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C 0097 : 2001 (IEC 60068-2-67 : 1995)
11. 製品規格に規定すべき事項
この規格の試験が製品規格に規定されている場合,次の詳細事項をでき
る限り適用しなければならない。製品規格には,次に列記した事項を規定する。*印を付けた事項は,必す
(須)事項であるので特に注意して明記する。
関連箇条番号
a) 試験の厳しさ(試験時間)* 4.
b) 試験と試験との間の大気条件(標準大気条件でない場合) 4.
c) 前処理 * 5.
d) 初期測定 * 6.
e) 特定の供試品保持方法 7.2
f) 電気的バイアス 7.3及びB.2
g) 中間測定 8.
h) 後処理 * 9.
i) 最終測定 * 10.
――――― [JIS C 60068-2-67 pdf 6] ―――――
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C 0097 : 2001 (IEC 60068-2-67 : 1995)
附属書A(参考) 試験の物理的意義
A.1 供試品への水蒸気浸透の加速が,不飽和加圧水蒸気試験にとって最も重要な物理因子である。加速
は,ハーメチックシールされていない供試品の内部及び試験環境間の水蒸気圧の差で決まる。
A.2 この試験は,最初の事例では,樹脂封止した集積回路及びその他の半導体素子におけるアルミニウ
ム金属被覆の腐食を加速するために適用した。しかし,この試験を他の製品に適用することを考慮した場
合,対象とする故障モードを定めること及び各故障モードに対応して劣化プロセス及び試験の厳しさを選
択することが重要である。異なった電子機器の故障モードは,本体の表1に示した厳しさと相関しない場
合があることを理解しておくのが望ましい。
――――― [JIS C 60068-2-67 pdf 7] ―――――
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C 0097 : 2001 (IEC 60068-2-67 : 1995)
附属書B(参考) 試験装置及びその取扱い
B.1 材料の選択 試験槽の構成材料は,慎重に選択しなければならない。温度及び湿度の複合条件の下
で発生する構成材料からの汚染物質の遊離を極力抑え,更に腐食及びほかのメカニズムによる劣化を極力
抑えるためである。適切な材料は,ステンレス,ガラス,セラミック及びその他の耐食性のあるものであ
る。
B.2 電気的バイアス 電気的バイアスは,湿度の影響をより効果的に観測するために印加する電圧とす
る。供試品を正常に動作させる電気的バイアスと相関があるとは限らない。
電気的バイアスは,次の指示事項に従って印加したほうがよい。
a) 供試品の内部及び表面の製品規格で規定した位置における温度を,設定した周囲温度より2℃以上上
昇させてはならない。
b) 供試品の加水分解の促進及び自己加熱の抑制を考慮して電気的バイアスを定めなければならない。こ
れらの現象は,水蒸気の侵入及び/又は吸収に影響を及ぼす。連続的に電気的バイアスを印加するこ
とで供試品の自己加熱が抑制できない場合は,周期的な電気的バイアスを印加することを推奨する。
もしほかに規定がなければ,3時間断,1時間印加の周期で電気的バイアスを印加するのがよい。周期
的な電気的バイアスの印加は,始めに“断”の状態から始めたほうがよい。
c) 故障状態においての消費電力を一定限度以下に抑えるための事前の策が必要である。
備考 相対湿度一定の環境中で,供試品に電気的バイアスを印加することは,特性劣化に及ぼす湿度
の影響をより効果的にする。一方,電気的バイアスを印加すれば部分的な温度上昇によって供
試品周辺の相対湿度は,部分的に低下し,この試験の目的に反する条件を生み出す場合もある。
B.3 洗浄 試験槽及び試験槽内に設置したすべての内部取付具(ラックなど)は,必ず洗浄しなければ
ならない。
試験槽及び試験槽内に設置したすべての内部取付具は,希釈した実験室用洗剤を用いて柔軟なブラシで
洗浄し,洗浄後は蒸留水又は脱イオン水ですすぐ。各試験前に,試験槽を洗浄したほうがよい。
洗浄した物品及び試験槽の汚染を防ぐため,更に試験槽周辺を清浄に保つため,手袋及び顔面用マスク
を使用するとよい。
もしほかに規定がなければ,供試品は受領したときの状態のまま,正常な取扱い方で試験しなければな
らない。特別に洗浄した供試品を用いて行った試験の結果では,実使用上生じる問題点を検出できないこ
ともある。
――――― [JIS C 60068-2-67 pdf 8] ―――――
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C 0097 : 2001 (IEC 60068-2-67 : 1995)
環境試験及び分類JIS原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 池 田 弘 明 株式会社精工技研
(幹事) 高 久 清 工業技術院電子技術総合研究所
(委員) 赤 嶺 淳 一 社団法人日本電機工業会
伊 藤 安 行 通商産業省製品評価技術センター
菅 野 久 勝 日本試験機工業会
工 藤 慎一郎 社団法人関西電子工業振興センター
窪 田 明 通商産業省機械情報産業局
栗 原 正 英 社団法人日本プリント回路工業会
酒 井 善 治 IMV株式会社
酒 井 昌 利 日本プラスチック工業連盟
佐々木 喜 七 財団法人日本電子部品信頼性センター
柴 田 和 男 社団法人日本電機工業会
鈴 木 俊 雄 財団法人電気安全環境研究所
芹 川 寛 治 日本電気計器検定所
塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
寺 岡 憲 吾 防衛庁装備局
関 根 栄 社団法人日本電子工業振興協会
中 村 国 臣 電子技術総合研究所
橋 爪 邦 隆 工業技術院
橋 本 進 財団法人日本規格協会
福 西 寛 隆 日本電気株式会社
船 山 保 財団法人日本品質保証機構
三 上 裕 久 資源エネルギー庁
吉 田 公 一 社団法人日本船舶品質管理協会
吉 田 裕 道 東京都立産業技術研究所
(事務局) 喜多川 忍 財団法人日本電子部品信頼性センター
環境試験及び分類JIS原案作成B小委員会 構成表
氏名 所属
(主査) 中 村 国 臣 工業技術院電子技術総合研究所
(幹事) 小山内 聡 財団法人日本電子部品信頼性センター
(委員) 中曽根 真 一 株式会社超Lメディア
井 田 貞 夫 株式会社東芝
今 井 泰 男 元岩崎情報機器株式会社
熊 倉 久 雄 住友スリーエム株式会社
小 林 吉 一 楠本化成株式会社
鈴 木 正 三 双信電機株式会社
高 沢 滋 ミツミ電機株式会社
三 上 和 正 東京都立産業技術研究所
三田村 勝 昭 スガ試験機株式会社
梁 池 忠 夫 沖エンジニアリング株式会社
山 市 隆 株式会社平山製作所
山 崎 次 朗 株式会社大西熱学
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 本 敏 男 タバイエスペック株式会社
横 井 康 夫 株式会社山崎精機研究所
(事務局) 喜多川 忍 財団法人日本電子部品信頼性センター
JIS C 60068-2-67:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60068-2-67:1995(IDT)