JIS C 7021:1977 (W) 個別半導体デバイスの環境試験方法及び耐久性試験方法

JIS C 7021:1977 廃止 規格情報

JIS C 7021:1977 廃止 移動先 規格概要

この規格 C7021は、集積回路を除く個別半導体デバイスの使用,輸送又は貯蔵の際の各種条件のもとでの性能の安定性を評価するための環境試験方法及び耐久性試験方法について規定。

規格 番号
JIS C7021 
規格 名称
個別半導体デバイスの環境試験方法及び耐久性試験方法
規格 名称 英語訳
Environmental testing methods and endurance testing methods for discrete semiconductor devices
制定 年月日
1977-03-01
廃止 年月日
1997-06-20
引用 JIS 規格
JISC2320,JISC5024,JISC5025,JISC5026,JISC5028,JISC5030,JISC5033,JISC5034,JISC5035,JISK1522,JISK5902,JISK8150,JISK8839,JISZ3282
対応国際 規格 ISO
-
国際規格 分類 ICS
31.080.01
改訂 履歴
1977-03-01 制定日, 1980-03-01 確認日, 1987-02-01 確認 1997-06-20 廃止日
公示の種類
廃止
廃止の理由
-
移行先(移動先)
JISハンドブック
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