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C 6110 : 1997
関連規格 JIS C 7021 個別半導体デバイスの環境試験方法及び耐久性試験方法
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C 6110 : 1997
光能動部品標準化委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 福 田 光 男 日本電信電話株式会社NTT光エレクトロニクス研究所
井 沢 浩 三菱電機株式会社鎌倉製作所
北相模 博 夫 富士通株式会社基幹通信事業本部光開発推進部
北 原 知 之 株式会社日立製作所情報通信事業部
城 野 順 吉 アンリツ株式会社計測器事業部
堀 川 英 明 沖電気工業株式会社研究開発本部半導体技術研究所
本 田 和 生 ソニー株式会社セミコンダクタカンパニー半導体レーザ部
御神村 泰 樹 住友電気工業株式会社光電子事業部
宮 島 博 文 浜松ホトニクス株式会社中央研究所
本 舘 淳 哉 株式会社東芝半導体システム技術センター
竹 川 浩 シャープ株式会社オプトデバイス事業部
加 山 英 男 財団法人日本規格協会
兼 谷 明 男 通商産業省
増 田 岳 夫 財団法人光産業技術振興協会
(事務局) 山 田 康 之 財団法人光産業技術振興協会
JIS C 6110:1997の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 6110:1997の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0301:1990
- 電気用図記号
- JISC6111:1997
- 低速光伝送リンク用送・受信モジュール測定方法