JIS C 6701:2021 水晶振動子の通則及び試験方法 | ページ 11

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C 6701 : 2021
                                         附属書JE
                                          (参考)
                            水晶振動子に関連する用語説明
JE.1 一般
  この附属書は,本文中に使用されていないが,水晶振動子の要求事項を規定する際に基本的に理解して
おいた方がよい関連用語についてまとめたものである。
JE.2 関連用語
− 保持器の形名(enclosure type)
      特定の外形寸法で,決められた封じ方法に適合した材料の容器の形名
− ソケット(socket)
      水晶振動子を挿入してそれを保持し,電気的に接続するための部品
− 基本波水晶振動子(fundamental crystal unit)
      与えられた振動モードの中で,最も低い次数で動作するように設計した水晶振動子
− オーバトーン水晶振動子(overtone crystal unit)
      与えられた最も低い振動モードよりも高い次数で動作するように設計した水晶振動子
− オーバトーン次数(overtone order)
      与えられた振動モードで,基本波振動を1として相次いで存在するオーバトーン振動に対して,順
    次増大していく整数。すべり及び伸長モードのオーバトーン次数は,基本波周波数の整数倍であり,
    オーバトーン周波数は,基本波周波数の整数倍に近似する。
− 負荷時共振周波数オフセット(ΔfL)[load resonance frequency offset(ΔfL)]
      負荷時共振周波数fLと直列共振周波数frとの差。次の式で算出が可能である。
                         fL fL fr
      近似的に,
                                 fC
                                  r 1
                          fL
                              2 C0 CL
      慣例上,与えられた負荷容量値に対する負荷時共振周波数オフセットΔfLは,負荷容量の実際値を
    ピコファラッドで表し,例えば,,Δf30又はΔf20のように表す。
− 負荷時共振周波数オフセット(DL)[fractional load resonance frequency offset(DL)]
      負荷時共振周波数オフセットΔfLと直列共振周波数frとの比。次の式で算出が可能である。
                              fL fr
                         DL
                                fr
      近似的に,
                                C1
                         DL
                             2 C0 CL
      例えば,30 pFの負荷容量値に対する負荷時共振周波数オフセットを示すのにD30のように表す。

――――― [JIS C 6701 pdf 51] ―――――

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− 周波数可変感度(S)[Pulling sensitivity(S)]
      単位容量当たりの周波数の変化量。次の式で,算出が可能である。
                           dD        C1
                        SdCL             2
                              L 2 C0 CL
      例えば,負荷容量30 pFでの周波数可変感度を示すのにS30のように表す。
− サーミスタ付水晶振動子(units with thermistors)
      温度センサとしてサーミスタを内蔵した水晶振動子
      注記 サーミスタ付水晶振動子の規格として,IEC 60122-4:2019 ED1,Quartz crystal units of assessed
            quality−Part 4: Crystal units with thermistorsが発行されている。
参考文献
  [1] JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気·電子−第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,
      電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
        注記 対応国際規格では,IEC 60068-2-58:2015,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td:
              Test methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of
              surface mounting devices (SMD) を記載している。
  [2] Wang S-Y, Neubig B., Sato K., Hosoda T., Seydel E, Wu J-H, Ma T-F, Wang Ji, Aging Models and Parameters
      of Quartz Crystal Resonators and Oscillators; Proc. 2015 Symp on Piezoelectricity, Acoustic Waves and
      Device Applications, p. 382-385
  [3] Shen, C-N, Yang X-W, Chang C, Chao M-C, The Study of Activation Energy (Ea)   y Aging and High
      Temperature Storage for Quartz Resonator's Life Evaluation; Proc. 2010 Symp on Piezoelectricity, Acoustic
      Waves and Device Applications, p. 118-122
  [4] IEC 60444-6,Measurement of quartz crystal unit parameters−Part 6: Measurement of drive level dependence
      (DLD)
  [5] IEC 60444-7,Measurement of quartz crystal unit parameters−Part 7: Measurement of activity and frequency
      dips of quartz crystal units

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                                         附属書JF
                                          (参考)
                            JISと対応国際規格との対比表
 JIS C 6701                    IEC 60122-1:2002+AMD1:2017,(MOD)
 a)   ISの箇 b) 対応国際 c) 箇条ご d)   ISと対応国際規格との技術的差異の e)   ISと対応国際規格
    条番号     規格の対    との評    内容及び理由                        との技術的差異に対
                応する箇    価                                             する今後の対策
                条番号
 規格名称   規格名称    変更      JISは試験方法を含めているので,規格名称      −
                                     を“水晶振動子の通則及び試験方法”とし
                                     た。
 1 1           変更      IEC規格では1.3に入っていた規格の優先 IEC規格の改訂時に提案
                                     順位を注記にした。                  する。
 2
 3 2           変更      JIS Z 8301に従って用語及び定義を箇条3IEC規格の改訂時に提案
                                     に変更した。                        する。
                          削除      本文中に使用されていない用語を削除し,
                                     附属書JE(参考)として追加した。
 4 3.3         変更      JIS Z 8301に従って,一般的要求事項を箇       −
                                     条 4に変更した。
                          追加                                           IEC規格の改訂時に提案
                                     4.1.6の表にタイトルを付け,表5とした。
                                                                          する。
 5 3           変更      IEC QCの引用は削除又はその内容を文言 IEC規格の改訂時に提案
                                     で置き換えた。                      する。
 6 4.8.7 b)    変更      4.8.7 a)を6.8.7.1とした。           IEC規格の改訂時に提案
                                                                          する。
                          追加                                           IEC規格の改訂時に提案
                                     検討中としていたb)ランダム振動を6.8.7.2
                                     及び6.8.7.3として追加した。         する。
 附属書JA                追加      箇条6の測定法の詳細内容を追加した。          −
 附属書JE
   注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味を,次に示す。
         − 削除 : 対応国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
         − 追加 : 対応国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
         − 変更 : 対応国際規格の規定内容又は構成を変更している。
   注記2 JISと対応国際規格との対応の程度の全体評価の記号の意味を,次に示す。
         − MOD : 対応国際規格を修正している。