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JISC61326-2-1:2022の概要
JIS C 61326-2-1:2022の規格概要
閲覧 情報
JIS C 61326-1の適用範囲に加えて,製造業者が指定する,操作上及び/又は機能上の理由によって電磁両立性(EMC)防護を施せない,(装置の内部及び/又は外部に)試験及び測定用の回路がある装置の,より詳細な試験配置,動作条件及び性能評価基準について規定。
JISC61326-2-1:2022 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 61326-2-1:2022
- 規格名称
- 計測用,制御用及び試験室用の電気装置―電磁両立性(EMC)要求事項―第2-1部:個別要求事項―EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準
- 規格名称英語訳
- Electrical equipment for measurement, control and laboratory use -- EMC requirements -- Part 2-1:Particular requirements -- Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明(改正)
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年(コロン(:)の後ろの年)は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2017年10月20日
- 最新改正日:確認日
- 2022年08月22日(改正)
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2017-10-20 制定日, 2022-08-22 改正日
- JIS 閲覧情報
- C61326-2-1, JIS C 61326-2-1
- 引用JIS規格
- C61326-1:2022
- 対応国際規格
- IEC 61326-2-1:2020(IDT)
- 同等性に関する説明 (IDT)
- IDT: identical(一致)
- 以下の場合、地域又は国家規格は国際規格と一致している。
- a) 地域又は国家規格が、技術的内容、構成及び文言において一致している。又は、
- b) 地域又は国家規格が、ISO/IEC GUIDE 21-1:2005の4.2節に規定した最小限の編集上の変更はあるが、技術的内容において一致している。「逆も同様の原理」があてはまる。
- 引用国際規格
- -
- 国際規格分類
ICS
- 17.220.20,25.040.40,33.100.20
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 61326-2-1:2022 PDF [10ページ]
JISC61326-2-1:2022 改訂 履歴 一覧
JISC61326-2-1:2022 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 61326-1:2017
- 計測用,制御用及び試験室用の電気装置―電磁両立性要求事項―第1部:一般要求事項
JISC61326-2-1:2022 対応 国際規格 一覧
- IEC 61326-2-1:2020