JIS B 0090-2:2001 光学素子及びシステム用の製図手法―第２部：材料欠陥―応力複屈折

B 0090-2 : 2001 (ISO 10110-2 : 1996)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,日本光学工業協会 (JOIA) /財団法人日本規
格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査
会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  今回の制定は,日本工業規格(日本産業規格)を国際規格に整合させるため,ISO 10110-2 : 1996, Optics and optical
instruments−Preparation of drawings for optical elements and systems−Part 2 : Material imperfections−Stress
birefringenceを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
  JIS B 0090-2には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考) 複屈折許容値
  JIS B 0090の規格群には,次に示す部編成がある。
    第1部 : 通則
    第2部 : 材料欠陥−応力複屈折
    第3部 : 材料欠陥−泡及び異物
    第4部 : 材料欠陥−不均一性及び脈理
    第5部 : 表面形状公差
    第6部 : 偏心公差
    第7部 : 表面欠陥許容値
    第8部 : 面の肌
    第9部 : 表面処理及びコーティング
    第10部 : 単一レンズ素子のデータ表示表
    第11部 : 公差表示のないデータ
    第12部 : 非球面
    第17部 : レーザ放射による損傷しきい値(予定)

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS B 0090-2 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         B 0090-2 : 2001
                                                                         (ISO 10110-2 : 1996)

光学素子及びシステム用の製図手法−第2部 : 材料欠陥−応力複屈折

Preparation of drawings for optical elements and systems− Part 2 : Material imperfections−Stress birefringence

序文 この規格は,1996年に第1版として発行されたISO 10110-2 (Optics and optical instruments−
Preparation of drawings for optical elements and sysytems−Part 2 : Material imperfections−Stress birefringence)
を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格の中で点線の下線を施してある参考は,原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 JIS B 0090の規格群は,製造及び検査に用いられる製図における光学素子及びシステムに
対する設計上並びに機能上の要求事項の表記について規定する。
  この規格は,等方性物質からなる光学素子内の応力複屈折について,その許容値の表記方法を規定する。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO 10110-2 : 1996 Optics and optical instruments−Preparation of drawings for optical elements and
              systems−Part 2 : Material imperfections−Stress birefringence (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるのものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を
構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,そ
の最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0090-1 光学素子及びシステム用の製図手法−第1部 : 通則
      備考 ISO 10110-1 : 1996, Optics and optical instruments−Preparation of drawings for optical elements
                and systems−Part 1 : Generalが,この規格と一致している。
    JIS B 0090-3 光学素子及びシステム用の製図手法−第3部 : 材料欠陥−泡及び異物
      備考 ISO 10110-3 : 1996, Optics and optical instruments−Preparation of drawings for optical elements
                and systems−Part 3 : Material imperfections−Bubbles and inclusionsが,この規格と一致し
                ている。
    JIS B 0090-4 光学素子及びシステム用の製図手法−第4部 : 材料欠陥−不均一性及び脈理
      備考 ISO 10110-4 : 1997, Optics and optical instruments−Preparation of drawings for optical elements
                and systems−Part 4 : Material imperfections−Inhomogeneity and striaeが,この規格と一致し

