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C 5160-2-1 : 2009 (IEC 62391-2-1 : 2006)
1.7 出荷対象ロットの成績書
顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,表3による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。
表3−その他の特性
この表には,品種別通則JIS C 5160-2の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用
する。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順は,JIS C 5160-2の3.4による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を表す(表4参照)。検査ロッ
トの構成は,JIS C 5160-2の3.5.1による。
表4−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数b)
ND b) IL n c
群A検査(ロットごと)
副群A0 ND 100 % c)
4.4.2 静電容量 4.4.2.1による。 規定する許容差以内
4.4.3 内部抵抗 直流抵抗 : 4.4.3.1に 表2bによる。
よる。f)
4.4.1 漏れ電流 i) 圀
保護抵抗 : ... 表2bによる。
d)
副群A1 ND S-3 0
4.3 外観検査 4.3.2による。
明りょうな表示及び個別規格の規
定による。
d)
副群A2 ND S-3 0
4.3 寸法(詳細)e) この規格の表1の規定による。
d)
群B検査(ロットごと)
副群 : B1 D S-3 0
4.7 はんだ付け性g) 方法 : はんだ槽法(方
法1)
4.7.1 最終測定 外観検査 端子の75 %以上が,新しいはんだ
で覆われている。
d)
副群 : B2 ND S-3 0
4.13 高温及び低温特 段階1 : 20 ℃
性 静電容量
内部抵抗
段階2 : −25 ℃
静電容量 段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
内部抵抗 4.4.3の規定値の4倍以下
――――― [JIS C 5160-2-1 pdf 6] ―――――
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C 5160-2-1 : 2009 (IEC 62391-2-1 : 2006)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数b)
ND b) p n c
群C検査(定期的)
副群 : C1A D 12 8 0 h)
4.3 寸法(詳細) この規定の表1の規定による。
4.5 端子強度 試験方法
試験Ua1(引張強度)
試験Ub(曲げ強度)
4.5.1 初期測定 静電容量
4.5.2 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示が明りょ
うである。
静電容量 4.5.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.6 はんだ耐熱性g) 試験Tbの方法1a
後処理 : ...
4.6.1 初期測定 静電容量
4.6.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示が明りょ
うで,電解液の漏れがない。
静電容量 4.6.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
副群 : C1B D 12 8 0 h)
副群C1の残りの試料
4.8 温度急変 TA : カテゴリ下限
温度
TB : カテゴリ上限
温度
5サイクル
試験時間 t1 : ...
4.8.1 初期測定 静電容量
4.8.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示が明りょ
うで,電解液の漏れがない。
静電容量 4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.9 振動 取付方法 : 1.4.2参
照
4.9.1 初期測定 静電容量(4.8.3で
の測定値を使用し
てもよい。)
4.9.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示が明りょ
うで,電解液の漏れがない。
静電容量 4.9.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
――――― [JIS C 5160-2-1 pdf 7] ―――――
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C 5160-2-1 : 2009 (IEC 62391-2-1 : 2006)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数b)
ND b) p n c
副群C2 D 6 16 0 h)
4.10 耐久性 期間 : カテゴリ上
限温度70 ℃で
1 000 h又はカテ
ゴリ上限温度
60 ℃で2 000 h
電圧 : ··· V
後処理 : 16 h以上
4.10.1 初期測定 静電容量
4.10.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。
静電容量 4.10.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
内部抵抗 4.4.3の規定値に対して4倍以下
副群 : C3A D 6 8 0 h)
4.11 電圧保持 充電電圧 : ···
充電時間 : 8 h
4.11.2 最終測定 保持電圧 充電後,室温で24時間放置後の保
持電圧が充電電圧の80 %以上。
4.12 高温貯蔵 温度 : カテゴリ上
限温度
期間 : 96 h±4 h
後処理 : 16 h以上
4.12.1 初期測定 静電容量
4.12.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。
静電容量 4.12.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
内部抵抗 4.4.3の規定値に対して2倍以下
副群C3B D 6 8 0 h)
4.14 高温高湿(定常) 温度 : 40 ℃
相対湿度 :
90 %RH95 %
RH
期間 : 10日
4.14.1 初期測定 静電容量
4.14.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。
静電容量 4.14.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
内部抵抗 4.4.3の規定値に対して4倍以下
――――― [JIS C 5160-2-1 pdf 8] ―――――
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C 5160-2-1 : 2009 (IEC 62391-2-1 : 2006)
表4−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 及び合格判定数b)
ND b) p n c
副群C4 D 12 8 0 h)
4.13 高温及び低温特 試料は各温度段階
性 で測定する。
段階1 : 20 ℃
静電容量 比較用に使用する。
段階2 : カテゴリ
下限温度
静電容量 段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
内部抵抗 4.4.3の規定値の4倍以下
段階3 : カテゴリ
上限温度
静電容量 段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
内部抵抗 4.4.3の規定値の4倍以下
副群C4A D
4.15 耐炎性i) 耐炎性カテゴリ : 12 4 0 h) 4.15.1による。
···
副群C4B D
4.16 圧力弁i) 印加電圧 : ··· 12 4 0 h) 4.16.1による。
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,品種別通則JIS C 5160-2及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は,次による。
p : 周期(月),n : 試料数,c : 合格判定数(許容不適合数),D : 破壊試験,ND : 非破壊試験,IL : 検査水準
c) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に,抜取試料をすべて検査する。抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合
格とするが,不適合品は,品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検
査データによって算出する。
d) 検査水準及び合格品質水準は,JIS C 5160-2の3.5.3による。
e) 製造業者が,管理限界値を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はその他
の仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
f) 交流抵抗法は,直流測定法による結果と相関がある場合に用いる。測定方法はJIS C 5160-1の4.6.1による。
g) ねじ端子及び個別規格で設計的にはんだ付けを意図していないことを記載しているその他の端子のコンデン
サには,適用しない。
h) 不適合品が1個発生した場合は,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い新たな不適合品が発生
しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。
i) 適用可能な場合に試験項目を適用する。
JIS C 5160-2-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62391-2-1:2006(IDT)
JIS C 5160-2-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5160-2-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
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