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C 5630-18 : 2014 (IEC 62047-18 : 2013)
かつ,ナイフエッジの真直度は試験片の長さの±1 %の精度とする。
ナイフエッジの刃の幅方向と試験片の表面との角度は,2°以下とし,かつ,ナイフエッジの刃の長さ方
向と試験片の縦方向との角度は,4°以下とする。試験では,これらのデータを記録しなければならない。
a) 片持ちばり試験片及び負荷点
b) 片持ちばり試験片及び負荷部
図2−試験方法
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C 5630-18 : 2014 (IEC 62047-18 : 2013)
c) 力と変位との関係
1 負荷点A,B及びC
2 試験基板
3 試験片
4 球形負荷部
5 球面又はナイフエッジの先端
図2−試験方法(続き)
5.2 試験片の固定方法
試験片を含む試験基板は,負荷軸と試験片表面とが直角になるように試験装置に固定する。試験片は,
試験基板及び試験装置に,次によって固定する。
a) 試験片は,試験基板に確実に固定し,試験中に動いてはならない。試験基板は,剛性がより高い試験
装置上に堅固に固定することが望ましい。
b) 試験中は,試験片の試験基板は,固定していることが望ましく,試験装置の負荷軸の方向と試験基板
表面との垂線は5°以下とすることが望ましい。
5.3 負荷方法
試験片に接触して負荷を与える球面部は,図2 b) に示すような球面又はナイフエッジのような形状であ
ることが望ましい。球面の直径が試験片の厚さ(S)及び幅(W)に比べて極端に小さい場合は,接触点に
おける試験片の極端な局部変形及び破壊を避けるため,徐々に負荷を与えることが望ましい(附属書B参
照)。試験片の変形は,純粋な弾性変形の範囲内で最小とすることが望ましい。負荷装置の動きは直線性を
保つことが望ましい。
試験片がたわむことによって負荷点の位置がずれるため,片持ちばりの変位(δ)は,小さいものとする。
ロードセルは加えた力の5 %の精度を保証するものを用いる。ロードセルのドリフトは,試験時間内に
おいてフルスケールの1 %未満であることが望ましい[JIS C 5630-6の5.4(負荷方法)参照]。
注記 ロードセルは,JIS B 7612-1を用いることが望ましい。
5.4 試験の速度
負荷速度は,一定であることが望ましく,測定装置の能力の範囲内とする。
5.5 変位の測定
変位センサの分解能は,最大変位測定範囲の0.5 %より高い精度とする。容量が小さいロードセルの場
合は剛性が低下するため,可能な場合は,試験片の曲げによる変位(δ)を直接測定することが望ましい。
5.6 試験環境
試験中の温度及び相対湿度は,試験結果のばらつきを避けるために制御することが望ましい。特に試験
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C 5630-18 : 2014 (IEC 62047-18 : 2013)
中の温度には留意する。
5.7 データ解析
弾性領域において,片持ちばりに力を加えたときの力(P)と変位(δ)との関係は,式(1)によって表す
ことができる。別の形状の試験片を用いた場合は,形状を精密に測定して記録する。
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PLp
(pdf 一覧ページ番号 )
3EIz
ここに, E : 試験片の弾性係数
Iz : 試験片の断面2次モーメント
δ : 変位
P : 力
Lp : 試験片固定端部から負荷点までの長さ
片持ちばりに負荷として与えられる力(P)と変位(δ)との関係は,試験片の断面形状,すなわち,断
面2次モーメント(Iz)及び試験片の荷重長さに依存する。試験片の形状並びに形状を求めた測定方法及
びその測定精度を記録することが望ましい。得られた力と変位との関係は,図2 c) に示すように直線的だ
が,負荷初期部分は,しばしば直線的ではない。この現象は試験片形状のねじれ及び/又は曲がり,試験
片固定端と試験基板との部分的な離,又は負荷点の微小破壊による。この場合,得られたデータの直線
領域だけを用いることが望ましい。塑性変形,試験基板の支持部の破壊及び/又は負荷点でのすべりが生
じた場合,力と変位との関係は直線的にはならない(附属書B参照)。
5.8 試験片の材料
試験片は,同じ条件で作製した5個以上の試験片を選択することが望ましい。材料の弾性定数はデータ
解析の基準として既知でなければならない。また,片持ちばり曲げ試験片の固定端部への応力集中を避け
るため,試験片の弾性係数は,試験基板材料の弾性係数以下とする。さらに,試験片は,根元及び試験基
板との接触点における塑性変形を避けるため,降伏応力の高い材料が望ましい。
6 試験報告
試験報告には,次の事項を記載しなければならない。
a) 必須事項
1) この規格の規格番号 JIS C 5630-18
2) 試験片の材料,並びに試験片及び試験基板の弾性係数(単結晶材料の場合は結晶方位)
3) 試験片の作製方法及びその詳細
− 成膜方法
− 加工条件
− 熱処理(焼なまし)条件
4) 試験片の形状及び寸法
− 断面2次モーメント(Iz)
5) 薄膜曲げ試験条件 次の曲げ試験条件を記載する。
− 試験装置の様式,並びに力センサ及び変位センサの容量及び分解能
− 試験環境(温度及び相対湿度)
− 負荷率又は変位率
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6) 薄膜曲げ試験結果 次の曲げ試験結果を記載する。
− 試験に用いた試験片の番号
− 試験結果及び計算値
− 特記事項(試験片の欠陥,離層又はねじれ)
b) 任意事項
1) 微細構造
2) 内部応力
3) 試験片の表面粗さ
4) 変形特性
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C 5630-18 : 2014 (IEC 62047-18 : 2013)
附属書A
(参考)
試験片固定端部における注意点
試験片と試験基板との接触点は,試験片と基板とが接する試験片保持部の塑性変形及び/又は破壊を起
こす応力集中を避けるために重要である。この現象を避けるため試験片及び試験基板が接触して応力が集
中する部分(図A.1の矢印3)の角度は45°90°の範囲とし,90°を超えないことが望ましい。また,
深刻なエッチング損傷が生じないよう注意を払う。
1 試験片
2 試験基板
3 応力集中部
図A.1−試験片及び試験基板間の接触の仕上がり角度
――――― [JIS C 5630-18 pdf 10] ―――――
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JIS C 5630-18:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62047-18:2013(IDT)
JIS C 5630-18:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5630-18:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5630-6:2011
- マイクロマシン及びMEMS―第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法