JIS C 61326-2-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置―電磁両立性要求事項―第２－１部：個別要求事項―ＥＭＣ防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準 | ページ 2

4
C 61326-2-1 : 2017 (IEC 61326-2-1 : 2012)

8 試験結果及び試験報告書

  JIS C 61326-1の箇条8を適用する。

9 使用説明

  次の細分箇条を追加し,JIS C 61326-1の箇条9を適用する。
9.101 追加説明
  製造業者は,次の情報を提供しなければならない。
− 試験リード及び/又はプローブを接続したとき,この規格のイミュニティ要求事項に装置が適合しな
    い場合がある旨
− 電磁妨害の影響を最小限にするための,試験リード及び/又はプローブの使用説明の情報指針
参考文献
      IEEE 488.1,IEEE standard for higher performance protocol for the standard digital interface for
          programmable instrumentation
      IEEE 1284,IEEE standard signaling method for a bidirectional parallel peripheral interface for personal
          computers