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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
注記 記号110は,表1参照。
図1−床上形横中ぐりフライス盤
表1−名称(図1参照)
記号 名称 対応英語(参考)
1 ベッド bed
2 コラムベース column base
3 主軸頭 spindle head
4 ラム ram
5 コラム column
6 主軸 spindle
7 固定テーブル(工作物定盤) fixed table
8 テーブルベッド table bed
9 回転テーブルサドル rotary table saddle
10 回転テーブル rotary table
注記 対応国際規格に記載されているフランス語及びロシア語は,削除した。
5 主軸頭及びテーブルに関する特記事項
5.1 主軸頭
様々な種類の主軸頭の例については,図2を参照するのが望ましい。関係する要素の名称を表2に示す。
面板は,一般に半径方向の面削りスライドをもっており,多くの場合は附属品になる。関係する幾何精
度試験は,附属書Bに規定する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 6] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
a) 中ぐりフライス主軸頭 b) 面板及び面削りスライド c) ラム形主軸頭
(U軸)付き主軸頭
注記 記号15は,表2参照。
図2−主軸頭の種類
表2−名称(図2参照)
記号 名称 対応英語(参考)
1 中ぐり主軸 boring spindle
2 フライス主軸 milling spindle
3 面板 facing head
4 面削りスライド(U軸) facing head slide
5 ラム ram
注記 対応国際規格に記載されているフランス語及びロシア語は,削除した。
5.2 テーブル
多くの場合,床上形横中ぐりフライス盤は,固定テーブル(工作物定盤)及び直進運動·回転運動が可
能な移動テーブルをもつ。
テーブルの回転運動は,次の目的のために使用してもよい。
a) 工作物の角度位置決め
b) フライス削り作業を行うための回転切削送り
c) 旋削作業を行うための回転切削送り
6 一般事項
6.1 測定単位
この規格では,長さ,長さの偏差及び許容値は,ミリメートル(mm)で表す。角度は,度(°)で表
し,角度の偏差及び許容値は,通常,長さの比(例えば,0.00x/1 000)で表すが,場合によっては,マイ
クロラジアン(μrad)又は秒(″)で表してもよい。ただし,これらの間には次の関係がある。
0.010/1 000=10 μrad≒2″
6.2 JIS B 6190規格群の参照
この規格を適用するに当たって,特に試験前の機械の据付け,主軸及び他の運動部品の暖機運転,測定
方法の説明,及び測定器の推奨精度については,JIS B 6190-1:2016による。
この規格には,JIS B 6190-3に基づく熱影響の試験は含まれていない。熱影響の試験は,JIS B 6336-10
を参照。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 7] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
各試験事項の測定手順欄には,その試験に関係するJIS B 6190-1:2016,JIS B 6190-2:2016又はJIS B
6190-7:2019の箇条及び細分箇条番号を併せて示す。
6.3 試験の順序
この規格に示す試験の順序は,実際の試験の順序を決めるものではない。取付け又は読取りが容易にな
るように試験はどのような順序で行ってもよい。ただし,角度偏差は,真直度測定に影響することが想定
される。したがって,真直度測定を行う前に角度誤差の測定に関連する試験を行うことが望ましい。
6.4 実施する試験
機械を試験するとき,必ずしもこの規格に示した全ての試験を行う必要がないか又は可能でないことも
ある。この試験が受渡しのために必要なとき,使用者は,製造業者との協定に基づいて関心のある機械の
構成要素及び/又は特性に関係する試験を選択してもよい。JIS B 6190-1:2016のA.6は,第一軸及び第二
軸の選択並びに関連する試験に関する有益な情報を提供している。実施する試験は,機械を発注するとき
に明確にしておかなければならない。
6.5 測定器
この規格の試験事項の測定器欄に示す測定器は,例として示したものである。同じ量が測定でき,かつ,
測定の不確かさが同等又はそれ以下の他の測定器を使用してもよい。測定の不確かさと許容値との関係に
ついて記載したJIS B 6190-1:2016の箇条5を参照しなければならない。
測定器として“ダイヤルゲージ”と記載してある場合は,該当する試験に適用可能なときは,通常の目
盛式のダイヤルゲージだけでなく,デジタル式ダイヤルゲージ,電気マイクロメータ,リニアスケール式
デジタル変位計,又は非接触変位計をも意味する。
同様に,測定器として“直定規”と記載してある場合は,花こう岩,セラミックス,鋼,鋳鉄製の直定
規だけでなく,直角定規,円筒スコヤ,ます形ブロック,又はT溝若しくは他の基準面に適合するように
製作した直線基準をもつ特殊かつ専用の基準器も意味する。
また,“直角定規”と記載してある場合も,同様に花こう岩,セラミックス,鋼,又は鋳鉄製の直角定規
だけでなく,円筒スコヤ,ます形ブロック,又は直角基準をもつ特殊かつ専用の基準器をも意味する。
