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C 5101-3-1 : 2010 (IEC 60384-3-1 : 2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ(続き)
D 試料数及び
細分箇条番号
又は 試験条件a) 合格判定数b) 要求性能a)
及び試験項目a)
ND b) p n c
群C検査(定期的)
副群C1 3 12 0
4.6.1 初期測定 D 静電容量
損失角の正接 (tan
4.6 はんだ耐熱性 方法 : ... d)
4.6.3 最終測定 静電容量
損失角の正接 (tan | 一 尢 ─
4.17 部品の耐溶剤性c) 溶剤 : ... d)
溶剤の温度 : ... d) 個別規格の規定による。
方法 : 2
後処理時間 : ... d)
外観 4.6.3による。
副群C2 D 3 12 0
4.9 耐プリント板曲げ 静電容量(プリント板を | 一 尢 ─
性e) 曲げた状態)
曲げ深さD : ... mm d)
曲げ回数 : ... d)
4.9.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
副群C3 D
4.3 取付け 外観 外観に損傷がない。
漏れ電流 0.02 CNUR 一 V) 又は,
1
以下
静電容量 − 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
インピーダンスc) この規格の表4による。
又は等価直列抵抗 この規格の表5による。
(ESR) )
――――― [JIS C 5101-3-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-3-1 : 2010 (IEC 60384-3-1 : 2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ(続き)
D 試料数及び
細分箇条番号
又は 試験条件a) 合格判定数b) 要求性能a)
及び試験項目a)
ND b) p n c
副群C3.1 D 6 8 0
4.8 固着性 外観 外観に損傷がない。
4.10.1 初期測定 行わない(副群C3での
測定値を用いる。)。
4.10 温度急変 TA : カテゴリ下限温度
TB : カテゴリ上限温度
回数 : 5回
試験時間t1 : 30 min
後処理時間 : 1 h2 h
4.10.3 最終測定 漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 副群C3の測定値に対して
| 一 次による。
形状1 : ≦5 %
形状2 : ≦10 %
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
4.11 一連耐候性
(形状1に適用)
4.11.1 初期測定 行わない。
4.11.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16 h
4.11.3 温湿度サイクル
(試験Db),最初の
サイクル
4.11.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2 h
4.11.5 温湿度サイクル 後処理時間 : 1 h2 h
(試験Db),残りの
サイクル
4.11.6 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,明
りょうとする。
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 副群C3の測定値に対して
| 一 尢 ─
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値に対して1.2倍以
下
――――― [JIS C 5101-3-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-3-1 : 2010 (IEC 60384-3-1 : 2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ(続き)
D 試料数及び
細分箇条番号
又は 試験条件a) 合格判定数b) 要求性能a)
及び試験項目a)
ND b) p n c
副群C3.2 D 6 9 0
4.12 高温高湿(定常) 後処理時間 : 1 h2 h
(形状1に適用)
4.12.1 初期測定 行わない(副群C3での
測定値を用いる。)。
4.12.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は明り
ょうとする。
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 副群C3の測定値に対して
| 一 尢 ─
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値に対して1.2倍以
下
副群C3.3 D 3 4 0
4.15 耐久性 試験時間 : 2 000 h
試験温度 : ... ℃ d)
(適用する温度)
印加電圧 : ... V d)
後処理時間 : 1 h2 h
4.15.1 初期測定 行わない(副群C3での
測定値を用いる。)。
4.15.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,明
りょうとする。
漏れ電流 4.5.1の規定値の2倍以下
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値の1.5倍以下
インピーダンスc) 個別規格の規定による。
又は等価直列抵抗
(ESR) )
――――― [JIS C 5101-3-1 pdf 13] ―――――
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C 5101-3-1 : 2010 (IEC 60384-3-1 : 2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ(続き)
D 試料数及び
細分箇条番号
又は 試験条件a) 合格判定数b) 要求性能a)
及び試験項目a)
ND b) p n c
副群C3.4 D 6 15 0
4.13 高温及び低温特 コンデンサを各温度段
性 階測定する。
段階1 : 20 ℃
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 比較用の値
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
段階2 : カテゴリ下限温
度
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
段階3 : 20 ℃
漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 段階1の測定値に対して
| 一 尢 ─
損失角の正接 (tan δ) 4.5.3による。
段階4 : 85 ℃
漏れ電流 0.2 CNUR 一 V) 又は
10
値以下
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
段階5 : 125 ℃
(適用する場合)
漏れ電流 0.25 CNUR 一 V) 又は
10
値以下
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan 個別規格の規定による。
段階6 : 20 ℃
漏れ電流 段階3による。
静電容量 段階3による。
損失角の正接 (tan 段階3による。
――――― [JIS C 5101-3-1 pdf 14] ―――――
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C 5101-3-1 : 2010 (IEC 60384-3-1 : 2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ(続き)
D 試料数及び
細分箇条番号
又は 試験条件a) 合格判定数b) 要求性能a)
及び試験項目a)
ND b) p n c
副群C3.5A D 12 6 0
4.14 サージ サイクル数 : 1 000回
温度 : ... ℃ d)
印加電圧 : 1.3 UR
及び/又は1.3 UC
保護抵抗 : 1 000圀
±100 圀
充電時間 : 30 s
放電時間 : 5 min 30 s
4.14.0A 初期測定 行わない(副群C3での
測定値を用いる。)。
4.14.2 最終測定 漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 副群C3の測定値に対して
| 一 尢 ─
損失角の正接 (tan 4.5.3による。
0
副群C3.5B D 12 6 0
4.16 逆電圧c) 試験時間 : 逆極性に
125 h,... V d) をカテゴ
リ上限温度で,引き続
いて正極に125 hカテ
ゴリ電圧をカテゴリ
上限温度で印加する。
4.16.1 初期測定 行わない(副群C3での
測定値を用いる。)。
4.16.3 最終測定 漏れ電流 4.5.1による。
静電容量 副群C3の測定値に対して
| 一 尢 ─
損失角の正接 (tan 4.5.3の規定値に対して1.15倍以
下
注記 対応国際規格の明らかな誤記のため,大電流サージの細分箇条番号を,4.21から4.19に,また,4.4 外観の
要求性能を,“この規格の4.5の規定による。”から“この規格の1.5の規定による。”に変更した。
注a) 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5101-3の細分箇条及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は,次による。
p : 周期(月単位),n : 試料数,c : 合格判定数(許容不適合数)
D : 破壊試験,ND : 非破壊試験,IL : 検査水準
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 個別規格の規定による。
e) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。
JIS C 5101-3-1:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-3-1:2006(IDT)
JIS C 5101-3-1:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-3-1:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
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