよい。)
4.12.2 試験条件 後処理時間 : 1 h2 h
試験期間 : 21日
4.12.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 初期規定値の5倍以下
静電容量 表3による。j)
損失角の正接(tan δ) 表3規定値の1.5倍以下
――――― [JIS C 5101-25-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-25-1 : 2009 (IEC 60384-25-1 : 2006)
表6−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数b)
ND b) p n c
副群C3.3 D 6 12 0 g)
4.13 高温及び低温特 コンデンサは,各段階温度で測
性 定する。
段階1 : 20 ℃
静電容量 i) 比較用に使用する。
インピーダンス 比較用に使用する。
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量 i) 段階1の測定値に対して
| 一 尢
インピーダンス 段階1の測定値の1.5倍以下
損失角の正接(tan δ) i) 表3規定値の2倍以下
段階3 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 105 ℃(UR)で
表3規定値の12.5倍以下
静電容量 i) 段階1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) i) UR≦4
表3規定値の3倍以下
UR>4
表3規定値の2倍以下
4.17 充放電(個別規
格に規定がある場合)
4.17.1 初期測定 静電容量
4.17.2 試験条件 温度 : ...C
充放電サイクル数 : 106
充電時間 : 0.5 s
放電時間 : 0.5 s
4.17.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 表3による。
静電容量 4.17.1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) 表3規定値の1.5倍以下
等価直列抵抗(ESR) 表3規定値の2倍以下
副群C3.4 D 3 36 0 g)
4.15 耐久性
4.15.1 初期測定 静電容量
4.15.2 試験条件 試験時間 : 1 000 h
試験温度 : ...C
印加電圧 : ...V
後処理時間 : 1 h2 h
――――― [JIS C 5101-25-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-25-1 : 2009 (IEC 60384-25-1 : 2006)
表6−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数b)
ND b) p n c
副群C3.4(続き) D 6 12 0 g)
4.15.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 表3規定値の2倍以下
静電容量 4.15.1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) 表3規定値の1.5倍以下
等価直列抵抗(ESR) 表3規定値の2倍以下
副群C3.5 D 6 12 0 g)
4.16 高温貯蔵
4.16.1 初期測定 静電容量(群3での測定値を用
いる。)
4.16.2 試験条件 試験温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 96 h±4 h
後処理時間 : 16 h以上
4.16.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 4.5.1の規定値の2倍以下
静電容量 4.16.1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) 表3による。
4.14 サージ
4.14.1 初期測定 静電容量
4.14.2 試験条件 サイクル数 : 1 000回
温度 : ...℃
印加電圧 : 1.15 UR
保護抵抗 : 1 000 Ω
充電時間 : 30 s
無負荷時間 : 5 min 30 s
後処理時間 : 1 h2 h
4.14.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がない。
漏れ電流 表3による。
静電容量 4.14.1の測定値に対して
| 一 尢
損失角の正接(tan δ) 表3規定値の1.5倍以下
――――― [JIS C 5101-25-1 pdf 13] ―――――
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C 5101-25-1 : 2009 (IEC 60384-25-1 : 2006)
表6−品質確認検査の試験計画(続き)
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,品種別通則JIS C 5101-25及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は,次による。
p : 周期(月),n : 試料数,c : 合格判定数,D : 破壊試験,ND : 非破壊試験,IL : 検査水準
c) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に,抜取試料をすべて検査する。抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合
格とするが,不適合品は,品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検
査データによって算出する。また,抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不
合格とする。
d) 検査水準及び合格品質水準は,JIS C 5101-25の3.5.4による。
e) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他
の仕組みを取り入れている場合には,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
f) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。
g) 不適合品が1個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合品が発生
しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。
h) 取付けで不適合となったコンデンサは,不適合数の計算には入れない。不適合なコンデンサは,予備のコン
デンサと交換する。
i) 適用可能な場合に試験を適用する。
j) 対応国際規格では,表4によると規定しているが,明らかな誤記である。
JIS C 5101-25-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-25-1:2006(IDT)
JIS C 5101-25-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-25-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称