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C 5921 : 2009
表3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
温度サイ 温度サイクル試 高温 : 60 ℃±2 ℃ 減衰量は,試験中及び試験前後におい
クル 験(JIS C 5901 低温 : 0 ℃±2 ℃ て,表2に示す最小値以上,かつ,最大
の8.2) 放置時間 : 1時間以上 値以下とする。さらに,試験中及び試験
温度変化の割合 : 1 ℃/min 後の減衰量変化は,周囲条件下でdB値
サイクル数 : 5 で初期値の±5 %以内とする。
反射減衰量は,試験前後において,表2
に示すグレードの最小値以上とする。
減衰量の測定は,試験前後及び試験中は10
分以下の間隔で実施する。
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。
前処理 : 試験前,供試品は室温環境中に2
時間放置する。
後処理 : 試験後,供試品は室温環境中に2
時間放置する。
耐振性 耐振性(JIS C 振動範囲 : 10 Hz55 Hz 減衰量は,試験中及び試験前後におい
5901の7.1) 試験時間 : 1オクターブ/分 て,表2に示す最小値以上,かつ,最大
振動軸 : 直交3軸 値以下とする。さらに,試験中及び試験
後の減衰量変化は,周囲条件下でdB値
掃引サイクル数(10 Hz−55 Hz−10 Hz) : 15
振動振幅 : 0.75 mm で初期値の±5 %以内とする。
反射減衰量は,試験前後において,表2
に示すグレードの最小値以上とする。
減衰量の測定は,試験前後及び試験中は10
分以下の間隔で実施する。
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。
取付方法 : 供試品は,アセンブリングカセ
ット又はオーガナイザで取付具と強固に固
定する。
光ファイ 光ファイバコー 引張力 : 強化ケーブルに対して5 N/sの変化
減衰量は,試験中及び試験前後におい
バクラン ドクランプ強度 率で10 N±1 N て,表2に示す最小値以上,かつ,最大
プ強度 (軸方向引張り)セカンダリ光ファイバに対して0.5 N/sの変
値以下とする。さらに,試験中及び試験
(軸方向 (JIS C 5901の 化率で5 N±0.5 N 後の減衰量変化は,周囲条件下でdB値
引張り) 7.5) で初期値の±5 %以内とする。
プライマリ光ファイバに対して0.5 N/sの変
化率で2 N±0.2 N 反射減衰量は,試験前後において,表2
に示すグレードの最小値以上とする。
引張力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m
引張力持続時間 : 10 Nの場合120秒,5 N及
び2 Nの場合60秒
サンプリングレート(測定頻度) : 減衰量の
測定は,負荷が最大に達してから30秒以下
の間隔で実施する。
減衰量の測定は,試験前後及び試験中に実
施する。
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。
耐衝撃性 耐衝撃性(JIS Cピーク加速度 : 4 900 m/s2 (500 G) 減衰量は,試験前後において,表2に示
5901の7.2) パルス作用時間 : 1 ms,正弦半波 す最小値以上,かつ,最大値以下とする。
軸数 : 3軸各2方向 さらに,減衰量変化は,周囲条件下でdB
衝撃回数 : 2衝撃/軸,総数12 値で初期値の±5 %以内とする。
反射減衰量は,試験前後において,表2
に示すグレードの最小値以上でなけれ
減衰量の測定は,試験前後及び各軸方向に
衝撃を加える前後に実施する。 ばならない。
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。
――――― [JIS C 5921 pdf 6] ―――――
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C 5921 : 2009
表3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
コネクタ コネクタの横荷 減衰量は,試験前後において,表2に示
荷重力及び保持時間 : 強化ケーブルに対し
の横荷重 重試験(IEC て1 Nで1時間 す最小値以上,かつ,最大値以下とする。
61300-2-42) セカンダリ光ファイバに対して0.2 Nで5分
さらに,試験後の減衰量変化は,周囲条
間 件下でdB値で初期値の±5 %以内とす
荷重方向 : 互いに直交する2方向 る。
反射減衰量は,試験前後において,表2
に示すグレードの最小値以上でなけれ
減衰量及び反射減衰量は,試験前後に測定
する。 ばならない。
ストレイ 光ファイバデバ 荷重力 : 強化ケーブルに対して2 N 減衰量は,試験前後において,表2に示
ンリリー イスのストレイ 曲げ角度 : ±90゜ す最小値以上,かつ,最大値以下とする。
フ強度 ンリリーフ曲げ サイクル数 : 30 さらに,試験後の減衰量変化は,周囲条
試験(IEC 件下でdB値で初期値の±5 %以内とす
61300-2-44) る。
減衰量及び反射減衰量は,試験前後に測定
する。 反射減衰量は,試験前後において,表2
に示すグレードの最小値以上でなけれ
ばならない。
注a) 温度30 ℃60 ℃の相対湿度は,図1の一定水蒸気量曲線で囲まれる範囲とすることが望ましい。
100
90
80
一定水蒸気量
70
%
60
湿度
50
相対
40
30
20
10
0
0 10 20 30 40 50 60
乾球温度℃
図1−温度及び湿度を考慮した環境条件
7 試料
試料は,IEC 60793-2-50のタイプB1.1に基づく被覆光ファイバ(プライマリ及びセカンダリ)又は強化
ケーブルで,シングルモード光ファイバに接続できなければならない。
8 試験報告書
試験報告書及びそれを裏付ける証拠を提供しなければならない。また,この試験報告書及びそれを裏付
ける証拠は,実施した試験に適合した証拠として検査に利用する。試験報告書には,光学特性については
試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性については試験条件,試料数及び合格判定数を記載する。
――――― [JIS C 5921 pdf 7] ―――――
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C 5921 : 2009
9 表示
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器には,次の項目を表示しなければならない。た
だし,個々の光減衰器に表示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による)
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
10 包装
包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理,保管環境条件に関する注意
及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。
11 安全
光伝送システム又は装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。その
ため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法
を明示しなければならない。
JIS C 5921:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5921:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5901:2001
- 光伝送用受動部品試験方法
- JISC5920:2005
- 光減衰器通則
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態