――――― [JIS B 0090-2 pdf 2] ―――――

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B 0090-2 : 2001 (ISO 10110-2 : 1996)
                ている。
    JIS B 0090-10 光学素子及びシステム用の製図手法−第10部 : 単一レンズ素子のデータ表示表
                                                                             drawings for optical
      備考 ISO 10110-10 : 1996, Optics and optical instruments−Preparation of
                elements and systems−Part 10 : Table representing data of a lens elementが,この規格と一致
                している。
3. 定義 この規格に用いる用語の定義は,次による。
3.1   応力複屈折 (Stress birefringence)成形及び/又はアニールの過程における不均一な冷却,又は光学
素子のある種の製造過程で発生するガラス素材内の残留応力の結果。
    備考 複屈折は,残留応力に平行又は垂直に偏光した光に対しガラス内に屈折率差を生じる。これは
          光学素子を透過する光の波面の特性,すなわち,光路差に影響を与える。
4. 許容される応力複屈折 サンプルを透過する光の,サンプルの厚さにおいて生じる,互いに直交する
偏光間の厚さにわたる光路差 (optical path difference, OPD)        屈折の尺度になる。これはnm単位で
                                a・攀
  で与えられる。
                      ここに,     a :  サンプルの厚さ (cm)
                                          残留応力 (N・mm−2)
                                   K :  光弾性係数間の差 (10−7mm2・N−1)
残留応力によって誘起する複屈折は,単位の道筋長さ当たりの光路差 (nm/cm) で表される。サンプル厚
1cm当たり20nmを超えるリターデーション(光路差)のものは一般に“粗”アニールガラスに相当し,
一方サンプル厚1cm当たり10nm未満のリターデーションのものは“精密”アニールガラスと呼ばれ,通
常精密な光学素子用と規定されている。
5. 図面内の表示
5.1   応力複屈折に対する許容値の規定は,コード番号及び単位長さ当たりの最大許容OPDによって与え
られる。
5.2   応力複屈折のコード番号は0(ゼロ)である。
5.3   表示は,次のとおりである。0/A
5.4   Aは長さ1cm当たりのnmで表した最大許容応力複屈折である。
    参考 原国際規格では“光路長”となっているが,光路長は屈折率と道筋の長さの積であり,ここで
          は単に道筋の長さを意味しているので“長さ”と変更した。
5.5   表示は,それが適用される光学素子の近くに記入する。必要の場合,表示は引出し線で素子と結ん
でもよい。できれば,他の材料欠陥(泡,不均一性及び脈理,JIS B 0090-3,及びJIS B 0090-4参照)の表
示と組み合わせる。(例が6.及びJIS B 0090-1の附属書Aに与えられている。)
  代わりにレンズ素子の場合,表示はJIS B 0090-10に従って表中に与えてもよい。
6. 例 (JIS B 0090-1の附属書Aも参照)一例として,図1はレンズ素子に対し最大許容応力複屈折が
10nm/cmの表示を示している。

――――― [JIS B 0090-2 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
                                                                 B 0090-2 : 2001 (ISO 10110-2 : 1996)
                                図1 応力複屈折の許容値の表示例

――――― [JIS B 0090-2 pdf 4] ―――――

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B 0090-2 : 2001 (ISO 10110-2 : 1996)
                          附属書A(参考) 複屈折許容値
  この附属書は,許容値の選択に対する規則を規定するものではない。
  表A.1は,複屈折許容値と対応する代表的応用例を示す。
                               表A.1 複屈折許容値と代表的応用例
                           ガラス長1cm当たりの       代表的応用例
                                許容光路差
                                  (OPD)
                                <2nm/cm         偏光装置
                                                 干渉装置
                                 5nm/cm          精密光学系
                                                 天体用光学系
                                 10nm/cm         写真用光学系
                                                 顕微鏡用光学系
                                 20nm/cm         拡大鏡
                                                 ファインダ光学系
                                要求値なし       照明用光学系
                      光学素子及びシステムの製図手法原案作成委員会 構成表
                         氏名                                  所属
(委員長)          田 中 俊 一 東京理科大学理学部
(幹事)            山 本 公 明 オリンパス光学工業株式会社基礎技術研究所
                    池 森 敬 二 キヤノン株式会社レンズ開発センター
                    大 園 成 夫 東京大学大学院工学系研究科
                    加 藤 欣 也 株式会社ニコンインストルメンツカンパニーMS事業部
                    桐 木 俊 彦 コニカ株式会社オプトテクノロジーカンパニー光学開発センター
                    小泉    昇 富士写真光機株式会社光学設計部
                    中村    均 株式会社トプコン産業機器技術部
                    橋本    進 財団法人日本規格協会技術部
                    福島    省 ミノルタ株式会社光システム技術部
                    松田    淳 旭光学工業株式会社カメラ事業部
                    山 口 孝 夫 株式会社リコー画像技術開発本部
                    吉本    勇 元東京工業大学精密工学研究所
(オブザーバ)      八田    勲 通商産業省工業技術院標準部
(事務局)          岩 崎 郁 也 日本光学工業協会