“3Dプローブ”と記載してある場合は,基準球の中心位置の変化を測定するための三つの変位計を組み
込んだ測定器を意味する。この測定器及び基準球は,プログラムした工具経路に沿って一緒に移動する。
6.6 ソフトウェア補正
幾何誤差,位置決め誤差,輪郭誤差及び熱変形の補正をするソフトウェア機能が組み込まれている場合
には,試験中にこれらの補正機能を使用するかどうかは,例えば,幾何誤差のソフトウェア補正の有無に
かかわらず,工作機械の用途を考慮して受渡当事者間の協定によるのが望ましい。ソフトウェア補正を使
用した場合は,そのことを試験報告書に記載しなければならない。
なお,ソフトウェア補正を使用した場合は,試験を行うときに幾つかの軸を固定することができないこ
とに留意しなければならない。
幾何誤差の数値補正に関する情報は,ISO/TR 16907参照。
6.7 最小許容値
受渡当事者間の協定に基づいて,箇条7及び附属書Bに記載する試験において,測定長さと異なる長さ
に対する許容値を設定することは可能である。ただし,許容値の最小値が0.005 mmであることを考慮し
なければならない。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 8] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
7 幾何精度試験
7.1 直進軸の真直度誤差及び角度誤差
目的及び試験条件 G1
コラム運動(X軸)の真直度誤差の試験
a) 垂直XY面内で(EYX)
b) 水平ZX面内で(EZX)
測定方法図
X Y Y
+X
Z X Z
3 3
+X -X
4 4
-X
2
1
a)及びb) b)だけ
記号説明
1 アライメント望遠鏡
2 反射鏡
3 測微顕微鏡
4 鋼線
許容値 測定値
測定長さ a)
≦5 000 ≦10 000 ≦15 000 ≦20 000 b)
a) 0.07 0.14 0.21 0.29
b) 0.06 0.11 0.16 0.21
測定長さが20 000を超える場合,その許容値は受渡当事者間の協定による。
測定器
光学式測定器,及びb)だけにおいては,測微顕微鏡及び鋼線
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.2.2.1及び8.2.2.3参照。
a) 鋼線は,たわみを生じるため,この測定には使用しない方がよい。アライメント望遠鏡の光軸は,コラム運動
(X軸)と平行に固定テーブル(工作物定盤)上に定置してもよい。そうしない場合は,測定値に平行度の狂
いを考慮しなければならない。
アライメント望遠鏡の反射鏡は,主軸を固定できる場合は,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,
主軸頭に取り付ける。
b) 測微顕微鏡は,主軸を固定できる場合は,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,主軸頭に取り付ける。
a)及びb)について,測定は,移動に沿って少なくとも六つの位置で500を超えないピッチで等間隔に行わなけれ
ばならない。
測定は,主軸を引っ込めた状態でラムの移動範囲の中央で行わなければならない。そうでない場合は,測定位置
を報告しなければならない。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 9] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
目的及び試験条件 G2
コラム運動(X軸)の角度誤差の試験
a) Y面内で(ECX)(ピッチ)
b) Z面内で(EAX)(ロール)
c) X面内で(EBX)(ヨー)
測定方法図
X X
1 Z 2 4 3 Z
+X +X
-X -X
a)及びb) c)
記号説明
1 基準用精密水準器
2 測定用精密水準器
3 反射鏡
4 オートコリメータ
許容値 測定値
a),b)及びc) a)
X≦4 000 0.04/1 000 b)
X>4 000 0.06/1 000 c)
部分許容値 : 測定長さ500について0.02/1 000
測定器
a) 精密水準器,レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 精密水準器
c) レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
測定手順
JIS B 6190-1:2016の3.4.16及び8.4参照。
測定用精密水準器又は反射鏡は,ラム上に定置しなければならない。
a) 軸方向で,ECX(ピッチ)(光学式測定器は,垂直面内に設置)
b) 軸方向で,EAX(ロール)
c) 水平面内で,EBX(ヨー),(光学式測定器を水平面内に設置)
水準器を使用する場合には,基準用精密水準器は,固定テーブル(工作物定盤)上に定置し,ラムは,移動範囲
の中央(Z軸)に置かなければならない。X軸の運動が,固定テーブル(工作物定盤)又は回転テーブルのベッド
のどの部分に角度変位を引き起こすかを確認するために,コラムをあらかじめ数回運動させて,固定テーブル(工
作物定盤)上の異なる位置で基準用精密水準器を用いて測定する。後者の場合,二つの角度変位の差を測定し,そ
れを記録する。
a),b)及びc)について,測定は,移動に沿って少なくとも六つの位置で,500を超えないピッチで等間隔に行わな
ければならない。
測定した位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 10] ―――――
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