JIS B 0090-5:2010 光学素子及び光学システム用の製図手法―第5部:表面形状公差 | ページ 2

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B 0090-5 : 2010 (ISO 10110-5 : 2007)
表面形状公差は,光学的有効範囲内に適用する。ただし,光学的有効範囲よりも小さな,任意の被検領
域を,光学的有効範囲内のいずれの位置についても適用する場合には,公差表示に被検領域の直径を次の
ように追記する。
− 3/A(B/C) MSx 公差指示の例については,箇条6の例3を参照。
この規格は,全表面形状偏差[サジッタ偏差及びイレギュラリティの両方を含む(JIS B 0091の3.2.3参
照)。]の最大高低差(PV)を公差として指示する方法は規定しない。このような指示が必要な場合には,
その情報は,例えば,“全表面形状偏差は0.25波長以下である”,又は,“全表面形状偏差は150 nm以下で
ある”のように図面に注記として指示する。
注記 このような指示は,例えば,干渉計のオプティカルフラットに対し有効である。

5.4 位置

  位置は,該当面への引出し線によって指示する。また,偏心公差及び表面欠陥許容値も併せて指示する。
この指示の例は,JIS B 0090-1の附属書Aを参照。
レンズ素子に対しては,上記指示の代わりに,JIS B 0090-10に従って表で指示することもできる。
二つ以上の光学素子が接合(又は,オプティカルコンタクト)されることになるとき,個々の素子に指
示した表面形状公差は,特記のない限り接合(又は,オプティカルコンタクト)後の光学的部分組立部品
の各面にも適用する(JIS B 0090-1の4.8.3参照)。

6 公差指示の例

  この規格による公差指示の例及びその説明は,次による。
例1 3/3(1)
サジッタ偏差の公差は,3本である。イレギュラリティは,1本以下である。
例2 3/5(─) MSi<0.05
サジッタ偏差の公差は,5本である。イレギュラリティと回転対称なイレギュラリティに対
する特定の公差は,指示しないが,イレギュラリティのrms値は,0.05本未満である。
例3 3/3(1/0.5);λ=632.8 nm (allφ20)
サジッタ偏差の公差は,3本である。全イレギュラリティは,1本以下である。回転対称な
イレギュラリティは,0.5本以下である。これらの公差は,直径20 mmの被検領域が光学的
有効範囲内のいずれの位置にあっても適用する。すべての面形状偏差を規定する波長は,λ=
632.8 nmである。
注記 ナノメートル表示の場合 : 3/949.2 nm(316.4 nm/158.2 nm)(allφ20)
例4 3/─(1)
サジッタ偏差の公差は指示しないが,曲率半径の公差は,曲率半径表示方式で指示する。全
イレギュラリティは,1本以下である。
注記 曲率半径の公差を指示しない場合は,JIS B 0090-11の表1を適用する。
例5 3/─RMSt<0.07;RMSa<0.035;λ=405 nm
サジッタ偏差,イレギュラリティ,及び回転対称なイレギュラリティについての公差は指示
しないが,曲率半径の公差は,曲率半径表示方式で指示する。しかし,面を望ましい理論面と
比較するときは,全rms及びrms回転非対称なイレギュラリティは,それぞれ0.07本及び0.035
本未満でなければならない。すべての面形状偏差を規定する波長は,λ=405 nmである。

――――― [JIS B 0090-5 pdf 6] ―――――

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B 0090-5 : 2010 (ISO 10110-5 : 2007)
注記 曲率半径の公差を指示しない場合は,JIS B 0090-11の表1を適用する。
例6 3/600 nm (300 nm/150 nm) (allφ20)
サジッタ偏差の公差は,600 nmである。全イレギュラリティは,300 nm未満でなければなら
ない。回転対称なイレギュラリティは,150 nm未満でなければならない。これらの公差は,直
径20 mmの被検領域が光学的有効範囲内のどこの位置にあっても適用する。

――――― [JIS B 0090-5 pdf 7] ―――――

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B 0090-5 : 2010 (ISO 10110-5 : 2007)
附属書A
(参考)
サジッタ偏差の公差と曲率半径の公差との関係
比 刀一到 は,曲率半径寸法公差に相当するしまの最大許容本数Nは,次の式による。
2
2ΔR d
N 1 1
λ 2R
比d/Rが小さい場合は,この式の近似式は,次の式による。
2
d ΔR
N
2R λ
ここに, R : 曲率半径
ΔR : 曲率半径寸法公差
d : 被検領域の直径
λ : 波長(通常546.07 nm)
参考文献 [1] JIS B 0090-11 光学素子及びシステム用の製図手法−第11部 : 公差表示のないデータ
注記 対応国際規格 : ISO 10110-11:1996,Optics and photonics−Preparation of drawings for
optical elements and systems−Part 11 : Non-toleranced data(IDT)
[2] JIS B 0090-12 光学素子及びシステムの製図手法−第12部 : 非球面
注記1 対応国際規格 : ISO 10110-12:1997,Optics and optical instruments−Preparation of
drawings for optical elements and systems−Part 12: Aspheric surfaces(IDT)
注記2 ISO 10110-12は,2007年に改正版が発行されている。
ISO 10110-12:2007,Optics and photonics−Preparation of drawings for optical
elements and systems−Part 12 : Aspheric surfaces
[3] ISO/TR 14999-2,Optics and photonics−Interferometric measurement of optical elements and
optical systems−Part 2:Measurement and evaluation techniques
[4] Born,M. and Wolf,E.,Principles of Optics,Pergamon press,Oxford-New York,1975
[5] Malacara, D. ed. , Optical Shop Testing, Wiley, New York, 1978.
[6] Marchal, A. Revue. d'Optique.26, p.257,1947

JIS B 0090-5:2010の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 10110-5:2007(IDT)

JIS B 0090-5:2010の国際規格 ICS 分類一覧

JIS B 0090-5:2010の関連規格と引用規格一覧