JIS C 8201-7-1:2016 低圧開閉装置及び制御装置―第7部:補助装置―第1節:銅導体用端子台 | ページ 7

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C 8201-7-1 : 2016
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの(V) JISと国際規格との技術的
国際 評価及びその内容 差異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 の評価
8.4.4 電圧降定格断面積に見合う電流 8.4.4 JISとほぼ同じ 選択 4.3.3と同じ
JISでは,使用者の要求からJIS C 3307
下の検証 通電を行う導電体の電圧 及びJIS C 3316で規定する導体断面積
降下の検証方法 が必要であり,これらを表4Aとして
追加し,IEC規格の表4又は表4Aの
選択とした。
変更 JISでは,技術的な差異はないが,図2IEC規格では簡略化されて分か
を分かりやすい図に変更した。 りにくい図を分かりやすい図
に変更したが,IEC規格と技術
的な差異がないため,提案は行
わない。
8.4.5 温度上定格断面積に見合う電流 8.4.5 JISとほぼ同じ 選択 10 mm2(AWG8)未満の使用電
JISでは,使用者の要求から単線使用を
昇試験 通電を行う導電体の温度 意図していないものに対しては,端末線の場合,単線と端末処理した
測定の試験方法 処理したより線を使用できるよう併記より線との選択を可能とした
した。 ものであり,IEC規格と技術的
な差異がないため,提案は行わ
ない。
4.3.3と同じ
JISでは,使用者の要求からJIS C 3307
及びJIS C 3316で規定する導体断面積
が必要であり,これらを表4Aとして
追加し,IECの表4又は表4Aの選択
とした。
8.4.6 短時間熱的衝撃に対する耐力を 8.4.6 JISとほぼ同じ 選択 8.4.5と同じ
JISでは,使用者の要求から単線使用を
耐電流試験 検証する方法 意図していないものに対しては,端末
処理したより線を使用できるよう併記
した。
8.4.7 ねじなねじなし端子台に対する 8.4.7 JISとほぼ同じ 選択 上記と同じ
JISでは,より線の使用などを含め,製
C8
し端子台の エージング試験方法 造業者が接続形態を指定する場合はそ
201
エージング れに従うこととした。
-
7-
試験
1 : 2016
2

――――― [JIS C 8201-7-1 pdf 31] ―――――

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C 8201-7-1 : 2016
C8
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
国際 評価及びその内容 差異の理由及び今後の対策
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規格
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7
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
-
番号
1 : 2
及び題名 の評価
0
D.1 附属書Dの適用範囲を規 D.1 JISとほぼ同じ 変更 1.1と同じ
JISでは,使用者の要求からJIS C 3307
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定 で規定する導体断面積が必要であり,
表D.2Aに示す導体断面積を上限とす
るよう変更した。
D.2.2 直列 附属書Dで用いる直列断 D.2.2 JISとほぼ同じ 追加 JISには,図D.1 c) を追記した。 IEC規格では,図D.1 c) が記載
断路 路の参照図 漏れと思われるため。
IEC規格の改正提案を行う。
D.4.2 端子 断路機能の形式例 D.4.2 JISとほぼ同じ 追加 JISには,“接点形断路”を追加した。 我が国で一般的に使用されて
台の形式 いる形式を追加したが,実質的
な差異がないため,提案は行わ
ない。
D.5.2 追加 附属書Dで参照情報に追 − − 追加 JISには,D.5.2(追加情報)を追記しIEC規格では,D.5.2(追加情報)
情報 加する事項 た。 が記載漏れであった。
IEC規格の改正提案を行う。
D.7.1.7 断路断路装置の形式例 D.7.1.7 JISとほぼ同じ 追加 JISには,“接点形”を追加した。 D.4.2と同じ
装置
D.8.4.4 電圧定格断面積に見合う電流 D.8.4.4 JISとほぼ同じ 選択 4.3.3と同じ
JISでは,使用者の要求からJIS C 3307
降下の検証 通電を行う導電体の電圧 及びJIS C 3316で規定する導体断面積
降下の検証方法 が必要であり,これらを表D.2Aとし
て追加し,IECの表D.2又は表D.2A
の選択とした。
変更 JISでは,技術的な差異はないが,図 8.4.4と同じ
D.1を分かりやすい図に変更した。
D.8.4.5 温度定格断面積に見合う電流 D.8.4.5 JISとほぼ同じ 選択 D.8.4.4と同じ 4.3.3と同じ
上昇試験 通電を行う導電体の温度
測定の試験方法

――――― [JIS C 8201-7-1 pdf 32] ―――――

                                                                                                                                          31
C 8201-7-1 : 2016
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの(V) JISと国際規格との技術的
国際 評価及びその内容 差異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 の評価
D.8.4.6 短時熱的衝撃に対する耐力を D.8.4.6 JISとほぼ同じ 選択 JISでは,使用者の要求から単線使用 8.4.5と同じ
間耐電流試 検証する方法 を意図していないものに対しては,端
験 末処理したより線を使用できるよう併
記した。
4.3.3と同じ
JISでは,使用者の要求からJIS C 3307
及びJIS C 3316で規定する導体断面積
が必要であり,これらを表D.4Aとし
て追加し,IECの表D.4又は表D.4A
の選択とした。
附属書JA 銅の円形導体に対するね − − 追加 JIS C 3307及びJIS C 3316の導体に対8.3.3.2と同じ
(規定) ん回及び引張試験の試験 するねん回試験及び引張試験の試験値
値 を追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60947-7-1:2009,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
− 選択 国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し,それらのいずれかを選択するとしている。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
C8 201-
7-1 : 2016
2

JIS C 8201-7-1:2016の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60947-7-1:2009(MOD)

JIS C 8201-7-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 8201-7-1:2016の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称